【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于对光学传感器进行调校、校准和/或对光学传感器执行功能检验的校准标准件、传感器设备和用途。
技术介绍
1、传感器涉及的是荧光传感器。在荧光测量中，通常利用短波激发光(发射光)照射介质，并且探测由介质产生的长波荧光(接收光)，该长波荧光依赖于待测量的种类的浓度而生成。荧光传感器在此包括光源和接收器。光源发出发射光，接收器接收接收光。如果在本文中提到“荧光”或“荧光传感器”，那么通常指的是冷发光或冷发光传感器。因此，“荧光”也包括“磷光”。
2、这种荧光传感器必须定期接受功能检验和/或被校准。为此，可以在液体测量装置中使用具有限定的荧光的固体或相应的标准液体。在此最重要的是，该标准件的射出的荧光强度相对于环境影响、老化和激发用的紫外线辐射是稳定的。
3、在液体标准件中，非常快地出现老化，在几天后，荧光强度就已经发生明显的变化。此外，处理液体是麻烦的。
4、在市场上可获得的固体标准件通常包含有机材料、例如基于pmma的有机材料。这导致由激发用的紫外线辐射引起的荧光信号的强烈的衰减。
<...【技术保护点】
1.用于对光学传感器(100)进行调校、校准和/或对光学传感器执行功能检验的校准附件(50)，所述光学传感器被设计成用于借助光测量介质(5)中的至少一个测量参量，其中，所述传感器(100)被设计成用于至少射出在200nm至700nm、尤其是200nm至500nm范围内的波长的发射光，所述校准附件包括：
2.根据权利要求1所述的校准附件(50)，
3.根据权利要求1或2所述的校准附件(50)，
4.根据权利要求3所述的校准附件(50)，
5.根据权利要求3或4所述的校准附件(50)，
6.根据前述权利要求中任一...
【技术特征摘要】
1.用于对光学传感器(100)进行调校、校准和/或对光学传感器执行功能检验的校准附件(50)，所述光学传感器被设计成用于借助光测量介质(5)中的至少一个测量参量，其中，所述传感器(100)被设计成用于至少射出在200nm至700nm、尤其是200nm至500nm范围内的波长的发射光，所述校准附件包括：
2.根据权利要求1所述的校准附件(50)，
3.根据权利要求1或2所述的校准附件(50)，
4.根据权利要求3所述的校准附件(50)，
5.根据权利要求3或4所述的校准附件(50)，
6.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
7.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
8.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
9.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
10.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
11.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
12.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
13.根据前述权利要求中任一项所述的校准附件(50)，
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【专利技术属性】
技术研发人员：马特乌斯·斯佩克，安德烈亚斯·拜尔，蒂洛·克拉齐穆尔，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司，
类型：发明
国别省市：
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