存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法技术方案

本发明专利技术提供了一种存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法，该存储器测试系统包括主控制器单元MCU，所述主控制器单元MCU被配置为向至少第一从控制器单元SCU和第二从控制器单元SCU中的每一个提供测试模式；其中，所述第一SCU被配置为使用所述测试模式来测试至少第一存储器和第二存储器，同时所述第二SCU使用所述测试模式测试至少第三存储器和第四存储器；以及其中，所述第一SCU和所述第二SCU中的每一个被配置为在独立配置中操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于易失性和非易失性存储器的动态重构半导体测试器的设备、系统和方法，尤其涉及存储器测试设备和多个被测设备的并行测试方法。

技术介绍

1、计算机系统利用易失性和非易失性存储器来存储和检索数据。易失性存储器是有利的，因为相比于传统的硬盘驱动器(hard disk drive，hdd)或固态驱动器(solid statedrive，ssd)设备，它们实现了更快的访问时间。通常，易失性存储器的访问时间比传统hdd或ssd设备快至少一个数量级。易失性存储器通常用于存储和检索较短持续时间的数据，因为它们在失去/移除电源时会丢失数据。

2、非易失性存储器的优势在于，即使在失去/移除电源后，它们仍能保留数据。因此，非易失性存储器通常用于存储和检索更长持续时间的数据，并允许其他计算机系统访问数据。

3、由于当前对更高访问速度的持续需求，大多数计算机系统利用易失性存储器临时存储数据，和非易失性存储器在更长的时间段(包括例如，秒、分钟、小时、天、月甚至年)内存储和检索数据的组合。

4、易失性和非易失性存储器通常由特定光刻工艺制造本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储器测试系统，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述独立配置包括裸机固件FW操作系统。

3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述独立配置包括迷你操作系统、嵌入式操作系统或实时操作系统RTOS。

4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一SCU被配置为运行目标客户应用程序。

5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一SCU被配置为执行交流存储器和直流存储器测试中的至少一个。

6.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一SCU具有插口，所述插口被配...

【技术特征摘要】

1.一种存储器测试系统，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述独立配置包括裸机固件fw操作系统。

3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，所述独立配置包括迷你操作系统、嵌入式操作系统或实时操作系统rtos。

4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一scu被配置为运行目标客户应用程序。

5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一scu被配置为执行交流存储器和直流存储器测试中的至少一个。

6.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一scu具有插口，所述插口被配置为测试所述存储器中的易失性存储器和非易失性存储器。

7.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中，至少所述第一scu被配置为针对温度参数来测试所述存储器。

8.一种多个被测设备dut的存储器的同时测试方法，包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述传送的步骤包括经由无线网络传送所述测试协议。

10.根据权利要求8所述的方法，其中，所述传送的步骤包括经由硬接线连接传送所述测试协议。

11.根据权利要求8所述的方法，还包括使用在个人计算机pc上运行的软件来针对所述存储器中的所述第一存储器、所述第二存储器、所述第三存储器和所述第四存储器执行所述协议。

12.根据权利要求8所述的方法，还包括使用在专用集成电路asic上运行的硬件来针对所述存储器中的所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克·侯赛因·阿米迪，
申请(专利权)人：睿进记忆体有限公司，
类型：发明
国别省市：