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一种系统和方法通过以下方式使用x射线荧光分析样品：以入射x射线束照射样品，该入射x射线束具有相对于样品表面的近掠入射角，并且同时样品相对于入射x射线束具有不同的旋转取向。当样品具有不同的旋转取向时，收集样品响应于入射x射线束而产生的荧光x射...
该专利属于斯格瑞公司所有，仅供学习研究参考，未经过斯格瑞公司授权不得商用。

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