北京兆维智能装备有限公司专利技术

北京兆维智能装备有限公司共有67项专利

  • 本申请提供一种点云数据处理方法、装置、电子设备及存储介质,涉及计算机处理技术领域。方法包括:获取扫描待检测目标得到的点云数据,点云数据包括构成点云数据的三维点,以及每个三维点对应的坐标和高度值;根据每个三维点的像素值和坐标,构建待检图像...
  • 本技术涉及一种电池包外观缺陷检测装置,属于电池外观检测技术领域。电池包外观缺陷检测装置,包括检测柜体,检测柜体上平行且间隔设置第一Y轴移动模组和第二Y轴移动模组,第一Y轴移动模组上滑动连接有旋转机构,旋转机构的输出端竖直向上连接旋转平台...
  • 本发明涉及一种蚀刻线路视觉检测方法、装置及存储介质,其方法包括如下步骤:基于计算机视觉识别方法构建蚀刻线路检测模型;获取待测蚀刻线路的图像,得到待测图像;对待测图像进行预处理,得到预处理待测图像;通过将预处理待测图像输入蚀刻线路检测模型...
  • 本发明涉及一种电路板焊盘表面缺陷检测方法、装置及存储介质,其方法包括基于计算机视觉识别方法构建焊盘缺陷识别模型;采集待测电路板的正面图像,得到待测原始图像;利用所述焊盘缺陷识别模型识别所述待测原始图像中有无焊盘特征;当所述待测原始图像中...
  • 本发明涉及一种调节XYθ轴的运动平台装置,属于液晶显示LCD生产领域。包括:直线运动机构、Y轴归正驱动机构、X轴归正驱动机构、运动托板、运动平台、视觉检测机构、底座、多个分隔板和控制机构;直线运动机构安装在底座上,Y轴归正驱动机构设置在...
  • 本技术涉及玻璃面板检测技术领域,尤其涉及一种基于辊轮传输的玻璃面板检测设备,包括底座框架、辊轮传动组件以及相机检测组件,所述底座框架的底端均匀设有多个调节支脚,所述辊轮传动组件水平固定设在底座框架的上表面上,所述相机检测组件设在底座框架...
  • 本发明提供一种半导体封装测试环节芯片外观缺陷的检测方法及系统,涉及机器视觉技术领域。方法包括:导入待检测图像和模板图像;通过模板图像对待检测图像进行超差运算,得到二值化缺陷图像;通过对二值化缺陷图像进行连通域分析,得到缺陷标记,并分别对...
  • 本发明涉及一种用于
  • 本发明涉及一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法及装置,属于图像处理技术领域,包括:获取待检测图像,对待检测图像进行目标区域识别处理
  • 本发明公开了一种电子玻璃面板缺陷检测方法
  • 本发明公开了一种直线输送台及缺陷视觉检测系统,所述直线输送台包括二自由度驱动件
  • 本发明提供基于深度学习的
  • 本发明公开了一种彩膜垫料基本参数测量方法
  • 本发明涉及一种基于MMG的边缘检测自动换型方法及装置,其中方法包括:S1,分别为混合集成在同一玻璃基板上且尺寸不同的两种类型的待检测液晶面板配置对应的MMG配方;S2,判定所述边检单元的工位上存不存在待检测液晶面板,存在则执行S3;反之...
  • 本发明公开了一种曲面屏内弧边的微裂纹缺陷检测方法、系统和存储介质,所述方法包括:获取待检测曲面屏的每条内弧边分别对应的多个内弧边图像;其中,任一内弧边分别对应的多个内弧边图像包含该内弧边的完整影像;将每个内弧边图像分别输入至用于对微裂纹...
  • 本实用新型涉及玻璃面板检测技术领域,尤其涉及一种玻璃面板防夹碎对位机构以及玻璃面板辊轮传输装置,包括驱动模组安装底座,所述驱动模组安装底座上设有固定对位驱动模组和带缓冲对位驱动模组,所述固定对位驱动模组上安装有固定对位安装架,所述带缓冲...
  • 本发明提供一种用于高精密光学系统的平行光调试装置及方法,光源通过光学模组在第一位置处的参考屏上形成第一光斑,光斑块采集系统通过第一光斑得到第一光斑直径,同时移动光斑采集系统与参考屏,且保持二者相对位置不变,光源通过光学模组在第二位置处的...
  • 本发明涉及一种基于深度学习的显示屏边缘检测方法、装置及设备,该方法包括:获取针对显示屏的待检测图像;对待检测图像按照设定尺寸进行裁剪,得到至少一个图像块;根据至少一个图像块,通过预训练的检测模型,识别出待检测图像的检测结果,检测结果包括...
  • 本发明涉及基于深度学习的显示屏裂纹缺陷检测方法、装置及设备,该方法包括:获取针对显示屏的待检测图像;通过预训练的第一检测模型,识别出所述待检测图像中的裂纹区域;通过预训练的第二检测模型,识别出所述待检测图像中的裂纹缺陷;根据所述裂纹区域...
  • 本发明涉及一种用于cell面内及边缘缺陷的检测方法及系统,包括以下步骤:获取针对液晶屏的第一图像;根据第一图像,确定第一图像上的边缘待检测区域;根据边缘待检测区域,对液晶屏的边缘进行检测,得到第一检测结果;获取针对显示屏的第二图像;根据...