【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于易失性和非易失性存储器的动态重构半导体测试器的设备、系统和方法，尤其涉及存储器测试设备和多个被测设备的并行测试方法。
技术介绍
1、计算机系统利用易失性和非易失性存储器来存储和检索数据。易失性存储器是有利的，因为相比于传统的硬盘驱动器(hard disk drive，hdd)或固态驱动器(solid statedrive，ssd)设备，它们实现了更快的访问时间。通常，易失性存储器的访问时间比传统hdd或ssd设备快至少一个数量级。易失性存储器通常用于存储和检索较短持续时间的数据，因为它们在失去/移除电源时会丢失数据。
2、非易失性存储器的优势在于，即使在失去/移除电源后，它们仍能保留数据。因此，非易失性存储器通常用于存储和检索更长持续时间的数据，并允许其他计算机系统访问数据。
3、由于当前对更高访问速度的持续需求，大多数计算机系统利用易失性存储器临时存储数据，和非易失性存储器在更长的时间段(包括例如，秒、分钟、小时、天、月甚至年)内存储和检索数据的组合。
4、易失性和非易失性存储器通常由特定光刻工艺制造的半导体晶片的单个裸片(die)组装而成。通常，根据给定的电压(直流(direct current，dc)电平)和定时(交流(alternating current，ac)电平)参数规范，测试这些晶片及其裸片的适当的电气操作和功能。一旦在晶片内识别出一个或更多个已知良好的裸片，则这些裸片将通过封装工艺，从而可以使用单个易失性和非易失性存储器设备封装构建最终产品。
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6、制造商和供应商希望易失性和/或非易失性存储器在产品的使用寿命内都是可靠、稳健和可操作的。为了帮助确保这些质量，存储器部件通常要经过严格的测试。考虑到易失性和非易失性封装的复杂性，可以想象稳健性测试对于构建子系统和最终完全组装的系统的重要性。
7、许多公司提供通用半导体测试设备，所述设备定制使用专用集成电路(application-specific integrated circuit，asic)或现场可编程门阵列(fieldprogrammable gate arrays，fpga)测试特定存储器的电压、频率和温度。
8、一般而言，此类通用测试器仅限于测试易失性存储器或非易失性存储器，但不能同时测试两者。通用测试人员也受到限制，因为他们只能使用自动测试模式生成(automatic test pattern generation，atpg)模式根据现有行业标准实现固定的功能测试模式。总之，这些限制是有问题的，因为在运行终端用户软件的终端用户产品中没有测试过存储器。它们也不能复制终端用户产品中发生存储器故障的情况。因此，没有办法使用通用测试器来有效地预测终端用户的需求，或者修复许多终端用户的问题。
9、volkerink的us 7,707,468描述了一种测试设备，其中存储器控制器呈星形布置，其中多个接口板中的每一个并行工作以测试多个存储器模块。该布置允许以不同的操作速率同时测试各种存储器模块，但该专利对关于易失性和/或非易失性存储器的同时测试保持沉默。此外，接口板不是智能的，因此它们不能根据从存储器控制器下载的多个不同测试模式运行。在存储器模块运行应用软件时，也没有教导、建议或动机来测试存储器模块。
10、因此，存在对半导体测试系统的需求(1)能够测试易失性和非易失性存储器设备，(2)在封装中具有一个或多个裸片，以及(3)在精密模拟终端用户的主机系统(即个人计算机(personal computer，pc)、笔记本电脑、服务器、云等)和软件的测试环境中。理想情况下，这样的系统将提供详细的ac和dc电平测试覆盖范围，以及在正常运行温度、高温和低温、高标称低电压电平和高标称低工作频率下的功能测试，以在主机系统的运行速度下充分应力、锻炼和执行真实世界的功能测试。这样的系统应该能够在能够执行一个或多个应用程序的本地操作系统(operating system，os)上运行终端客户应用程序，以模拟目标主机应用程序环境。
技术实现思路
1、本文描述的本专利技术主题为易失性和非易失性存储器阵列提供了动态实时测试。在所设想的设备、系统和方法中，存储器测试器单元能够动态地重新配置(a)其输入和输出(input and output，i/o)引脚电压电平，以及(b)其工作频率，而无需任何系统重新启动要求，并且针对不同的易失性产品系列和/或不同的非易失性产品系列执行不同的实时测试模式。
2、预期的存储器测试器单元包括如下所述的几个部件。主控制器单元(mastercontroller unit，mcu)管理能够测试易失性和非易失性存储器的一个或更多个从控制器单元(slave controller unit，scu)。每一个scu能够在相同或不同类型存储器的一个或更多个完全隔离的存储器通道上执行一个或更多个不同的实时测试模式。通过利用这种模块化方法，mcu可以并行地编程一个或更多个scu，以对一个或更多个存储器设备执行成组(gang)/并行测试，这提高了生产率和测试速度，并降低了总测试成本。单个操作员可以将适当的测试模式加载到一个mcu中，并且mcu可以将测试模式上传到一个或更多个scu中，每一个scu以所需的实时测试模式运行，并且每一个scu存储器通道测试一个或更多个存储器设备，而不管被测试的单个存储器是否具有单片、双片、四片、八片或其他数量的裸片。
