通讯测试方法、介质、设备及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种通讯测试方法、介质、设备及系统，其中该方法包括：芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接；仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将数据信息发送给芯片测试机；芯片测试机根据数据信息生成对应的虚拟晶圆图像，并向仿真探针台发送开始测试指令；仿真探针台接收到开始测试指令后，对待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给芯片测试机，以便芯片测试机在对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果；由此，不仅降低了开发成本及加速导入生产，同时还大大提高了仿真测试的效果。

【技术实现步骤摘要】
通讯测试方法、介质、设备及系统
本专利技术涉及集成电路自动测试
，特别涉及一种通讯测试方法、一种计算机可读存储介质、一种计算机设备以及一种通讯测试系统。
技术介绍
相关技术中，在芯片研发生产到封装的过程中，芯片测试都是不可或缺的一环，而探针台和测试机则是芯片测试流程中的关键设备。目前，在测试机的研发过程中，经常需要探针台进行一些仿真测试，以验证测试机的程序是否准确，然而市面上的探针台不仅价格昂贵，而且品牌繁多，很难与单一的测试机进行适配；而且，探针台的操作专业性较强，对于软件开发人员来说并不是必备的技能，即使可以操作，每次测试程序也会费时费力，影响程序开发效率；另外，采用测试机同时模拟探针台进行仿真测试时，可以构建出多种类，可扩展的仿真探针台系统，但是，无法测试仿真探针台与测试机的通讯问题，从而大大降低了测试效果。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种通讯测试方法，能够模拟探针台进行仿真测试，以降低开发成本及加速导入生产，同时能够对测试机和探针台之间的通讯关系进行测试，从而大大提高了仿真测试的效果。本专利技术的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。本专利技术的第三个目的在于提出一种仿真探针台计算机设备。本专利技术的第四个目的在于提出一种通讯测试系统。为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种通讯测试方法，包括以下步骤：芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接；所述仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将所述数据信息发送给所述芯片测试机；所述芯片测试机根据所述数据信息生成所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像，并向所述仿真探针台发送开始测试指令；所述仿真探针台接收到所述开始测试指令后，对所述待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给所述芯片测试机，以便所述芯片测试机在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果。根据本专利技术实施例的通讯测试方法，首先通过通用接口总线建立芯片测试机与仿真探针台的通讯连接，接着通过仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将数据信息发送给所述芯片测试机，然后通过芯片测试机根据数据信息生成待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像，并向仿真探针台发送开始测试指令，最后通过仿真探针台接收到开始测试指令后，对待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给芯片测试机，以便芯片测试机在待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果；由此，能够模拟探针台进行仿真测试，达到降低开发成本及加速导入生产的目的，同时能够对测试机和探针台之间的通讯关系进行测试，从而大大提高了仿真测试的效果。另外，根据本专利技术上述实施例提出的通讯测试方法还可以具有如下附加的技术特征：可选地，芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接，包括：所述芯片测试机发送连接测试信息给所述仿真探针台，以便测试所述芯片测试机与所述仿真探针台是否建立连接；所述芯片测试机在确认建立连接后，将所述芯片测试机的界面宽度发送给所述仿真探针台，以便所述仿真探针台根据所述芯片测试机的界面宽度自动调整所述仿真探针台的界面宽度，以建立通讯连接。可选地，所述数据信息包括待测试虚拟晶圆的宽度、高度、测试走向、切片走向和测试速度。可选地，所述芯片测试机在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果，包括：所述仿真探针台对所述待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，以及根据每个虚拟测试点的不同测试结果对所述每个虚拟测试点进行对应着色，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给所述芯片测试机；所述芯片测试机根据接收到的所述仿真探针台每次测试后对应的虚拟测试点位置和测试结果在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上对应的虚拟测试点进行着色，以便所述芯片测试机对所述仿真探针台的测试结果进行同步显示。可选地，所述芯片测试机根据所述测试信息判断接收到的虚拟测试点数量达到待测试虚拟测试点总数时，发送测试结束指令给所述仿真探针台，以结束测试。为达到上述目的，本专利技术第二方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有通讯测试程序，该通讯测试程序被处理器执行时实现如上述的通讯测试方法。根据本专利技术实施例的计算机可读存储介质，通过存储通讯测试程序，以便处理器在执行该通讯测试程序时实现如上述的通讯测试方法，能够模拟探针台进行仿真测试，达到降低开发成本及加速导入生产的目的，同时能够对测试机和探针台之间的通讯关系进行测试，从而大大提高了仿真测试的效果。为达到上述目的，本专利技术第三方面实施例提出了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的通讯测试程序，所述处理器执行所述通讯测试程序时实现如上述的通讯测试方法。根据本专利技术实施例的计算机设备，通过存储器存储可在处理器上运行的计算机程序，以便处理器在执行该计算机程序时，实现如上述的通讯测试方法，能够模拟探针台进行仿真测试，达到降低开发成本及加速导入生产的目的，同时能够对测试机和探针台之间的通讯关系进行测试，从而大大提高了仿真测试的效果。为达到上述目的，本专利技术第四方面实施例提出的一种通讯测试系统，包括芯片测试机和仿真探针台，所述芯片测试机上设置有第一GPIB卡，所述仿真探针台上设置有第二GPIB卡，其中，所述芯片测试机和所述仿真探针台之间通过所述第一GPIB卡和所述第二GPIB卡建立通讯连接；所述仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将所述数据信息发送给所述芯片测试机；所述芯片测试机根据所述数据信息生成所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像，并向所述仿真探针台发送开始测试指令；所述仿真探针台接收到所述开始测试指令后，对所述待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给所述芯片测试机，以便所述芯片测试机在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果。根据本专利技术实施例的通讯测试系统，通过通用接口总线建立芯片测试机与仿真探针台的通讯连接，仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将数据信息发送给芯片测试机；芯片测试机根据数据信息生成待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像，并向仿真探针台发送开始测试指令；仿真探针台接收到开始测试指令后，对待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给芯片测试机，以便芯片测试机在待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果；由此，能够模拟探针台进行仿真测试，达到降低开发成本及加速导入生产的目的，同时能够对测试机和探针台之间的通讯关系进行测试，从而大大提高了仿真测试的效果。可选地，所述数据信息本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通讯测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/n芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接；/n所述仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将所述数据信息发送给所述芯片测试机；/n所述芯片测试机根据所述数据信息生成所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像，并向所述仿真探针台发送开始测试指令；/n所述仿真探针台接收到所述开始测试指令后，对所述待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给所述芯片测试机，以便所述芯片测试机在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种通讯测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接；
所述仿真探针台根据预先设置的数据信息生成待测试虚拟晶圆图像，并将所述数据信息发送给所述芯片测试机；
所述芯片测试机根据所述数据信息生成所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像，并向所述仿真探针台发送开始测试指令；
所述仿真探针台接收到所述开始测试指令后，对所述待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给所述芯片测试机，以便所述芯片测试机在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果。


