提供了一种存储器测试设备和多个被测设备的并行测试方法，该存储器测试设备使用主控制单元同时操作多个智能从属控制单元(slave control units，SCU)。SCU具有一个或更多个处理单元(即，有限状态机、微控制器、处理器)，处理...

本发明提供了一种存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法，该存储器测试系统包括主控制器单元MCU，所述主控制器单元MCU被配置为向至少第一从控制器单元SCU和第二从控制器单元SCU中的每一个提供测试模式；其中，所述第一SCU被配...