同方威视技术股份有限公司专利技术

同方威视技术股份有限公司共有2610项专利

  • 本公开提供了一种检测对象风险预警方法,可以应用于人工智能技术领域和安保技术领域。该检测对象风险预警方法包括:对待检测图像进行图像特征提取,得到目标框图像特征信息,其中,待检测图像包括检测对象的透视图像;利用图像复杂度评估模型对目标框图像...
  • 提供一种用于透射放射源的准直器结构,包括:透射放射源;第一屏蔽块,设置在所述透射放射源的出射侧,用于阻挡所述透射放射源发出的射线;第一准直孔,位于所述第一屏蔽块上且贯穿所述第一屏蔽块;以及驱动装置,与所述第一屏蔽块连接,用于驱动所述第一...
  • 本申请公开了一种拆装装置。该拆装装置用于安装或拆卸减震垫,拆装装置包括机械臂、拆装组件以及填换组件,拆装组件包括基座以及第一拿取件,基座与机械臂连接,第一拿取件用于拿取减震垫;填换组件包括主体以及第二拿取件,主体与机械臂连接,第二拿取件...
  • 本公开的实施例提供一种离子迁移谱仪装置。离子迁移谱仪装置包括:离子迁移谱仪、采样装置以及采样和循环气路。采样装置包括固体样品解析装置和气体采样装置,其中固体样品解析装置配置成将固体样品处理成包含固体样品的第一混合气体,气体采样装置配置成...
  • 本技术提供一种用于探测辐射的探测器和包括该探测器的成像设备。探测器包括多排探测器晶体层用于依次探测相同的辐射信号并将多排探测器晶体层各自探测到的所述辐射信号的部分合成以便用于分析所述辐射信号的特性。多排探测器晶体层用于依次探测相同的辐射...
  • 本公开提供了一种机械臂路径规划方法及系统,可以应用于机械技术领域和人工智能技术领域。该方法包括:获取与待扫描物体对应的三维点云信息,三维点云信息是通过图像采集装置按照扫描方式对待扫描物体进行仿形扫描得到的;根据预设距离,对三维点云信息进...
  • 本技术提供一种衍射检测装置、检查设备及检查系统。衍射检测装置包括支架;衍射辐射源;和衍射辐射检测器,衍射辐射检测器与辐射源限定沿第一方向延伸的检查通道,衍射辐射检测器配置成接收来自检查通道上的被检查对象的经衍射的辐射以便确定导致衍射的物...
  • 本发明提供了一种肉类加工方法以及系统。该肉类加工方法包括获取肉类件的多维的肉类成像信息;获取肉类件的真值数据;基于肉类成像信息计算划分与定位计算值,并基于划分与定位计算值和真值数据,对图像划分与定位模型进行训练,以获得经训练的图像划分与...
  • 本公开提出了一种安全防护方法、装置和电子围栏,涉及电子围栏技术领域。其中,安全防护方法包括:接收第一遮光检测信息,所述第一遮光检测信息为第一组监控终端中的、第一监控终端和第二监控终端之间的第一光束被物体遮挡时发出的;接收第二遮光检测信息...
  • 本公开提供了一种离子迁移谱‑质谱的建库方法,可以应用于分析化学技术领域。该离子迁移谱‑质谱的建库方法包括:基于第一寻峰算法,对预处理后的原始数据进行寻峰处理,得到多个离子迁移谱‑质谱的列峰信息;基于第一预设排序规则,对多个列峰信息进行排...
  • 本公开提供了一种数据处理方法,可以应用于物联网领域和通信领域。该数据处理方法包括:响应于监听到目标客户端的连接请求,利用完成端口中的异步连接请求建立与目标客户端的连接,其中,异步连接请求包括N个,N≥2;利用工作线程检测完成端口的状态,...
  • 本公开提供了一种边缘设备推理加速方法、装置、系统、介质和程序产品,可以应用于人工智能技术领域。该方法包括:获得预先训练的第一神经网络模型;对所述第一神经网络模型中的至少一个卷积层和/或至少一个卷积核进行剪枝,得到第二神经网络模型;获得所...
  • 本公开提出一种直流高压电源电路及其使用方法和安检设备,涉及安检电源领域。直流高压电源电路,包括:倍压整流滤波单元,包括电磁干扰滤波器、第一电容、第一二极管、第二二极管、第二电容;其中,电磁干扰滤波器的输入端用于连接交流输入,第一二极管与...
  • 本公开提供一种
  • 提供一种直线扫描
  • 本申请提供了一种卫生检疫方舱,包括方舱本体,所述方舱本体包括本体外壁和隔断,所述本体外壁围成内部空间,所述隔断将所述内部空间分隔为彼此独立的多个内室,所述多个内室包括:医生工作室,具有至少一个医生工作室门,所述医生工作室用于采样人员在其...
  • 提供一种适用于检查细长物品的射线检查系统,包括:射线检查装置,包括适用于对所述细长物品进行
  • 一种射线检查设备,包括:固定框架
  • 本发明涉及一种辐射扫描成像系统,其包括:舱体,其具有至少一个开口并且限定用于对被扫描物体进行扫描成像的检测通道,检测通道从至少一个开口向舱体内延伸;扫描装置,其设置在舱体内,用于对被扫描物体进行扫描成像;以及输送装置,其布置在舱体的底部...
  • 本发明提出了一种半导体探测器