本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种用于芯片检测的试验盘，一种用于芯片检测的试验盘，包括芯座，所述芯座的内部安装有电池，且芯座的上端安装有电源线，所述芯座的左右两端均安装有试验盘，且芯座的内部安装有内腔，所述内腔的内侧安装有隔板...

本实用新型涉及芯片送料技术领域，尤其涉及一种芯片切换式转料机构，一种芯片切换式转料机构，包括送料盘，所述送料盘的端侧安置有固板，且固板的内部开设有滑槽，所述滑槽的内侧安装有滑条，所述固板的顶端壁穿设有螺钉，且固板远离送料盘一侧安装有中支...

本实用新型涉及载料技术领域，尤其涉及一种芯片检测用载料结构，一种芯片检测用载料结构，包括载料盘，所述载料盘的中部安装有蓄电池，且载料盘的上端安置有上板，所述上板的左下端安置有转轴，且上板的内部开设有滑槽，所述滑槽的内侧安装有滑轨，且滑轨...

本发明涉及一种芯片检测用抗氧化防护型支撑台，包括储物盘，所述储物盘的顶部端壁开设有透气网孔，且储物盘的中部开设有盘纳腔，所述盘纳腔的内侧安装有腔盘，且腔盘的端壁开设有盘纳口，所述腔盘的端壁开设有盘导网孔。本发明的有益效果是：该芯片检测用...

本实用新型涉及存储技术领域，尤其涉及一种芯片存储机构，一种芯片存储机构，包括存储皿，所述存储皿的左右两端壁均开设有滑槽，且滑槽的内侧安装有滑屉，所述滑屉的内部开设有屉腔，且滑屉的端壁开设有屉网孔，所述滑屉的内侧中部安置有垫块，且垫块的上...

本发明公开了一种防止测试资源干扰的集成电路测试方法，该方法包括以下步骤：S1、测试设备准备：检测探针、数据输入模块、中央处理系统、警报器、导线、风箱、检测台、接地线、温度控制器、绝缘薄膜、绝缘胶带、治具和屏蔽罩；S2、测试设备安装与调节...

本实用新型公开了一种集成电路的芯片收纳装置，包括皿体，所述皿体的顶部开设有卡口，且卡口的内侧安装有卡盘，所述卡盘的底端壁开设有盘网孔，且卡盘的内部开设有盘腔，所述皿体的中部开设有穿口，且穿口的内侧安置有穿盘，所述穿盘的内部开设有盘纳腔，...

本实用新型公开了一种芯片检验用防夹损式夹取装置，包括夹座，所述夹座的内部开设有滑槽，且滑槽的内侧安置有夹弹簧柱，所述夹弹簧柱的端部安装有滑座，且滑座的侧端安置有抵板，所述夹座靠近抵板侧端壁开设有卡口，所述抵板的中部端壁开设有板道，且抵板...

本实用新型公开了一种芯片实验组接用清灰装置，包括支架，所述支架的内侧安装有拦架，且拦架的后端壁安置有磁片，所述支架的左右两端均安装有套筒，所述支架的顶端安置有上皿，且上皿的顶部开设有开口，所述开口的内侧安装有透粘机构，所述上皿的左右两端...

本实用新型公开了一种改良吸力的芯片固定结构，涉及芯片固定结构技术领域。本实用新型包括工作平台，工作平台的内侧开设有安装槽，工作平台的顶部且位于安装槽的外侧均匀设置有多个固定机构，固定机构用于对芯片固定，每个固定机构均由第一L型板、蜗杆、...

本实用新型公开了一种芯片的位置校准机构，涉及芯片位置校准技术领域。本实用新型包括矩形固定体，矩形固定体的下部安装有调整机构，调整机构用于调节芯片的位置，调整机构包括矩形连接体、第一电机、第一直齿轮、矩形固定架、齿条、两个第一螺杆、矩形支...

本实用新型公开了一种用于芯片检测的基台，涉及芯片检测技术领域。本实用新型包括基台本体，基台本体内部的中间位置处转动连接有反向螺杆，基台本体的一侧固定有第一电机，且第一电机的输出端与反向螺杆固定连接，反向螺杆外侧的两端均螺纹连接有移动块，...

本实用新型公开了一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，包括基片和台边缠绕架，所述基片的底端壁固定有片活条，且片活条的外侧端安置有外片，所述基片的顶端安装有片上轴，且片上轴的上端安置有轴顶台，所述台边缠绕架安装于轴顶台的内侧中部，且...

本实用新型公开了一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，包括基测台和上密机构，所述基测台的左右两端中部均安装有台测座，且台测座的顶端穿设有连插销，所述上密机构安置于连插销的顶端，所述基测台的中部顶端固定有冲盘。本实用新型通过座弹簧的...

本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，包括PCB底板以及设置于其上的测试座、接口区，所述PCB底板通过定位孔固定在分选机上，所述测试座用于固定待测IC并通过线缆连接所述接口区上的34PIN接口，所述34PIN接口连接...

本实用新型提供一种检验集成电路编带的传送装置，包括平台与轨道，在所述平台两端分别设置一部正反转直流电机，所述正反转直流电机的电机轴上安装带有编带的胶盘，所述胶盘位于轨道的两侧且其编带贴合轨道，还包括CCD摄像头，所述CCD摄像头设置于轨...