一种电路，包括：随机数发生器，其被配置为生成随机数；哈希电路，其被配置为模拟可以将所述随机数转换为哈希值的哈希函数；以及检索电路，其被配置为使用所述哈希值从所述电路接收到的响应信号中检索一个或更多个配置掩码。所述响应信号由计算设备基于所...

随机数发生器包括环形发生器和一个或更多个基于反相器的环形振荡器。一个或更多个基于反相器的环形振荡器被配置为在多个位置处将比特注入环形发生器中。如果有多于一个的基于反相器的环形振荡器，则基于反相器的环形振荡器可以具有不同数量的反相元件，并...

本发明提供了一种用于监测生产系统的可操作性的设备，该设备包括：‑输入单元，其被配置为输入所述生产系统的生产相关数据，‑映射引擎，被配置为根据给定的映射定义将与生产相关的数据映射到第一知识图的实例数据，‑第一验证单元，被配置为通过声明性约...

哈希电路被配置为模拟哈希函数，哈希函数能够将随机数转换为哈希值。哈希电路包括组合电路和环形发生器，组合电路的输入端接收随机数的比特，环形发生器被配置为通过秘密密钥初始化，并被注入来自组合电路的输出的比特，并在预定数量的时钟周期后输出哈希...

提供了一种用于集成电路的方法，该集成电路包括以片上系统(SoC)布置的多个互连子块。该方法包括：响应于集成电路上的事件，将消息从第一子块传输到多个互连子块中的至少一个子块；以及将信号从第一子块传输到多个互连子块中的该至少一个子块。信号包...

描述一种从混合晶格生成部件模型的计算机实现的方法。混合晶格的分段标量域函数h(p)被评估为行进立方体算法的一部分。远离任何混合，f(p)＝0和g<subgt;2</subgt;(p)＝0是相同的等值面，并且远离任何凸形混合，...

提供了一种以片上系统(SoC)布置的方式包括至少两个互连的子块的集成电路，以及一种用于在集成电路中传输数据的方法。方法包括：传送表明第一子块准备好将数据传送到第二子块的第一信号；接收表明第二子块准备好从第一子块接收数据的第二信号；以及经...

描述一种从混合晶格生成部件模型的计算机实现的方法。混合晶格的分段标量域函数h(p)被评估为行进立方体算法的一部分。远离任何混合，f(p)＝0和g(p)＝0是相同的等值面，其中f(p)是未混合晶格的域函数，并且g(p)是混合晶格的域函数。...

一种方法包括：将预先确定的DC电压值应用于模拟或混合信号电路设计的模拟输入(710)；将针对基于所述电路设计制造的电路的基于扫描的结构测试而生成的多个比特值集合、在多个连续时间间隔中的每个时间间隔内的一个比特值集合应用于与或待与所述电路...

一种计算系统，其可以解析物理验证文件以识别要在描述集成电路的布局设计上执行的物理验证操作。该计算系统可以将对应于布局设计的输入数据划分为多个非均匀尺寸的数据图块，将数据图块与计算系统的处理核心并行处理的处理任务相关联，以及基于数据图块的...

公开的技术的各方面涉及用于实现光学邻近校正的技术。布局设计中的锚点可以被指定为较重要的或较不重要的。对多个区域中的每一个区域执行光学邻近校正迭代，以通过对较重要的锚点与较不重要的锚点进行不同方式的处理(例如通过不同的加权或通过动态地改变...

本发明涉及管理app，如开发app的用户界面、方法和系统；对于app的改进管理，提出了一种计算机实现的方法，包括：·向用户提供app开发平台的app开发用户界面(UI)以开发app；·提供表征app的app UI的多种属性的多个UI参数...

本申请公开了一种设计验证系统(310)，其提取与库设计单元文件相关联的时序信息并且通过以下步骤来静态地分析所提取的时序信息以识别至少一个时钟信号(500)：识别所提取的时序信息中的一个或多个候选时钟信号；针对候选时钟信号中的每一者在所提...

一种实现物理验证工具的计算系统能够从半导体布局设计中提取描述集成电路的单元，基于所提取的单元相对于集成电路的目标设计的大小的大小来识别所提取的单元中的一者或多者对应于用于验证的候选单元，并且修改半导体布局设计以去除不与候选单元相对应的集...

一种用于确定一个或多个无线电数据分组(10)的时序精度的方法，该方法包括以下步骤：生成激励数据(20)，激励数据(20)包括无线电数据分组(10)和用于在空中传输无线电数据分组(10)的参考时间(T_Ra)，将激励数据(20)存储在测试...

计算系统(100,700)可以包括顶出方向确定引擎(110)，其被配置为确定注塑模具设计的顶出方向，包括通过：确定注塑模具设计的候选顶出方向组(210)，包括基于表示待通过注塑成型设计制造的产品的对象(220)的最小边界盒(230)确定...

一种用于确定一个或多个无线电数据分组(10)的时序精度的方法，该方法包括以下步骤：由测试装置(1)针对在第一无线电设备(2)的天线接口(Ra)处接收的一个或多个无线电数据分组(10)记录参考时间(TRa)；由该测试装置(1)基于参考时间...

系统和方法可以支持系统设计违反的DRC前检测。一种方法可以包括：访问集成电路(IC)设计；访问用于电路制造过程的规则集；以及访问检查前配置文件。检查前配置文件可以包括检测IC设计中的系统设计违反的配置数据，并且系统设计违反包括在IC设计...

本申请公开了一种计算系统，该计算系统实现可靠性验证工具以识别布局设计的描述集成电路的部分，该集成电路包括受害晶体管和攻击晶体管，该受害晶体管具有连接到攻击晶体管的栅极。可靠性验证工具可以提取用于受害晶体管和攻击晶体管之间的连接的电阻网络...

计算系统(100)可以包括被配置为访问物理环境的全景点云图像(210，220)的图像访问引擎(108)。计算系统(100)还可以包括环境位置感知文本引擎(110)，其被配置为将所述全景点云图像(210，220)转换为替代表示(230)以...