本发明公开了一种版图的加速处理方法、存储介质，其中版图加速处理方法包括：将版图分为多个分割块，并将各分割块发送至可并行处理的各客户端；各客户端对对应的分割块进行层级化分割处理，所述层级化分割处理主要是对多边形进行着色并调节冲突的着色方案...

本发明提供了一种集成电路器件的紧凑模型提取方法，包括：利用仿真工具对新型器件进行物理建模，根据已有结构和材料参数搭建起器件物理模型；选择合适的紧凑模型参数，并根据的器件的电学特性数据，初步确定紧凑模型参数的范围；根据选择的紧凑模型参数及...

本发明公开了一种三维掩膜衍射成像光强的计算方法及三维掩膜模型。其中三维掩膜衍射成像光强的计算方法，包括：薄掩膜近似下计算光路系统的交叉传输矩阵；通过严格电磁学仿真的方法计算得到厚掩膜的边沿的衍射近场；将厚掩膜衍射电磁场的时域电磁场分布与...

本发明公开了一种光学临近修正方法、全局多边形的处理方法。其中全局多边形的处理方法，包括：步骤1，把版图分割成不同批次的分块，全局多边形的完整信息存储在主机中，分块对应的局部全局多边形信息与全局多边形的完整信息之间的映射信息存储在从机中；...

本发明公开了一种瞬态电路仿真的加速方法，包括：采用改进节点分析法将待仿真的电路表示为数学方程；对采用指数积分方法对表示为多个数学方程的电路进行瞬态仿真时，对时间开销最大的线性代数操作Ax＝b进行分析，确定时间开销最大的为多次三角求解操作...

本发明公开了一种逻辑单元统计时序库快速表征方法，包括：设定逻辑单元的类型以及工作环境；针对逻辑单元，通过灵敏度分析筛选所需范围的输入转换时间和负载电容的关键局部波动量集合；进行N次仿真得到N组关键局部波动量集合的随机波动值以及目标样本值...

本发明提供OPC模型测量点数据的清理方法及装置，所述方法包括：数据读取步骤：读取OPC模型的测量点数据，并确定当前数据中包含的数据种类；数据预处理步骤：根据测量点数据中种类信息进行分类，利用不同测量点数据的数据种类规则去匹配每条数据的数...

本发明提供了一种基于全版图的测试版图生成方法，包括：读取具有主图形的版图，采用OPC模型预测出版图中可能存在的弱点；提取出所述弱点对应的版图信息；将所述弱点对应的版图信息导入到测试版图生成工具中，并根据用户定义的图形规则对其进行多种方式...

本发明公开了一种自动化提取紧凑模型的方法及计算机存储介质，所述自动化提取器件紧凑模型的方法，包括：步骤S1：建立初始器件模型；步骤S2：以所述初始器件模型对待测器件进行仿真获取仿真曲线，修正所述初始器件模型中的模型参数，保证模型可靠性；...

本发明公开了一种模型的生成方法

本发明公开了一种光学临近修正模型的训练方法

本发明公开了一种基于模型的防止亚分辨率散射条打印的方法，包括：准备不同的测试图形，针对不同的线空摆放不同宽度的亚分辨率散射条，形成样本；将样本中所有即将打印出来的亚分辨率图形作为热点；基于热点的相关信息获取热点的特征信息，并基于测试图形...

本发明公开了一种版图的拆分方法、光罩的降维方法。版图的拆分方法包括:将通孔作为参考点建立维诺图；运用四色定理对每个通孔进行着色；根据每一对相邻的通孔对之间的距离与对应关键距离的关系，为每一对分配相应优先级的隔离器；从任意一个紧密三角对开...

本发明公开了一种掩膜的衍射近场的计算方法、光刻成像计算方法。其中掩膜的衍射近场的计算方法，包括：获取样本数据集并构建、训练可获得掩膜的顶角附近的近场的算法模型；通过2D严格电磁学仿真生成所述掩膜的多边形的边缘附近的一维近场；基于所述一维...

本发明公开一种基于半监督协同训练模式的通用快速建库方法及存储介质，所述通用快速建库方法包括：为每个输入单元生成与之对应的输入参数向量，并合并成第一向量集；从第一向量集中选出第二向量集，并对第二向量集进行SPICE仿真得到第一输出结果向量...

本发明公开一种设计规则检查方法、光学临近修正方法。其中设计规则检查方法，包括：步骤1，找到版图中的所有元胞，将环境相同且种类相同的元胞归类到同一个分级；步骤2，每次执行DRC时，仅对同一个分级中的一个元胞的多边形进行选边及移边操作，然后...

本发明公开了一种集成电路的比对方法，包括：将需要进行对比的两个集成电路的版图分别分割为两两相互对应的多个分块；将相互对应的分块两两进行比较；若两个分块中的几何数据一致，则认为两个分块中的图形完全相同；若两个分块中的几何数据不一致，则将两...

本发明公开了一种芯片存储器的测试方法、存储介质。本发明提出的芯片存储器的测试方法，包括：读取芯片的电路设计文件，并找到芯片的所有存储器；对所有存储器进行分组，包括：兼容性分组和/或复用性分组；所述兼容性分组的定义为将可被同一个控制器控制...

本发明公开了一种时域下互连线电路的寄生RC参数的便捷降阶方法，包括：步骤1，获取寄生RC参数网表，遍历网表中的所有节点，并保存每个节点上连接的器件信息；步骤2，根据每个节点所连接的器件信息，将节点分为纯电容节点、纯电阻节点以及混合节点；...

本发明公开了一种面向对象的集成电路的物理验证的规则描述方法，包括：创建规则文件；在所述规则文件中根据集成电路的物理验证的几何图形定义基本几何处理对象；在所述规则文件中提供访问每种基本几何处理对象的公共属性和/或特有属性的方法；创建规则解...