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高视科技苏州有限公司专利技术
高视科技苏州有限公司共有19项专利
基于实例分割的目标物抓取方法和设备技术
本披露公开了一种基于实例分割的目标物抓取方法和设备。该方法包括:获取目标物图像;利用目标物分割模型对目标物图像进行实例分割,得到目标物掩膜;根据目标物掩膜计算目标物的中心位置;根据中心位置和目标物掩膜,确定目标物朝向;根据目标物朝向确定...
用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质技术
本申请涉及一种用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质。该方法包括:提供第一光波与第二光波,第一光波为表面打光光源发出的光波,第一光波为三基色光中的任意一种基色光,基色滤光片为滤光装置内的三基色滤光片中的任意一种滤光片,第二光...
一种三维形貌测量的光路结构制造技术
本实用新型公开了一种三维形貌测量的光路结构,包括一个半导体激光器、分束镜、第一成像物镜、第二成像物镜、第一位置探测器和第二位置探测器;半导体激光器发射的激光光束经分束镜分束后形成第一激光光束和第二激光光束;第一激光光束和第二激光光束满足...
应用多轴机械臂的锂电池外观检测装置制造方法及图纸
本申请是关于一种应用多轴机械臂的锂电池外观检测装置,该装置包括:M个六轴机械臂、M个外观检测工位和控制器,M为大于1的整数;每个外观检测工位包括:外观图像采集器、外观检测光发射器和漫反射板;M个六轴机械臂和M个外观检测工位一一对应,用于...
一种自聚焦透镜成品的折射率分布检测装置制造方法及图纸
本实用新型提供一种自聚焦透镜成品的折射率分布检测装置,包括激光器、空间滤波器、准直透镜、分光镜、标准球面镜、显微成像单元及探测器;激光器发射的激光经准直透镜后被自聚焦透镜成品反射形成参考光束;准直光束透射自聚焦透镜成品后被标准球面镜反射...
检测智能显示屏的系统、方法及可读存储介质技术方案
本发明涉及检测显示设备中的智能显示屏的系统、方法及可读存储介质,设置有第一及第二矫正透镜,第一矫正透镜与设备透镜的距离介于一定范围间,第二矫正透镜配置于第一矫正透镜相对于设备透镜的另一侧,与第一矫正透镜的距离介于另一范围间。第一矫正透镜...
一种物体三维形貌测量装置制造方法及图纸
本实用新型公开了一种物体三维形貌测量装置,第一半导体激光器和第二半导体激光器发射的两束激光满足空间正交,且两束激光入射至待测物的待测表面上的同一点;待测表面反射两束光分别至第一成像透镜和第二成像透镜上,经聚焦后分别入射第一位置敏感探测器...
显示屏生产用撕覆膜装置及显示屏生产设备和撕覆膜方法制造方法及图纸
本发明涉及一种显示屏生产用撕覆膜装置及显示屏生产设备和撕覆膜方法,撕覆膜装置包括卷筒,其可正反往复地转动装配在固定安装架上,用于正转收卷所述显示屏上的保护膜以使撕覆膜装置撕膜作业、反转放卷以使撕覆膜装置覆膜作业;卷筒上设有起边胶粘结构,...
物联网信息管理系统的数据采集优化方法及产品技术方案
本申请涉及一种物联网数据的采集方法、计算装置和计算机可读存储介质。该采集方法包括:确定点位组的分组数K,将待采集的点位按照地址分成K个点位组,以及对同一点位组内的点位使用单个查询指令实现批量数据采集。本申请的方案可以有效减少数据采集的请...
一种屏幕缺陷分类方法、电子设备及存储介质技术
本申请是关于一种屏幕缺陷分类方法、电子设备及存储介质。该屏幕缺陷分类方法包括:对输入的屏幕缺陷图像进行预处理,得到缺陷样本图像,预处理包括:滤波、阈值分割、缺陷面积和边缘分析、尺度调整和降采样。缺陷样本图像包括缺陷ROI区域,缺陷样本图...
电池极耳外观缺陷检测方法技术
本申请是关于一种电池极耳外观缺陷检测方法。该方法包括:获取待测极耳缺陷图像以及模型支持集;将待测极耳缺陷图像以及模型支持集输入目标双支神经网络,输出待测极耳缺陷图像的缺陷类型;目标双支神经网络的训练方式为:获取小样本训练集,小样本训练集...
一种基于反射激光空间分布的物体三维形貌测量方法技术
本发明公开了一种基于反射激光空间分布的物体三维形貌测量方法。基于反射激光空间分布提出了一种物体三维形貌测量方法,通过两束激光光束得到两个位置探测器的相关数据计算出被测点的高度信息和斜度信息,根据若干被测点的高度信息和斜度信息还原待测表面...
一种自聚焦透镜成品折射率分布检测方法及系统技术方案
本发明提供一种自聚焦透镜成品折射率分布检测方法及系统,通过激光光路结构的设计,无需对自聚焦透镜进行切片处理,直接对自聚焦透镜成品进行检测,增加了自聚焦透镜折射率分布的检测效率;且本发明中参考光束、测试光束共光路,属于斐索干涉光路,采用自...
基于无监督学习的异常检测方法、装置及存储介质制造方法及图纸
本发明提供一种基于无监督学习的异常检测方法,包括模型训练及模型测试;在训练时,无需对训练样本进行标记,无需使用大量的缺陷样本进行训练。且网络结构不仅约束了原图和重建图之间的损失差值,还约束了原图的编码特征与重建图的编码特征之间的损失差值...
不良偏光片识别方法、电子设备和存储介质技术
本申请是关于一种不良偏光片识别方法、电子设备和存储介质。该方法包括:获取待检测屏幕的透射图像和反射图像;所述透射图像为光线从所述待检测屏幕透射后的待测区域成像;所述反射图像为光线在所述待检测屏幕表面反射后的待测区域成像;对所述透射图像和...
基于图像分割的透明待检物缺陷识别方法技术
本申请是关于一种基于图像分割的透明待检物缺陷识别方法。该方法包括:获取第一处理图像;对所述第一处理图像进行对比度增强处理以及样本方差阈值分割,得到第二处理图像;根据所述第一处理图像的亮斑图像进行区域分割,得到分割位置信息和区域分割图像;...
应用多轴机械臂的锂电池外观检测方法技术
本申请是关于一种应用多轴机械臂的锂电池外观检测方法。该方法包括:获取待测锂电池的条码信息及定位信息;根据定位信息控制多轴机械臂将待测锂电池移动至图像采集器的拍摄范围内;按照关节旋转策略控制多轴机械臂执行关节旋转指令;关节旋转策略包括:N...
锂电池侧边图像采集装置制造方法及图纸
本实用新型是关于一种锂电池侧边图像采集装置。包括:支座底板、承托板、集光箱体和图像传感器;该集光箱体内部六个面中包括有:待拍摄面,反射板面以及光源面;该待拍摄面有且只有一个,用于放置待测锂电池的侧面;该反射板面以及该光源面的数量之和等于...
用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质技术
本申请涉及一种用于对LCD模组进行检测的方法、电子设备及存储介质。该方法包括:提供第一光波与第二光波,第一光波为表面打光光源发出的光波,第一光波为三基色光中的任意一种基色光,基色滤光片为滤光装置内的三基色滤光片中的任意一种滤光片,第二光...
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