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布鲁克AXS公司专利技术
布鲁克AXS公司共有6项专利
用波长色散x射线荧光光谱仪确定试验样本中质量分数的系统和方法技术方案
本发明公开了用于基于通过波长色散X射线荧光光谱仪进行的测量来确定试验样本中的一种或多种元素的质量分数的系统、方法和计算机程序产品,该WDX光谱仪测量与该试验样本中具有待确定质量分数的相应元素相关联的总强度。质量分数模块通过使用校准公式以...
用于改进通过波长色散x射线荧光光谱仪获得的脉冲高度光谱中的峰值强度的测量的系统和方法技术方案
公开一种用于估计通过波长色散x射线荧光光谱仪获得的脉冲高度光谱中的峰值强度的系统(100)、方法和计算机程序产品。脉冲高度光谱(212)是通过波长色散X射线荧光光谱仪(200)的多通道分析器(205)从样品(202)获得。模型生成器(1...
发散束二维X射线衍射制造技术
二维X射线衍射仪使用X射线源,该X射线源朝向在测试中的样品发射发散束。该发散束在垂直于其传播方向的第一方向上具有大体上固定的宽度,且在垂直于该传播方向的第二方向上具有与距该源的距离成比例地增加的厚度。一个孔径可以被用来在该第二方向上阻挡...
用于使用平面内掠入射衍射进行表面标测的方法和装置制造方法及图纸
一种通过位置敏感检测器使用平面内掠入射衍射检查晶体样本的表面的装置。x射线源照射样本的一个延伸区域,并且对于晶体的具有适当晶格取向的区段,产生一个细长的衍射信号。然后可以改变样本和x射线束的相对位置以照射样本的不同区域,使得衍射信号对应...
用于X射线衍射测量的具有针对非理想传感器行为的校正的多次采样CMOS传感器制造技术
通过一个五步骤处理来降低CMOS有源像素传感器中的每个像素的读出噪声,在该五步骤处理中,在一个传感器帧时间段期间对来自该传感器的像素电荷数据进行多次无损采样,且针对增益变化和非线性校正该像素电荷数据。然后,估计固定图案噪声和暗电流噪声,...
用于校正以卷帘式快门模式从X射线检测器读出的X射线数据中的时序偏移的方法技术
在以卷帘式快门读出模式运行的X射线检测器中,通过使样本旋转与检测器读出精确地同步,通过插值或计算可以补偿由卷帘式快门读出所导致的时序偏移对图像强度和角位置的影响,从而允许用常规软件准确地整合数据。在一个实施方案中,相对于时间来对反射强度...
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