本发明公开了一种基于伽马特性的屏校正方法、系统及存储介质。所述方法包括步骤：获取样本屏单校正目标随单校正因子的变化率；给待校正屏写入校正初值，若待校正屏的显示值不收敛于目标值，则进行迭代校正，迭代校正中，根据迭代校正的目标值、样本屏单校...

本实用新型公开了一种检测装置，属于显示屏检测技术领域。所述检测装置包括支撑组件和光源组件。支撑组件包括相机支架和用于搁置产品的底座，相机支架位于底座上，相机支架上具有相机，且相机和底座间隔布置。光源组件包括两个光源支架和多个光源，两个光...

本实用新型公开了一种眼镜夹持机构及眼镜检测治具，其包括用于承载眼镜的夹具底板，所述夹具底板上设置有用于限制眼镜左右移动的限位单元、用于限位眼镜前后移动的夹持单元和用于限位眼镜上下移动的压紧单元，所述限位单元包括两个沿眼镜左右方向布置的眼...

本申请公开了一种分光滤镜轮及自标定的滤镜式成像色度计，该色度计中的光学镜头将输入光聚焦后沿第一光路引导至分光滤镜轮；分光滤镜轮的旋转盘的圆周方向上设置有多个滤光片以及至少一个分光器件；分光器件和滤光片在旋转盘的转动过程中交替置于第一光路...

本实用新型公开了一种用于AR眼镜检测的点灯机构和AR眼镜检测工装，其包括本体部，所述本体部上设置有用于定位微型显示器的限位槽，所述本体部的内部设置有用于吸附微型显示器的真空腔，所述真空腔与所述限位槽连通，所述本体部上设置有与所述真空腔连...

本实用新型公开了一种光源和滤光片兼容切换装置及光学检测设备，其包括安装架，所述安装架上设置有滤镜轮和照明光源，所述滤镜轮包括滤光片轮和用于驱动滤光片轮旋转的动力单元，所述滤光片轮上环形阵列的布置有多个安装孔，所述安装孔上设置有滤光片，其...

本发明于外观检测行业首次提出一种分层的外观检测系统及方法，通过设置用户交互层、数据处理层和执行处理层，将系统分层分级布置，通过用户交互层定义检测需求信息和执行设备信息，便于用户自主配置检测的具体信息；通过数据处理层基于用户的检测需求信息...

本发明提供一种晶粒阵列缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：确定若干取像区域，其中，相邻取像区域间存在重合部分，所述若干取像区域覆盖晶粒阵列；分别对每个取像区域进行拍摄，对拍摄得到的每帧图像进行缺陷检测，得到每帧图像对应的...

本申请涉及一种VR模组检测方法及装置，涉及光学检测领域，该方法包括以下步骤：利用待测VR模组的屏幕显示预设的检测样片；调整第一图像采集装置与待测VR模组的方位，使得第一图像采集装置的检测镜头正对待测VR模组的VR镜头的左眼视野中心点或右...

本发明提供一种基于制程区域的晶粒外观检测方法，包括如下步骤：获取晶圆上的标准晶粒，并对所述标准晶粒进行基于制程的区域划片；通过选取所述标准晶粒的特征点来对所述晶圆上的待测晶粒进行对位；基于所述标准晶粒的不同制程区域提取所述待测晶粒的对应...

本发明公开了一种显示屏亮色度一致性检测方法，包括：通过第一滤镜获取待测显示屏的检测图像，分别得到检测图像上的若干个像素点在第一滤镜下的第一响应值；通过与第一滤镜具有不同透过率曲线的第二滤镜获取待测显示屏的检测图像，分别得到若干个像素点在...

本实用新型公开了一种光谱视角特性测量系统。该系统包括：沿待测光源出射方向依次设置的透镜模块和光谱测量装置，所述透镜模块包括F

本发明公开了一种晶粒排布方案自动生成方法，包括：获取目标晶圆的基础信息，所述基础信息包括：晶圆尺寸、晶粒尺寸、晶粒间距和边缘间距；根据所述基础信息自动生成晶粒排布的UI图形；获取晶粒排布的中心偏移量，并根据所述中心偏移量来调整所述晶粒排...

本发明公开了本发明提供一种用于缺陷检测的样本收集方法、装置和计算机设备，其通过获取第一检测数据，并确定与其对应的用于进行缺陷检测的目标模型；若目标模型输出的缺陷检测结果或对应的置信度满足第一类样本收集预置条件，则将第一检测数据添加至目标...

本申请涉及一种液晶面板检测方法及装置，涉及液晶面板检测技术领域，该方法包括以下步骤：将滤镜轮置于预设的工作区域，将待测产品置于滤镜轮下方；获取待测产品的亮度值，并依据亮度值选定滤镜轮上对应的滤光片；利用驱动件转动滤镜轮，使得待测产品位于...

本申请涉及一种墨色一致性检测装置及方法，涉及光学检测技术领域，该装置包括：水平设置的标定板，其用于盛放待测产品；第一图像采集装置，其间隔设置在标定板的正上方，第一图像采集装置的镜头正对标定板顶面的中心；第二图像采集装置，其间隔设置在标定...

本发明公开了一种晶粒检测样本自动生成方法，包括：获取多个相同类型晶粒的多张晶粒检测图像；根据多张所述晶粒检测图像之间的重叠区域进行图像对位，并获取每个所述晶粒对应的固定区域图像；根据不同所述晶粒之间的所述固定区域图像进行筛选，选取出现次...

本申请涉及一种用于产品画质检测的装置及方法，其具有高亮画面检测工况，其包括成像机构、台板、偏光组件和第一驱动机构，所述成像机构具有一拍摄视角，所述偏光组件用于置于所述拍摄视角，所述偏光组件包括固定偏光片和自转偏光片，所述固定偏光片固定于...

本发明提供一种晶粒阵列缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：获取对晶圆片进行取像得到的晶圆片图像，所述晶圆片上置有晶粒阵列；确定所述晶粒阵列相对所述晶圆片图像的偏转角度，以矫正所述晶粒阵列相对所述晶圆片图像的角度；比较所述...

本发明公开了一种基于多检测图像的晶粒行列定位方法，包括：获取目标晶圆上所有晶粒在检测图像上的像素坐标；获取检测图像上晶粒的周期性信息，根据周期性信息得到相邻晶粒之间的像素坐标差值；根据像素坐标差值分别计算每个晶粒在目标晶圆中的初步行列坐...