本实用新型涉及一种新型IC测试板锁紧机构，包括装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所...

本发明公开了一种仓储管理系统中的表单流程以及审核数据的显示方法，可根据用户要求动态生成可视化的流程详细信息即审核数据。其中包括数据沟通模块、流程数据处理模块、表单数据修改和项目变动的生成模块、用户界面模块。通过上述功能模块，用户可以迅速...

本申请涉及集成电路测试技术领域，公开一种探针卡锁紧装置及测试系统，该探针卡锁紧装置包括：探针塔，探针塔安装于测试头一端，探针塔包括弹簧探针；探针卡，探针卡用于与弹簧探针接触；下压环，下压环的下方圆周均匀排列设置有第一滑块，第一滑块用于在...

本发明提供基于预加载模式的DPS模块控制方法、系统，方法包括：DPS模块上电后，进入预加载模式；所述预加载模式包括：从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元，以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。本发明能够在D...

本实用新型提供一种适用于集成电路测试机的夹持装置,包括面板固定框架，用于固定安装待测试面板，面板固定框架的两侧设置有凸轮从动轴承；夹持台，夹持台包括基板和活动夹持件，活动夹持件设置与基板的一侧，活动夹持件包括两个下压板和螺杆调节组件；两...

本申请提供一种适用于集成电路测试机的夹持装置,包括面板固定框架，用于固定安装待测试面板，面板固定框架的两侧设置有凸轮从动轴承；夹持台，夹持台包括基板和活动夹持件，活动夹持件设置与基板的一侧，活动夹持件包括两个下压板和螺杆调节组件；两个下...

本发明公开了一种ATE的器件供电单元，包括控制模块、斜坡时钟信号发生器、数据寄存器和电压输出模块，斜坡时钟信号发生器产生斜坡时钟信号给控制模块；控制模块根据上位机发出的斜坡电压生成指令，加载斜坡时钟信号分频码对斜坡时钟信号进行分频生成第...

本实用新型涉及一种IC测试板对齐锁紧机构，包括固定于母板上的框架及与功能板固定连接的面板；面板上设有多个通孔，功能板上的母座穿过且定位于通孔内；框架及面板上设有相互配合的定位孔及定位柱；框架上设有导向部，面板上设有下压板，下压板上设有倾...

本发明涉及集成电路自动测试行业，尤其涉及一种基于集成电路自动测试系统的图样编辑工具和方法。本工具包括：窗口分割模块和控制模块；窗口分割模块用于在图样的编辑界面上设置第一显示窗口、第二显示窗口、第三显示窗口；控制模块用于读取图样文件，并将...

本发明公开了一种STDF文件的读写方法及装置，其中方法包括：根据预设的存储大小在内存中定义多个内存块及对应的内存块信息；获取文件中的数据信息；根据数据信息获取每个数据对应的部分数据标识，并依次判断每个数据对应的部分数据标识是否存在内存中...

本发明公开了一种通讯测试方法、介质、设备及系统，其中该方法包括：芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接；仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将数据信息发送给芯片测试机；芯片测试机根据数据信息生成对应的虚...

本实用新型涉及电子元器件测试技术领域，特别涉及一种用于高分子聚合物正系数温度元件的测试板，包括电路基板、测试连接单元和PPTC连接板；测试连接单元包括无触点开关元器件和ZIF测试座；ZIF测试座的一端与可程序直流电源供应器的一输出端相连...

本发明涉及电子元器件测试技术领域，特别涉及一种用于高分子聚合物正系数温度元件的测试装置，包括微控制器、人机交互界面组件、可程序直流电源供应器、通讯模块、分流器、A/D模块以及PPTC测试组件；PPTC测试组件包括电路基板、设于电路基板上...