本实用新型公开了一种针对半导体芯片测试的高低温测试设备，属于半导体芯片高低温测试领域，一种针对半导体芯片测试的高低温测试设备，包括工作台，工作台上端固定连接有支撑板，支撑板下端壁固定连接有水箱，水箱外端分别固定连接有风扇和水泵，水箱下端...