3、如本文所述，mcu可以通过传统的有线或无线方法连接到每一个scu，以编程和初始化scu单元。mcu可以有利地使用智能的、全自动的扫描器方法来自动加载适当的mcu程序以加载和执行每一个scu。该自动化过程旨在进一步提高利用率，减少人为错误，并改善总体测试成本。
4、如上所述，每一个存储器测试器单元可以具有一个或更多个mcu，其中每一个mcu连接到一个或更多个scu，并且每一个scu可以寻址一个或更多个存储器通道。还可以设想，每一个存储器通道可以具有一个或更多个被测设备板(device under test，dut)，其中dut中的每一个具有一个或更多个插口以测试易失性存储器或者非易失性存储器的单个存储器封装。对于具有该领域专业知识的人来说，在了解本应用程序后，显而易见的是，可以使用单个扫描程序在任何给定时间测试数百个存储器封装。
5、mcu可以连接到电源管理单元(power management unit，pmu)，该电源管理单元被配置为增加和减少scu i/o引脚、dut存储器插口的电压轨以及电路的其余部分的输入电压和电流。这种灵活性允许mcu能够使同一生态系统测试需要不同工作电压电平的不同存储器设备封装。(即，动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)5.0本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种存储器测试设备，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器测试设备，还包括网络连接，所述网络连接被配置为从多个功能测试模式源接收所述第一功能测试模式。
3.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一存储器插口被配置为接收易失性存储器封装，并且所述附加存储器插口被配置为接收非易失性存储封装。
4.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一DUT具有第二存储器插口，所述第一存储器插口被配置为接收易失性存储器封装，并且所述第二存储器插口被配置为接受非易失性存储封装。
5.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述MCU还被配置为向第三从控制器单元SCU提供所述第一功能测试模式，并且所述第三SCU被配置为与所述第一DUT和第二DUT的操作同时地使用所述第一功能测试模式操作至少第三被测设备板DUT。
6.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU被配置为使用所述第一功能测试模式来同时地操作包括所述第一DUT的多个被测设备板。
7.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一S
8.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU与时钟管理单元CMU协作，所述时钟管理单元为所述第一DUT的SCU核心频率操作提供时钟间隔范围。
9.根据权利要求8所述的存储器测试设备，其中，所述第一存储器插口具有多个SCUI/O引脚。
10.根据权利要求8所述的存储器测试设备，其中，所述第一存储器插口具有多个时钟引脚。
11.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU与热管理单元TMU协作以在多个温度条件下测试所述第一DUT。
12.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU包括从有限状态机、微控制器、微处理器和通用处理器单元中选择的处理器。
13.根据权利要求12所述的存储器测试设备，其中，所述处理器被配置为使用固件以独立裸机配置操作所述第一DUT。
14.根据权利要求13所述的存储器测试设备，其中，所述固件是操作系统、嵌入式操作系统、实时操作系统配置的一部分。
15.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU被配置为向所述MCU提供所述第一DUT的单个存储器地址位置的测试结果。
16.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU被配置为向所述MCU提供所述第一DUT的易失性存储器或非易失性存储器的单个故障单元的错误日志。
17.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一SCU被配置为向所述MCU提供错误日志，所述错误日志聚合来自至少所述第一存储器插口和所述附加存储器插口的测试结果。
