用于测试装置的电触点组件制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于测试装置的电触点组件，包括：壳体，壳体上设有第一槽，第二槽，中心突起，第一下腔和第二下腔，第一槽第二槽由沿壳体上侧至下侧延伸的通孔构成；第一触点和第二触点以在垂直面彼此镜像的方式设置，第一触点安装在所述第一槽内，第二触点安装在第二槽内，且每个触点在垂直方向上延伸并在下端附近设有凹槽；第一弹性体和第二弹性体，各弹性体均从前至后延伸，弹性体中心处由凹槽部分固定，其前、后两端由下腔固定。本方案的测试装置的电触点组件能够接受较大形状和尺寸范围内的引针，并对引针的轻微损坏以及在以不太精确的方式向触点行进时有更高的容错性。

Electric Contact Component for Test Device

【技术实现步骤摘要】
用于测试装置的电触点组件
本专利技术涉及集成电路测试装置中的电触点组件，具体涉及一种电子路径短、且能承受测试期间大电流的电触点组件。
技术介绍
目前，开尔文/非开尔文测试所用的电触点要么不能处理大电流，要么包含了许多零件使组件难以安装、维修。具有针形设计的弹簧探针便是此类设计之一。该设计使此类触点不能负载大电流。这些弹簧探针用微弹簧产生偏置力，且不能负载大电流，也无法创造大电感。该触点和其他类型触点的另一个缺点是被测器件(DUT)的导针在启动期间必须非常精确，否则可能会导致测试失败。在一些汽车集成电路(IC)芯片中，导针为针状的。通常，这些薄而长导针必须在精确的接触区域内与触点接触。导针还必须在精确的行进轴线范围向触点移动，不得侧歪、倾斜或偏移。此外，如果导针稍有损坏或弯曲，都极可能导致测试失败。已知设计的另一个缺点是每个设计只能容纳一种形状的导针，且尺寸范围极小。本领域所需的是一种能在大电流下测试集成电路(IC)器件的电触点，且该电触点能接受较大形状和尺寸范围内的引针，并对引针的轻微损坏以及在以不太精确的方式向触点行进时有更高的容错性。
技术实现思路
本专利技术通过提供一种电触点组件来本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试装置的电触点组件，其特征在于，包括：壳体(50)，壳体上设有第一槽(52)，第二槽(54)，中心突起(56)，第一下腔(53)和第二下腔(55)，第一槽(52)第二槽(54)由沿壳体(50)上侧至下侧延伸的通孔构成；第一触点(10)和第二触点(20)以在垂直面彼此镜像的方式设置，第一触点(10)安装在所述第一槽(52)内，第二触点(20)安装在第二槽(54)内，且每个触点在垂直方向上延伸并在下端附近设有凹槽(12,22)；第一弹性体(30)和第二弹性体(40)，各弹性体均从前至后延伸，弹性体中心处由凹槽部分(12,22)固定，其前、后两端由下腔(53,55)固定。

【技术特征摘要】
2018.02.27 MY PI20187007851.一种用于测试装置的电触点组件，其特征在于，包括：壳体(50)，壳体上设有第一槽(52)，第二槽(54)，中心突起(56)，第一下腔(53)和第二下腔(55)，第一槽(52)第二槽(54)由沿壳体(50)上侧至下侧延伸的通孔构成；第一触点(10)和第二触点(20)以在垂直面彼此镜像的方式设置，第一触点(10)安装在所述第一槽(52)内，第二触点(20)安装在第二槽(54)内，且每个触点在垂直方向上延伸并在下端附近设有凹槽(12,22)；第一弹性体(30)和第二弹性体(40)，各弹性体均从前至后延伸，弹性体中心处由...

【专利技术属性】
技术研发人员：方维空，郭科新，沙马尔·穆迪亚斯，李英凯，罗斯莉·穆罕默德·伊扎特·宾，
申请(专利权)人：杰冯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：马来西亚,MY