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恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司专利技术
恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司共有270项专利
基于网络的测量系统技术方案
本发明涉及基于网络的测量系统。本发明公开了一种基于网络的测量系统(1),包括:第一传感器(2a‑f);至少一个第二传感器(2a‑f);以及至少一个中间单元(5),其中,第一传感器和/或第二传感器(2a‑f)经由连接被电连接到中间单元(5...
用于在正在进行的操作期间校准传感器的方法、具有用于校准的实施方法的传感器技术
本发明涉及一种用于在正在进行的操作期间校准传感器的方法和具有用于校准的实施方法的传感器,该方法至少包括以下步骤:提供具有过程容器、传感器、控制单元、存储器的传感器系统,其中具有循环分析物浓度的介质流流过过程容器,其中传感器布置在与介质流...
用于测量流体的化学性质和/或物理性质的模块化测量单元制造技术
一种用于测量流体的化学和/或物理性质的模块化测量单元,其具有两个或更多个连续布置且互连的独立模块,该独立模块构造为流通式测量单元,所述流通式测量单元都具有用于流体的流入和流出开口,该开口分别分配给独立模块的第一和第二外表面,所有独立模块...
TOC分析仪制造技术
本发明涉及TOC分析仪。一种用于确定样品的碳含量的TOC分析仪,包括:储存容器,其具有用于样品的样品进料管线和到高温炉的至少一个样品去除管线,用于搅拌储存容器中的样品的搅拌器和用于将不含CO<subgt;2</subgt;的...
用于光化学传感器的传感器元件制造技术
本发明涉及一种用于光化学传感器的传感器元件。具体地,一种用于光化学传感器(1)的传感器元件(7),包含:‑发光指示剂,其发光能够用氧猝灭,和‑清除剂单元,通过与单线态氧反应形成化学反应产物以使单线态氧失活,其特征在于,将所述清除剂单元选...
电子设备壳体制造技术
本发明涉及电子设备壳体。所述电子设备壳体(1)包括:用于界定接纳空间(10)的壳体盖(2)和/或壳体主体(3);以及布置在所述接纳空间(10)中的电子设备模块(27),其中,所述电子设备模块(27)具有可从所述电子设备壳体(1)的外部接...
发射器、方法和计算机程序技术
本发明涉及发射器、方法和计算机程序。一种测量换能器(1)包括:至少两个槽(5);与槽(5)相关联的至少一个模块(4);以及具有存储器(6a)的数据处理单元(6),其中,数据处理单元(6a)被设计为读出模块(4)是否被分配槽(5)以及被分...
测量介质的被测变量的方法和执行该方法的测量系统技术方案
本发明涉及测量介质的被测变量的方法和执行该方法的测量系统。一种利用在测量点处彼此相邻地安装的传感器的集合测量介质的被测变量的方法包括:利用每个传感器确定每个被测变量中的至少一个测量值和参数的参数值,其中由传感器中的每一个测量同一参数,基...
用于测量介质的至少一个被测量的测量装置制造方法及图纸
描述了用于测量介质的被测量的测量装置(100、200),其具有测量单元(1)、用于保持测量单元的测量单元容座(3、3’)和用于测量被测量的测量设备(5、5’),其中测量单元包括测量室(7)和参考室(9),其中介质能够流过测量室或者测量室...
包括测量池的测量装置和用于在生物技术和/或制药过程中使用该测量装置的方法制造方法及图纸
本发明涉及包括测量池的测量装置和用于在生物技术和/或制药过程中使用该测量装置的方法。一种测量装置(1),其用于确定测量介质的物理过程变量、状态变量或性质,特别是包含在测量介质中的一种或多种组分的浓度,其中,测量装置(1)包括至少一个具有...
在静止测量点处校准电流型传感器的方法和电流型传感器的原位校准的设备技术
本发明涉及在静止测量点处校准电流型传感器的方法和电流型传感器的原位校准的设备。一种用于在静止测量点(1)处校准电流型传感器(2)的方法,包括以下步骤:A在静止测量点(1)处提供(100)包括稳定的校准流体(31)的移动校准设备(10);...
自动化技术现场设备和现场设备的安全操作的方法技术
本发明涉及自动化技术现场设备和现场设备的安全操作的方法。本发明涉及自动化技术的现场设备,现场设备具有被设计为检测过程工程过程的物理、化学或生物变量的至少一个传感器和/或被设计为影响过程工程过程的物理变量的至少一个致动器,或者这种传感器和...
生产传感器元件的方法技术
本发明涉及一种生产传感器元件的方法。一种生产用于电势传感器(9)的传感器元件(1)的方法,包括以下步骤:‑在基体(2)、特别是由电绝缘材料制成的基体的表面上形成由电绝缘玻璃制成的玻璃层(3);‑在玻璃层(3)上布置由铜或铜质量分数至少为...
组件制造技术
本发明公开组件,用于容纳传感器,该传感器被设计用以测量容器中的介质的至少一种被测变量,该组件包括:具有至少部分为圆柱形的浸没部的壳体,该浸没部包括第一开口和与该开口相对的第二开口;可旋转阀体,其在远离过程连接件的一侧包括第一阀体开口和与...
校准标准件、传感器设备和用途制造技术
本发明涉及校准标准件、传感器设备和用途,校准标准件是用于对光学传感器(100)进行调校、校准和/或对光学传感器执行功能检验的校准附件(50),该光学传感器被设计成用于借助光测量介质(5)中的至少一个测量参量,其中,传感器(100)被设计...
校准容器和用于校准的方法技术
本发明涉及校准容器和用于校准的方法。本发明公开了一种用于待校准的光学浸没传感的校准容器,其被设计用于测量、校准和/或调整被测量变量,包括:壳体,其具有用于引入光学浸没传感器的能够可重复紧密密封的开口,其中,壳体在其内部包括校准溶液,其中...
光学测量系统技术方案
本发明涉及光学测量系统。一种用于确定介质中的测量变量的光学测量系统包括用于发射光的光源;具有介质的容器,其中,光源在第一光路上将测量光辐射到具有介质的容器中,其中,测量光被介质根据测量变量转换成接收光,并且在第二光路上辐射参考光经过具有...
再生限制电路制造技术
本发明涉及再生限制电路。本发明涉及一种用于潜在爆炸区域的再生限制电路,其用于向传感器供应能量并用于与传感器进行数据通信,其中再生限制电路具有输入单元、第一限制单元、第二限制单元、监测单元、高电压单元、节点单元和参考电势,其中输入单元具有...
测量池、测量池插座和具有测量池的测量装置制造方法及图纸
本发明涉及测量池、测量池插座和具有测量池的测量装置。本发明描述了可以成本有效地制造并且易于操纵、插入和/或更换的测量池(1)、用于接收测量池(1)的测量池插座(3)和测量装置(100,200),测量装置包括测量池插座(3,3’);被或可...
用于透明介质的被测对象的光学测量的方法和传感器技术
本发明涉及用于透明介质的被测对象的光学测量的方法和传感器。描述了一种用于测量透明介质(1)的一个或至少两个被测对象的方法,其中借助于相机(3)通过介质(1)的预定形状的体积(V)获取图案(5)的图片(A),并且基于介质(1)的体积(V)...
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