本发明涉及一种测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的光谱设备，所述设备包括色散元件和检测器，所述色散元件当被光束照射时，适用于产生所述光束中光谱分量的空间色散；该检测器适用于测量至少一部分所述色散光谱分量的强度；所述设备还包括光学位移...