本发明涉及一种对旋转对称主体进行定位且对准的装置，特别地相对于测量装置（19）来进行定位且对准，所述测量装置（19）用于实施在旋转对称主体（28）上的测量，所述装置具有基本元件（24），所述基本元件具有在销（23）上的接触表面（22）或...

本发明涉及用于实施X-射线荧光分析的方法，其中初级辐射（16）从X-射线辐射源（14）对准样本主体（12），其中从样本主体（12）发射的次级辐射（18）由检测器（20）检测并且由评估单元（21）评估，其中具有形成滤波器层级的至少一个滤波...

一种用于借助于X射线荧光进行测量对象的测量的方法。该方法包括检测测量对象的测量表面的横向尺寸，将测量对象的测量表面的横向尺寸与出现在测量对象上的初级射束的测量光斑的尺寸相比较，为了确定小于测量光斑的测量对象的测量表面的尺寸，选择网格表面...

本发明涉及对测量台进行电启动的方法以及支承测量探头的测量台。本发明涉及对测量台进行电启动而使至少一个测量探头(26)从开始位置(31)运动到测量位置(32)的方法，而且本发明还涉及用于支承特别是用于测量薄层的厚度的测量探头的测量台，其中...

本发明涉及一种用于测量薄层的厚度的测量探头，其具有壳体(14)，测量探头具有至少一个传感器元件(17)，传感器元件(17)沿纵向轴线(16)至少可略微移动地被收纳，且传感器元件(17)包括至少一个第一绕组装置(44)，第一绕组装置(44...

本发明涉及一种用于测量薄层的厚度的测量探头，其具有壳体(14)，测量探头具有至少一个传感器元件(17)，传感器元件(17)可沿纵向轴线(16)至少略微移动地收纳在壳体(14)中，且传感器元件(17)包括至少一个绕组装置(44)，绕组装置...

本发明涉及一种用于无损测量薄层厚度的测量探头，特别是空腔中的薄层，其通过开口可进入或是在弯曲表面上的，该测量探头具有测量头(17)，其包括至少一个传感器元件(18)和分配到空腔(26)的待检查表面(27)上的传感器元件(18)上的至少一...

本发明涉及一种用于测量待测量大面积表面（12）上的薄层厚度的方法和设备，其中，包括至少一个传感器元件（29）以及与该传感器元件（29）相关联的至少一个接触球冠（31）的至少一个测量探头（28）被施加到待测量表面（12）以便获得测量值，其...

本发明涉及用于非破坏性测量薄层厚度的测量探头。具体地，提供了一种用于对物体（16）上的薄层的厚度进行非破坏性测量的测量探头，其具有：测量头（26），所述测量头（26）包括用于接触物体（16）的测量表面（17）的至少一个传感器元件；以及支...

本发明涉及测量台架及其电气控制的方法。一种用于保持测量探针的，特别是用于测量薄层厚度的测量台架，还涉及一种用于控制该测量台架的方法。