同方威视技术股份有限公司专利技术

同方威视技术股份有限公司共有2615项专利

  • 本发明涉及一种扫描装置及其转场方法,其中,扫描装置包括:臂架(1),设有多个探测器,并用于形成检查通道;第一舱体(3),内部设有射线源,并与臂架(1)连接;防护墙(2),与第一舱体(3)或臂架(1)连接,用于对待防护对象进行射线防护;和...
  • 本发明涉及一种扫描装置及其转场方法,其中,扫描装置包括:臂架(1),设有多个探测器,并用于形成检查通道;第一舱体(3),内部设有射线源,并与所述臂架(1)连接;防护墙(2),与所述第一舱体(3)或所述臂架(1)连接,用于对待防护对象进行...
  • 本公开提供一种移动式检查系统和检查方法。移动式检查系统包括可移动装置、辐射检查装置、气体检测装置和控制装置。气体检测装置包括采样检测设备和位置调节机构,采样检测设备包括第一采样器和样本检测部,第一采样器设置于位置调节机构上,在采样位置对...
  • 本公开涉及一种检查装置,包括:第一车体(100)和设置在第一车体(100)中的射线源;第二车体(200)和设置在第二车体(200)上的防护墙;和臂架(400)和设置在所述臂架(400)上的多个探测器;其中,所述臂架(400)分别与所述第...
  • 本公开的实施例提供一种离子迁移谱仪装置。离子迁移谱仪装置包括:离子迁移谱仪、采样装置以及采样和循环气路。采样装置包括固体样品解吸装置和气体采样装置,其中固体样品解吸装置配置成将固体样品处理成包含固体样品的第一混合气体,气体采样装置配置成...
  • 公开了一种太赫兹混频器及其制造方法及包括该混频器的电子设备。根据实施例,该太赫兹混频器包括:腔体,用于分别形成射频输入波导和本振输入波导,以及用于容纳微带线;微带线,通过半导体生长工艺形成在腔体的内侧表面的至少一部分上,微带线分别延伸至...
  • 本公开涉及一种闪烁体反射层制备模具,包括:模具本体,包括可组合和拆卸的多个模具组件;其中,所述多个模具组件能够通过相互组合,形成容置闪烁体裸条(10)的凹槽(32)。本公开实施例能够提高闪烁体反射层的制备效率。
  • 公开了一种太赫兹探测器及其制造方法,该太赫兹探测器包括基底;以及至少一个探测单元,每个所述探测单元均包括:沟道材料,所述沟道材料设置在所述基底上,两个电极,两个所述电极分别与所述沟道材料的纵向方向的两端欧姆接触,和三维石墨烯,所述三维石...
  • 本申请提供了一种图像处理装置及其方法,图像获取模块,被配置为获取太赫兹/毫米波图像、以及在不同于太赫兹/毫米波波段的至少两个光/辐射波段下所成像的具有与太赫兹/毫米波图像相同场景的至少两个图像;图像配准模块,被配置为以太赫兹/毫米波图像...
  • 提供了一种毫米波安检门,包括门主体和顶部毫米波成像系统,所述顶部毫米波成像系统包括设置在所述门主体顶部的毫米波收发天线阵列,所述毫米波收发天线阵列包括至少一个发射天线单元和多个接收天线单元;以及毫米波信号源,所述毫米波信号源与所述毫米波...
  • 本发明涉及一种安全检查控制系统和方法,其中所述安全检查控制系统包括安全检查控制系统,包括依次设置的人证/票核验组件、行包安放感测组件和行包检查组件;其中,所述人证/票核验组件用于采集和核验人员的身份和票据信息,根据核验结果对人员进行拦截...
  • 本发明涉及一种侦查装置、自动侦查设备及侦查方法,其中,侦查装置包括信息获取部件,用于获取目标检查区域的信息;姿态调整机构,用于调整信息获取部件的姿态,以使信息获取部件朝向目标检查区域;旋转机构,用于调整姿态调整机构的角度;和升降机构,用...
  • 本发明公开了一种外置栅控式热阴极阵列电子枪,包括绝缘的阴极底座;灯丝,所述灯丝呈带状,安装在所述阴极底座一侧的表面上;多于一个热阴极发射元件,安装在所述灯丝的背离所述阴极底座的表面上;栅控结构,所述栅控结构包括绝缘的栅控结构主体和设于所...
  • 本实用新型公开了一种基于数字控制的智能自动频率控制设备,包括:移相模块,与第一信号输入端相连,并被配置为从第一信号输入端接收入射波,根据相移参数对入射波进行移相以生成移相信号,并向鉴相模块输出移相信号;以及鉴相模块,与移相模块和第二信号...
  • 本公开的实施例公开了一种用于人体的检查设备。用于人体的检查设备,包括:扫描X射线发生器,配置成能够分别独立地产生用于背散射检测的X射线笔形束和用于透射检测的X射线扇形束,其中X射线笔形束能够扫描一扇形区域,X射线扇形束覆盖一扇形区域;用...
  • 本实用新型涉及一种复合检查设备,该复合检查设备包括多个检查通道和至少一台组合扫描X光机。每一台组合扫描X光机被构造成发出相互独立的一个X射线笔形束和一个X射线扇形束。X射线笔形束适用于对一个检查通道内的待检目标进行背散射扫描。X射线扇形...
  • 本公开提供了一种安检设备及其控制方法,所示安检设备包括:设备本体,所述设备本体上设置有检测空间,所述检测空间用于容纳待测物品;二维(2D)多发多收(MIMO)装置,设置在所述检测空间中,用于向待测物品发送检测信号,并接收来自待测物品的回...
  • 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,极化片转盘、探测器和图形处理装置。极化片转盘可旋转且设置有多个微极化片,且设置在被检对象和聚焦透镜之间或者设置在聚焦透镜和探测器之间,且在极化片转盘旋转的一个预设特定...
  • 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,检测器和图形处理装置,其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间,且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上;检测器,所述检测器包括...
  • 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置,其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间,且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵...