一种由单件导电体构成的竖直弹性件触头，具有充当弹性件的中央可压缩脊。该触头还设置有一对从顶部构件向下延伸的臂，该臂位于中央脊的两侧而不与中央脊接触。中央脊在结构上将顶部构件连接到底部构件。底部构件设置有凹口，该凹口适于宽松地接收臂的下端...

本发明提供了一种集成电路测试装置中的接地连接器，该接地连接器具有用于电接地的弹性连接器，并且包括竖直地堆叠在刚性接地块上方的双弹性体接触件。该接地块的高度可以被调整以补偿该双弹性体接触件的高度不足，从而使整个连接器具有足够的高度以维持该...

一种电接触组件，所述电接触组件针对单独接触中的每一行使用弹性体条。每个电接触包括带一对臂的刚性底部引脚和柔性顶部引脚，所述一对臂在底部接触的已倾斜表面上方延伸并沿着该已倾斜表面滑动。该弹性体条位于该底部引脚与该顶部引脚的行之间。底部插座...

本发明提供一种IC测试装置中的具有双固定式弹性体的电触点，所述电触点将IC设备的引线与所述测试装置的负载板上的对应端子电连接。所述电触点包括导电触点引脚，所述触点引脚具有允许其部分地固定到具有D形横截面的两个弹性体的特定且精确的形状。每...

本发明公开了一种集成电路测试设备，包括：具有至少一个倾斜表面(22)的电绝缘倾斜支撑件(20)；放置在平行于所述倾斜表面(22)的平面上的多个导电的、独立柔性的接触指(10)，所述接触指彼此间隔开并且基本上与所述平面齐平。以这种方式，可...

一种用于集成电路测试设备的电触头，电触头具有细长导电接触引脚，细长导电接触引脚具有在接触引脚的内端处向上的接触尖端以及允许接触引脚在测试期间从一侧到另一侧摆动和滑动的弯曲底表面。一种具有“P”形横截面的细长可压缩构件，包括：“垂直部分”...

本发明公开了一种用于测试装置的电触点组件，包括：壳体，壳体上设有第一槽，第二槽，中心突起，第一下腔和第二下腔，第一槽第二槽由沿壳体上侧至下侧延伸的通孔构成；第一触点和第二触点以在垂直面彼此镜像的方式设置，第一触点安装在所述第一槽内，第二...

本发明公开了一种用于开尔文触点组件的制造方法，所述开尔文触点组件通过限制触点在触点接近接触被测器件DUT的位置处的水平运动而在触点的接触DUT的端部处实现高精度的接近垂直的运动，所述制造方法包括以下步骤：将所述触点组件的壳体的坯件制备成...

本发明公开了一种顶部壳体，所述顶部壳体具有相互平行的后槽和前槽，并且两者均堆叠在垂直于所述后槽和所述前槽的一排下槽的顶部。这样，前后槽和该排下槽的并置形成两排虚拟矩形通孔。这些排的后面接收一排穿过它们延伸的第一触点。这些排的前面接收一排...

本申请公开了开尔文接触件组件及其安装方法，其中所述接触件组件包括安排成四边形的四个一样的模块。每一模块包括底壳，形成为具有两排贯穿孔以使一排前和后接触件对能插入及在每一对之间具有分隔件以防止对与对之间的电传导。之后，顶壳落放在这些接触件...

本发明涉及IC测试装置中具有一体梁的可压缩层。提供了使用于所有触头的公共可压缩层的电触头，其中可压缩层被制造有管道，管道包含在其内的梁。梁由可压缩层形成。这个梁用作彼此电接触和彼此交互作用的第一和第二构件的可压缩构件，使得作用于第一和第...

本发明总体上涉及ＩＣ器件的测试，尤其是涉及用于测试插座（１）的接触器（１１），其将ＩＣ器件（２）的引线（２１）与测试器的印刷电路板（３）相连。该接触器（１１）包括接触器本体（１２）、适于电接合引线（２１）的第一臂（１３）和适于电接合印刷...