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工业技术研究所专利技术
工业技术研究所共有1项专利
具有延伸成像深度的莫阿干涉测量系统和方法技术方案
一种莫阿干涉测量系统,用于测量有轮廓表面的形状,其特征在于所述系统包括: 用于把光栅划线投射到有轮廓表面上的投影系统,包括光源和第一周期性光栅,所述第一周期性光栅具有用于产生方波线的第一方波光栅划线阵列,所述投影系统还包括用于对所...
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