日本电信电话株式会社专利技术

日本电信电话株式会社共有1631项专利

  • 提供一种具有高可靠性和低噪声性,同时能在高增益状态下动作的雪崩光电二极管的元件结构。雪崩光电二极管(100)是一种在第一与第二半导体接触层之间至少具有倍增层(105)和光吸收层(103),第一半导体接触层(108)的面积至少小于倍增层(...
  • 根据本发明的高频线路结构(10)包括:高频线路基板(111);接地引线引脚(122),固定到设置在高频线路基板的底表面中的接地端;以及信号引线引脚(132),固定到设置在高频线路基板的底表面中的信号线端,其中,信号引线引脚(132)设置...
  • 本发明涉及一种无线通信系统以及无线通信方法。将在帧的前导码内中包含发送源的BSS标识符的格式设为HE格式,将在前导码内中不包含BSS标识符但在MAC头中包含BSS标识符的格式设为Non HE格式,BSS的无线台站包括控制单元,所述控制单...
  • 一种接收装置,具备:M个受波器,其接收基于在水中传播的声波的信号;M个FIR滤波器,其对由所述受波器接收到的信号进行波形操作;合成器,其合成M个所述FIR滤波器的输出信号;以及滤波器系数计算部,其将所述M个FIR滤波器的抽头系数计算成使...
  • 在本发明中,高频线路基板(2
  • 一种光模块(1),包括:珀耳帖模块;光半导体元件(3),安装在珀耳帖模块上;以及驱动器(4),驱动光半导体元件(3)的高频线(37、38)。光半导体元件(3)包括:光回路(31至36),提供光干涉仪的功能;以及高频线(37、38)。珀耳...
  • 本发明提供光脉冲测试方法和光脉冲测试装置,目的在于提出在DAS
  • 本公开的摄像元件具备:二维像素阵列,包括光电转换元件的多个像素在基板上呈阵列状地排列而成;透明层,形成于二维像素阵列之上;以及二维分光元件阵列,在透明层的内部或者透明层之上多个分光元件呈阵列状地排列而成。各个分光元件包括由具有比透明层的...
  • 根据本发明,第一框架(101)包括第一短侧面(101a)部分和第一长侧面(101b)部分并且层叠有多个导体层和多个绝缘层,导体层与多个DC电极端子(109)中的每一个相连,绝缘层设置于各个导体层之间。同时,第二框架(105)包括第二短侧...
  • 伪同轴线路(104)在第一连接部(105)处连接至第一共面线路(102),并且在第二连接部(106)处连接至第二共面线路(103)。第一共面线路(102)和第二共面线路(103)是例如差动共面线路。此外,伪同轴线路(104)的第二连接部...
  • 近似函数计算装置包括:泰勒展开部,求出函数g
  • 本公开的摄像元件具备:像素阵列,在基板上阵列状地排列有包括光电转换元件的多个像素;透明层,形成于像素阵列之上;以及分光元件阵列,在透明层的内部或上方、与多个分光元件的每一个对应的位置,阵列状地排列有多个分光元件。分光元件的每一个包括由具...
  • 在内侧的迭代计算没有以规定的迭代次数结束的情况下,设为保持中途的循环变量的值,在外侧的迭代计算中不进行输出值的计算。并且,然后,再一次使用在执行内侧的迭代计算时保持的循环变量的值来执行后续的迭代计算。即,在各迭代计算中,仅限于在对象迭代...
  • 本发明包括:将第一引线框架(110)的第一引线(114)的末端(114b)连接至第一信号焊盘(104);将第二引线(115)的末端(115b)连接至第二信号焊盘(105);以及使用引线形状改变夹具(122)调整第一引线(114)的直线部...
  • 根据本发明,第一信号引脚(106)的一端连接至差动共面线路(102)的第一信号线(103),并且另一端被弯曲以远离安装面。第二信号引脚(107)的一端连接至差动共面线路(102)的第二信号线(104),并且另一端被弯曲以远离安装面。接地...
  • 在本公开中示出一种新型构成,其在集成化了SOA的EADFB激光器中,保持发挥能使用相同层构造来简化制造工序的特征,并解决或者减轻光波形品质的劣化。集成化了SOA的EADFB激光器能作为光发射器使用。在本公开的光发射器中,采用在SOA的波...
  • 分割装置(310)具有:分割部(3131),其进行如下处理作为判定作为判定对象的坐标是否存在于内外判定用多边形的内外的判定处理的预处理:取得内外判定用多边形的各顶点的坐标信息,将内外判定用多边形分割为多个多边形;以及通信部(311),其...
  • 顶点削减装置(10)具有:顶点削减部(131),其作为判定作为判定对象的坐标是否存在于内外判定用多边形的内外的判定处理的预处理,取得内外判定用多边形的各顶点的坐标信息,削减内外判定用多边形的顶点;以及通信部(11),其将顶点削减部(13...
  • 旋转装置(210)具有:旋转部(2131),其作为判定作为判定对象的坐标是否存在于内外判定用多边形的内外的判定处理的预处理,取得内外判定用的多边形的各顶点的坐标信息和内外判定用的多边形的各顶点的坐标信息,使作为判定对象的坐标和内外判定用...
  • 一种半导体Mach