一种光学加工磨头受力状态监测装置，涉及光学冷加工技术领域，本发明提出一种光学加工磨头受力状态监测装置，为保证加工质量提供必要的手段，该装置包括显示元件、信号传输系统、3个测力传感器、连接件、框架、电源、3个波纹管、磨头座和磨头，所述磨头...

一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置，该装置用于真空室内的航天材料样品进行空间环境模拟辐照后，不改变材料样品状态及真空环境，直接对材料样品进行光学透射率，反射率及漫反射率测量，该装置包括光源部分和样品室部分，光源部分包括第...

一种能量可调的红外目标模拟系统，属于光学技术领域，涉及一种宽波段、能量连续可调的红外目标模拟系统，包括：黑体1，能量光阑2，照明镜头3，红外匀光系统4，红外目标5，投影镜头6，黑体1发出的红外辐射，经过能量光阑2，被照明镜头3准直后照射...

一种基于离轴反射结构的宽波段红外投影系统，属于光学技术领域，解决了传统红外投影系统，存在透射式红外工作波段单一、反射式结构视场小中心遮拦的问题。本发明包括：红外目标光源1，折叠反射镜2、三镜3、次镜4和主镜5。红外目标源1发出红外辐射，...

基于卡塞格林结构的高倍太阳能聚光镜阵列系统，属于太阳能光伏发电技术应用领域，目的是提供基于卡塞格林结构的高倍太阳能聚光镜阵列系统，它凭借聚光镜口径的仿生学结构，实现了聚光镜间无缝阵列分布；该系统包括长方体底座和多个口径为正六边形的基于卡...

激光起爆器反射率测试仪涉及激光起爆器光窗口特性的测量，该测试仪包括：激光发生器，该测试仪包括：单片机系统、光纤分路器、第一光电探测器和第二光电探测器；单片机系统分别与激光发生器、第一光电探测器和第二光电探测器连接；光纤分路器与激光发生器...

一种相控阵超声聚焦流体振动抛光装置属于光学冷加工领域，该装置包括主控制器、信号接收与采集模块、超声发射模块、超声相控阵换能器和装有抛光液的敞口容器。抛光前，先由主控制器控制超声发射模块驱动超声相控阵换能器对工件位置进行扫描，确定工件位置...

本发明属于液晶材料制备领域，涉及一种用于液晶波前校正器的快速响应液晶材料及制备方法。其特征是将烷基联苯基异硫氰酸酯、烷基三联苯基异硫氰酸酯、烷基二苯乙炔基异硫氰酸酯、烷基苯基二苯乙炔基异硫氰酸酯等八种化合物按照一定的重量百分比进行混配，...

子孔径拼接检测非球面调整误差补偿方法涉及光学检测领域，该方法包括如下步骤：设定干涉仪，使其参考球波前的曲率半径与待测非球面中心区域的最接近球面半径吻合；调整干涉仪与待测非球面的相对位置关系，使干涉仪标准球面波前对准非球面待测区域；通过模...

一种多圈绝对式双组读数组合光电轴角编码器属于光电测量技术领域，该编码器包括：主轴、一级发光板、一级码盘、一级狭缝、一级接收板、放大电路、整形与锁存电路、模数转换电路和数据处理电路，二级主轴、二级发光板、二级码盘、二级狭缝和二级接收板；主...

同口径共光路光束发射与跟瞄系统，涉及光电对抗领域，解决现有光电对抗装置采用跟瞄装置与发射装置独立设计，结构部件较多，导致在环境变化时两者的光路平行由于存在不同结构变形而出现平行性效果差，进而使跟瞄指示的目标位置和激光束打击的目标位置便出...

光栅线位移传感器指示光栅间隙检测装置，属于光电测量技术领域，为解决现有光栅线位移传感器中指示光栅间隙检测时判断不准确，效率低的问题，本发明装置包括间隔反射玻璃、光栅滑架、指示光栅、光源、准直物镜、显微物镜和CCD摄像头，所述光源发出的光...

光栅线位移传感器，属于光电测量技术领域，为了提高现有光栅线位移传感器的测量精度，本发明光栅线位移传感器，包括：滑架体、压紧弹簧、滑轮、半球头小轴、滑架、销轴、五个滚动轴承、主光栅和大头螺杆，所述滑架体与压紧弹簧的一端通过大头螺杆固定成一...

指示光栅的定位粘接装置，属于光电测量技术领域，为在指示光栅粘接到指示光栅滑架前，方便准确地对指示光栅进行定位，该装置包括：支撑机构、CCD、物镜、导轨机构、左压针、右压针、调节机构、光源、指示光栅和主光栅，所述CCD下端连接物镜；所述导...

绝对位置测量装置，属于光电测量技术领域，为了解决现有绝对式测量中存在的抗污染能力差，对光学系统要求高的技术问题，本发明装置包括：保护介质、绝对位置条纹、发光器、凸透镜、光电传感器和位置读出模块，所述绝对位置条纹设置在保护介质内部，所述绝...

本发明涉及一种光栅线位移测量方法及测量装置，该方法首先使扫描单元相对于标尺光栅在测量方向上以设定间隔移动，每移动到一个测量位置，信号处理单元计算出位置原始测量值，同时利用激光测长干涉仪得到位置精确测量值，并由此得到测量误差数据；然后基于...

基于微光学阵列元件的二维位移测量装置，涉及一种基于微光学元件的二维位移测量装置，解决现有二维位移测量中，需要两套独立测量系统，导致体积较大的问题，包括激光器、扩束镜、反射镜、二维参考微光学阵列元件、二维测量微光学阵列元件、聚焦透镜和二维...

光栅尺标尺光栅铣磨面直线度误差的非接触自动检测装置，涉及标尺光栅铣磨面直线度误差的非接触自动检测装置，解决现有采用接触式测量光栅尺标尺光栅的铣磨面直线度时，由于存在测量误差，导致检测数据不准确的问题，LED光源发出的光经过聚光镜聚光后，...

本发明涉及一种绝对位置测量装置，该装置的光源发出的平行光将编码单元的位置编码信号投影在光探测器上；光探测器的线阵A和线阵B同时扫描编码单元的同一组位置编码信号；线阵A获得的A路位置编码信号由信号处理单元的A路信号采集模块采集，再由A路位...

一种光学元件面形误差的高精度测试装置和方法，涉及光学测试技术领域，该装置成本低廉，能够快速简便的进行测量和对自身的测量误差进行校准，测量精度高，对测量环境的要求相对宽松。该装置和方法将相位复原方法和点衍射干涉仪的原理融合在一起。采用小孔...