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斯格瑞公司专利技术
斯格瑞公司共有18项专利
用于生成高通量低能量x射线的微焦x射线源制造技术
一种x射线源,包括至少一个壳体,其被配置为容纳处于小于一个大气压的压力下的第一区域,并且被配置为将第一区域与至少一个壳体外的周围环境分离。至少一个壳体包括x射线透射窗口,其对于具有小于1keV的x射线能量的至少一些x射线具有大于或等于2...
使用透射x射线源的高产量3Dx射线成像系统技术方案
一种三维x射线成像系统包含至少一个检测器及包含x射线透射真空窗的x射线源。该x射线源配置为产生发散x射线,发散x射线自该真空窗出射且沿延伸通过物体的感兴趣区的x射线传播轴线传播到达该至少一个检测器。发散x射线在以该x射线传播轴线为中心的...
使用晶体分析器和多个检测器元件的X射线吸收光谱的系统和方法技术方案
一种装置包括晶体分析器,该晶体分析器相对于x射线源定位在切面中的罗兰圆上并具有罗兰圆半径(R)。晶体分析器包括至少在切面内沿至少一个方向弯曲的晶面,其曲率半径基本上等于罗兰圆半径的两倍(2R)。晶面被配置为接收来自x射线源的x射线,并根...
用于计算机层析X射线荧光成像的系统和方法技术方案
一种系统和方法通过以下方式使用x射线荧光分析样品:以入射x射线束照射样品,该入射x射线束具有相对于样品表面的近掠入射角,并且同时样品相对于入射x射线束具有不同的旋转取向。当样品具有不同的旋转取向时,收集样品响应于入射x射线束而产生的荧光...
用于深度可选X射线分析的系统和方法技术方案
一种用于X射线分析的系统包括至少一个X射线源,该至少一个X射线源被配置为发射X射线。该至少一个X射线源包括至少一个碳化硅子源,该至少一个碳化硅子源位于至少一个导热衬底上或嵌入在其中,并且被配置为响应于对该至少一个碳化硅子源的电子轰击而产...
利用滤波的x射线荧光的系统和方法技术方案
一种x射线光学滤波器包括至少一个x射线光学反射镜,该至少一个x射线光学反射镜被配置成接收具有第一x射线谱的多个x射线,通过多层反射或全外反射将所接收到的x射线中的至少一些接收到的x射线分离成反射x射线和非反射x射线,并形成x射线束,所述...
高亮度X射线反射源制造技术
提供了一种x射线靶、x射线源和x射线系统。该x射线靶包括导热的衬底,该导热衬底包括表面和位于该表面的至少一部分上或嵌入在该至少一部分中的至少一个结构。该至少一个结构包括与衬底热连通的导热的第一材料。第一材料具有在大于1毫米的范围内的沿着...
波长色散x射线光谱仪制造技术
一种x射线光谱仪,包括至少一个x射线光学器件,至少一个x射线光学器件被配置为接收具有作为关于x射线能量的函数的入射强度分布的x射线;以及至少一个x射线检测器,至少一个x射线检测器被配置为从至少一个x射线光学器件接收x射线,并且记录来自至...
X射线干涉成像系统技术方案
本申请提供X射线干涉成像系统。一种x射线系统包括:x射线源,x射线源包括:包括第一材料的基板以及至少多个离散结构,至少多个离散结构与基板热传递并被布置为离散结构的周期性图案中,多个离散结构包括响应于电子轰击产生x射线的第二材料;x射线相...
TALBOT-LAU X射线源和干涉测量系统技术方案
本公开涉及TALBOT‑LAU X射线源和干涉测量系统。提供了一种x射线源,以及采用该x射线源的x射线干涉测量系统。x射线源包括靶,所述靶包括衬底和多个结构。衬底包括导热的第一材料和第一表面。多个结构位于第一表面的至少一部分上或嵌入在第...
执行x射线光谱分析的方法和x射线吸收光谱仪系统技术方案
用于执行x射线吸收光谱分析的方法和x射线吸收光谱仪系统,该x射线吸收光谱仪系统与紧凑的实验室x射线源一起使用,从而以高空间分辨率和高光谱分辨率测量对象中感兴趣元素的x射线吸收。光谱仪系统包括:紧凑的高亮度实验室x射线源;使x射线聚焦通过...
X射线吸收测量系统技术方案
本公开提供一种用X射线吸收测量系统。一种x射线照明系统,包括:x射线源,包括至少一个电子束发射器和至少一个靶,其中靶包括基板以及与基板热接触的多个离散微结构,多个离散微结构包括至少一个第一离散微结构和至少一个第二离散微结构;光具组,被配...
TALBOT X射线显微镜制造技术
用于x射线显微镜的系统使用具有微米尺度或纳米尺度束强度分布的微束阵列,以提供对物体的微米尺度或纳米尺度区域的选择性照射。阵列检测器被定位为使得检测器的每个像素仅检测与单个微米尺度束或纳米尺度相对应的x射线。这允许由每个x射线检测器像素产...
用于x射线显微镜检查的方法和设备技术
本公开呈现了使用具有微观尺度或纳米尺度射束强度轮廓的微束的阵列来提供物体的微观区域或纳米区域的选择性照射的x射线显微镜检查系统。阵列检测器被定位为使得检测器的每个像素仅检测与单个微观射束或纳米射束相对应的x射线。这使得产生于每个x射线检...
用于测量、表征和分析周期性结构的x射线方法技术
x射线照射的周期性空间图案用于收集关于周期性物体的信息。可以使用相干的或部分相干的x射线源与分束光栅的相互作用来创建具有周期性结构的Talbot干涉图案,以创建结构化照射。然后将要测量的具有周期性结构的物体放置到该结构化照射中,并且分析...
X射线吸收测量系统技术方案
本公开提供一种用于x射线吸收精细结构(XAFS)测量的系统,其具有大于现有紧凑系统若干数量级的x射线通量和通量密度。其适用于x射线吸收近边光谱(XANES)或者延伸式x射线精细吸收结构(EXFAS)光谱的实验室或现场应用。通过使用x射线...
X射线干涉成像系统技术方案
本发明公开了一种x射线干涉成像系统,其中所述x射线源包括靶,所述靶具有嵌入于导热基板中的多个结构化相干的x射线子源。所述系统另外包括:形成Talbot干涉图案的射束分裂光栅G1,所述射束分裂光栅G1可以是相移光栅;以及用于将二维x射线强...
使用线性累加的x射线源制造技术
本申请公开了一种用于高亮度x射线产生的小型源。通过用电子束轰击彼此对准的多个区域以实现x射线线性累加从而实现更高亮度。这通过对准离散x射线发射器或者通过使用新颖的x射线靶来实现,这种新颖的x射线靶包括x射线产生材料的多个微结构,这些微结...
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