一种存储器测试装置使用主控制单元以并行方式控制多个智能从控制单元(SCU)。每个SCU包含一个或多个处理单元(例如有限状态机、微控制器、处理器)，能够运行一个或多个固件(可以有操作系统，也可以无操作系统，例如裸机、嵌入式操作系统、实时操...

提供了一种测试系统和多个硬件块的同时测试方法。存储器测试设备使用主控制单元(master control unit,MCU)同时操作多个智能从控制单元(slave control units，SCU)。MCU或SCU将被测设备(devi...

提供了一种测试系统和多个连接硬件块的同时测试方法。存储器测试设备使用主控制单元同时操作多个智能从控制单元(slave control units，SCU)。SCU可以具有一个或更多个处理单元(即，有限状态机、微控制器、处理器)，一个或更...

一种用于部件测试的母板组件以及测试器板系统，该母板组件包括：上母板；设置在上母板上的至少一个存储器通道；与上母板通过间隙竖直分离的下母板；设置在下母板上的至少一个CPU；连接上母板和下母板的至少一个支撑连接器；以及将至少一个CPU与至少...

一种测试器板系统，该测试器板系统包括框架，在该框架上可以插入多个母板以用于BI和其他类型的部件测试。每个母板具有存储器通道，存储器通道可以容纳用于测试的多个存储器部件，存储器通道连接到CPU。在优选实施例中，CPU位于母板的下侧，存储器...

一种用于从具有固定段和冷却段的双面PCBA拆卸有缺陷的BGA芯片的系统。该固定段包括至少一个屏蔽器，防止来自热空气枪的热空气加热邻近于有缺陷的BGA芯片的BGA芯片。该冷却段通过在处理期间将热从BGA芯片传导出去，来防止在双面PCBA的...

一种用于减少存储器产品测试故障的装置、系统和方法，包括存储器测试仪，该存储器测试仪跟踪存储器产品被插入到该存储器测试仪的存储器产品接收部件中的频率，并且当计数达到或超过阈值时，使用该信息来触发替换存储器产品接收部件。该电子器件可以被布置...

提供了一种存储器测试设备和多个被测设备的并行测试方法，该存储器测试设备使用主控制单元同时操作多个智能从属控制单元(slave control units，SCU)。SCU具有一个或更多个处理单元(即，有限状态机、微控制器、处理器)，处理...

本发明提供了一种存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法，该存储器测试系统包括主控制器单元MCU，所述主控制器单元MCU被配置为向至少第一从控制器单元SCU和第二从控制器单元SCU中的每一个提供测试模式；其中，所述第一SCU被配...