18.一种对多个被测设备DUT进行并行测试的方法，包括：
19.根据权利要求18所述的方法，还包括使用所述MCU从测试模式的数据存储中下载所述第一功能测试模式和所述第二功能测试模式。
20.根据权利要求18所述的方法，还包括使用所述MSC使所述第二SCU针对不同于所述第一DUT集合和所述第二DUT集合的第三DUT集合运行第三功能测试模式。
21.根据权利要求18所述的方法，还包括使用所述第一SCU同时测试易失性存储器和非易失性存储封装。
22.根据权利要求18所述的方法，还包括使用所述第一SCU测试易失性存储器封装，同时所述第二SCU测试非易失性存储封装。
23.根据权利要求18所述的方法，还包括所述第一SCU与电源管理单元协作，以在输入电压范围内测试所述第一DUT集合中的至少一个成员。
24.根据权利要求18所述的方法，还包括所述第一SCU与时钟管理单元CMU协作，以在时钟间隔范围内测试所述第一DUT集合中的至少一个成员的SCU核心频率操作。
25.根据权利要求18所述的方法，还包括所述第一SCU与热管理单元TMU协作，以在温度条件范围内测试所述第一DUT集合中的至少一个成员。
26.根据权利要求18所述的方法，还包括所述第一SCU的处理器，所述处理器使用固件以独立裸机配置来操作测试所述第一DUT集合中的至少一个成员。
27.根据权利要求18所述的方法，还包括所述第一SCU向所述MCU提供所述第一DUT集合的至少一个成员的单个存储器地址位置的测试结果。
28.根据权利要求18所述的方法，还包括所述第一SCU向所述MCU提供所述第一DUT集合的至少一个成员的易失...
【技术特征摘要】
1.一种存储器测试设备，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器测试设备，还包括网络连接，所述网络连接被配置为从多个功能测试模式源接收所述第一功能测试模式。
3.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一存储器插口被配置为接收易失性存储器封装，并且所述附加存储器插口被配置为接收非易失性存储封装。
4.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一dut具有第二存储器插口，所述第一存储器插口被配置为接收易失性存储器封装，并且所述第二存储器插口被配置为接受非易失性存储封装。
5.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述mcu还被配置为向第三从控制器单元scu提供所述第一功能测试模式，并且所述第三scu被配置为与所述第一dut和第二dut的操作同时地使用所述第一功能测试模式操作至少第三被测设备板dut。
6.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一scu被配置为使用所述第一功能测试模式来同时地操作包括所述第一dut的多个被测设备板。
7.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一scu与电源管理单元协作，所述电源管理单元通过所述第一存储器插口提供多个不同电压。
8.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一scu与时钟管理单元cmu协作，所述时钟管理单元为所述第一dut的scu核心频率操作提供时钟间隔范围。
9.根据权利要求8所述的存储器测试设备，其中，所述第一存储器插口具有多个scui/o引脚。
10.根据权利要求8所述的存储器测试设备，其中，所述第一存储器插口具有多个时钟引脚。
11.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一scu与热管理单元tmu协作以在多个温度条件下测试所述第一dut。
12.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一scu包括从有限状态机、微控制器、微处理器和通用处理器单元中选择的处理器。
13.根据权利要求12所述的存储器测试设备，其中，所述处理器被配置为使用固件以独立裸机配置操作所述第一dut。
14.根据权利要求13所述的存储器测试设备，其中，所述固件是操作系统、嵌入式操作系统、实时操作系统配置的一部分。
15.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其中，所述第一scu被配置为向所述mcu提供所述第一dut的单个存储...
【专利技术属性】
技术研发人员：迈克·侯赛因·阿米迪，
申请(专利权)人：睿进记忆体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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