用于计算机层析X射线荧光成像的系统和方法技术方案

一种系统和方法通过以下方式使用x射线荧光分析样品：以入射x射线束照射样品，该入射x射线束具有相对于样品表面的近掠入射角，并且同时样品相对于入射x射线束具有不同的旋转取向。当样品具有不同的旋转取向时，收集样品响应于入射x射线束而产生的荧光x射线。应于入射x射线束而产生的荧光x射线。应于入射x射线束而产生的荧光x射线。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于计算机层析X射线荧光成像的系统和方法
[0001]优先权声明
[0002]本申请要求于2019年9月3日提交的美国临时申请No.62/895,342的优先权权益，该申请通过引用整体并入本文。


[0003]本申请总体上涉及用于X射线荧光成像的系统和方法。

技术介绍

[0004]100多年来，X射线荧光(XRF)一直是使用最广泛的化学(例如元素组成)分析技术。X射线荧光成像(XRFI)是一种强大的技术，用于以超痕量检测灵敏度对元素进行定量映射，该技术越来越多地应用于生物学问题(参见，例如，R.McRae等人，“In situ imaging of metals in cells and tissues(细胞和组织中金属的原位成像)”，Chem Rev.第109卷，第4780
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4827页(2009)；C.J.Fahrni，“Biological applications of X
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ray fluorescence microscopy:Exploring the subcellular to本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种使用x射线荧光分析样品的方法，所述方法包括：在样品具有相对于入射x射线束的第一旋转取向时，以所述入射x射线束照射所述样品，所述入射x射线束具有相对于所述样品的表面的近掠入射角；在所述样品具有所述第一旋转取向时，收集所述样品响应于所述入射x射线束而产生的荧光x射线；围绕与所述表面基本垂直的方向旋转所述样品，以使得所述样品具有相对于所述入射x射线束的第二旋转取向，所述第二旋转取向与所述第一旋转取向相差一旋转角度；在所述样品具有所述第二旋转取向时，以所述入射x射线束照射所述样品；和在所述样品具有所述第二旋转取向时，收集所述样品响应于所述入射x射线束而产生的荧光x射线。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述近掠入射角相对于所述表面在1度至15度的范围内。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述近掠入射角大于所述样品的临界角。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述入射x射线束在所述样品处被聚焦，使得光斑尺寸在至少一个基本平行于所述表面的方向上小于或等于50微米。5.根据权利要求1所述的方法，还包括对在所述样品具有所述第一旋转取向时收集的荧光x射线进行能量解析，以及对在所述样品具有所述第二旋转取向时收集的荧光x射线进行能量解析。6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述旋转角度在0.5*sin(θ)和sin(θ)之间的范围内，其中θ是所述近掠入射角。7.根据权利要求1所述的方法，还包括：围绕基本垂直于所述表面的所述方向旋转所述样品，以使得所述样品具有相对于所述入射x射线束的多个顺序旋转取向，所述顺序旋转取向彼此相差所述旋转角度；和在所述样品具有所述顺序旋转取向中的每一者时，以所述入射x射线束照射所述样品并收集所述样品响应于所述入射x射线束而产生的荧光x射线。8.根据权利要求7所述的方法，还包括对在所述样品具有所述顺序旋转取向中的每一者时收集的荧光x射线进行能量解析。9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述顺序旋转取向包括至少三个旋转取向。10.根据权利要求7所述的方法，其中，所述顺序旋转取向具有所述样品的至少180度的总和旋转。11.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述样品具有所述第一旋转取向时照射所述样品包括在第一多个位置处照射所述样品，并且在所述样品具有所述第二旋转取向时照射所述样品包括在第二多个位置处照射所述样品。12.根据权利要求11所述的方法，其中，在所述第一多个位置处照射所述样品包括在基本上平行于所述表面的平面中在两个方向上以连续的一系列步骤移动所述样品，以使得在所述样品具有所述第一旋转取向时所述入射x射线束撞击所述第一多个位置中的每个位置，并且在所述第二多个位置处照射所述样品包括在基本平行于所述表面的平面中在两个方向上以连续的一系列步骤移动所述样品，以使得在所述样品具有所述第二旋转取向时所述入射x射线束...

【专利技术属性】
技术研发人员：云文兵，西尔维娅，
申请(专利权)人：斯格瑞公司，
类型：发明
国别省市：