一种新型IC测试板锁紧机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种新型IC测试板锁紧机构，包括装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。本实用新型专利技术提供的一种新型IC测试板锁紧机构，便于拆卸，可用于IC测试板1与测试头3的连接锁紧，并消除锁紧动作对IC测试板1产生的水平分力，有利于提高IC测试板1与测试头3对接锁紧时的精度与稳定性。接锁紧时的精度与稳定性。接锁紧时的精度与稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种新型IC测试板锁紧机构


[0001]本技术涉及集成电路测试
，特别是涉及一种新型IC测试板锁紧机构。

技术介绍

[0002]集成电路自动测试系统(ATE，Automatic Test Equipment)的测试头与受测设备(DUT，Device Under Test)之间的通信，需要通过IC测试板作为媒介。其中，通常使用插针插孔连接器等电连接装置对测试头和IC测试板进行电连接。随着测试需求的不断提高，测试头与IC测试板之间的电连接装置数量也不断增多，连接时所需要的锁紧力达到了数千牛，需要使用专用机构进行锁紧。
[0003]现有的集成电路自动测试系统中，通常使用能将水平运动转化为垂直运动的斜楔机构来完成IC测试板的下压锁紧。但是，斜楔机构动作时，对IC测试板不仅会产生垂直的锁紧力，还会产生一个有害的水平分力，降低锁紧时的精度。所述水平分力通常由定位柱抵消，而定位柱受外力，不仅容易松动，降低定位精度，受力超过强度极限时，甚至会断裂。因此，亟需设计一种新型IC测试板锁紧机构来解决以上问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种新型IC测试板锁紧机构，能够解决现有技术中IC测试板与测试头连接锁紧时锁紧机构会对IC测试板产生水平分力的问题。
[0005]测试头与IC测试板上设置有电连接装置，一种新型IC测试板锁紧机构包括：装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。
[0006]进一步地，所述框架结构上设置有定位孔，所述面板上设置有对应的定位柱。
[0007]进一步地，所述锁紧模块呈“回”字型，所述面板居中设置于所述锁紧模块中间开口，所述锁紧模块和所述面板都是独立地、可拆卸地装配于测试头上。
[0008]进一步地，所述驱动机构包括：正反牙丝杆、活动板，所述活动板设置有丝杆螺母，用于啮合于所述正反牙丝杆左旋螺纹段或右旋螺纹段上，所述活动板具有垂直部，所述第一滑块水平地设置于所述垂直部上；
[0009]所述锁紧模块水平地设置有第二滑块，所述垂直部上水平地设置有第二限位导轨，所述第二滑块与所述第二限位导轨对应配合。
[0010]进一步地，所述第一滑块为第一凸轮从动轴承，所述第二滑块为第二凸轮从动轴承。
[0011]进一步地，所述正反牙丝杆设置有轴承，装配于所述锁紧模块，所述正反牙丝杆端部设置有把手，用于驱动所述正反牙丝杆旋转。
[0012]进一步地，所述锁紧模块两侧相对地设置有两组所述驱动机构，两组所述驱动机构通过联动机构以实现同步运动。
[0013]进一步地，所述联动机构为同步带机构。
[0014]进一步地，所述框架结构两侧相对设置有把手。
[0015]进一步地，所述锁紧模块两侧相对设置有把手。
[0016]本技术技术方案的其他特征和优点将在后续的说明与附图中加以阐述。
附图说明
[0017]图1本技术的IC测试板锁紧机构一实施例的框架结构的示意图；
[0018]图2本技术的IC测试板锁紧机构一实施例的锁紧模块和面板的结构示意图；
[0019]图3本技术的IC测试板锁紧机构一实施例的锁紧模块内部结构示意图，其中移除了上壳；
[0020]图4本技术的IC测试板锁紧机构一实施例的驱动机构结构示意图；
[0021]图5本技术的IC测试板锁紧机构一实施例的驱动机构未动作前示意图；
[0022]图6为本技术的IC测试板锁紧机构一实施例的驱动机构动作后示意图；
[0023]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0024]1、IC测试板；11、第一电连接装置；2、框架结构；21、加强筋板；22、定位孔；23、外框架；231、第一限位导轨；231a、下开口部；231b、上开口部；231c、倾斜部；24、框架把手；3、测试头；31、第二电连接装置；4、面板；41、定位柱；5、锁紧模块；51、基座；511、基座侧板；512、基座底板；52、驱动机构；521、正反牙丝杆；522、丝杆螺母；523、活动板；524、第一凸轮从动轴承；525、第二凸轮从动轴承；526、轴承；527、第二限位导轨；528、手柄轮；53、同步带机构；54、锁紧模块把手；H、锁紧行程。
具体实施方式
[0025]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0026]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
[0027]应当理解，在本申请中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0028]应当理解，在本申请中，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“包含A、B
和C”、“包含A、B、C”是指A、B、C三者都包含，“包含A、B或C”是指包含A、B、C三者之一，“包含A、B和/或C”是指包含A、B、C三者中任1个或任2个或3个。
[0029]应当理解，在本申请中，“与A对应的B”、“与A相对应的B”、“A与B相对应”或者“B与A相对应”，表示B与A相关联，根据A可以确定B。根据A确定B并不意味着仅仅根据A确定B，还可以根据A和/或其他信息确定B。A与B的匹配，是A与B的相似度大于或等于预设的阈值。取决于语境，如在此所使用的“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。
[0030]在一实施例中，请参阅图1至图6所示，本实施例提供一种新型IC测试板锁紧机构，用于IC测试板1与测试头3的连接锁紧，IC测试板1下方设置有第一电连接装置11，测试头3上设置有第二电连接装置31。本实施例中，电连接装置为插针插孔式连接器。
[0031]本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构包括框本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，包括：装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。2.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述框架结构上设置有定位孔，所述面板上设置有对应的定位柱。3.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块呈“回”字型，所述面板居中设置于所述锁紧模块中间开口，所述锁紧模块和所述面板都是独立地、可拆卸地装配于测试头上。4.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述驱动机构包括：正反牙丝杆、活动板，所述活动板设置有丝杆螺母，用于啮合于所述正反牙丝杆左旋螺纹段或右旋螺纹段上，所述活动板具有垂直部，所述第一滑块水平地设置于所述垂直部上...

【专利技术属性】
技术研发人员：张朝霖，冼贞明，林建杜，
申请(专利权)人：厦门芯泰达集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：