2.如权利要求1所述的通讯测试方法，其特征在于，芯片测试机通过通用接口总线与仿真探针台建立通讯连接，包括：
所述芯片测试机发送连接测试信息给所述仿真探针台，以便测试所述芯片测试机与所述仿真探针台是否建立连接；
所述芯片测试机在确认建立连接后，将所述芯片测试机的界面宽度发送给所述仿真探针台，以便所述仿真探针台根据所述芯片测试机的界面宽度自动调整所述仿真探针台的界面宽度，以建立通讯连接。


3.如权利要求1所述的通讯测试方法，其特征在于，所述数据信息包括待测试虚拟晶圆的宽度、高度、测试走向、切片走向和测试速度。


4.如权利要求1所述的通讯测试方法，其特征在于，所述芯片测试机在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上同步显示对应的测试结果，包括：
所述仿真探针台对所述待测试虚拟晶圆图像上的每个虚拟测试点进行依次测试，以及根据每个虚拟测试点的不同测试结果对所述每个虚拟测试点进行对应着色，并在每次测试后将对应的虚拟测试点位置和测试结果发送给所述芯片测试机；
所述芯片测试机根据接收到的所述仿真探针台每次测试后对应的虚拟测试点位置和测试结果在所述待测试虚拟晶圆图像对应的虚拟晶圆图像上对应的虚拟测试点进行着色，以便所述芯片测试机对所述仿真探针台的测试结果进行同步显示。


5.如权利要求1所述的通讯测试方法，其特征在于，所述芯片测试机根据所述测试信息判断接收到的虚拟测试点数量达到待测试虚拟测试点总数时，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张朝霖，马喆，
申请(专利权)人：厦门芯泰达集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35