本发明涉及计算机技术领域，公开了一种图像生成方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取预训练的文生图模型，并基于预设训练样本集对文生图模型进行离线量化，获取固定量化参数和多个可变量化参数；通过预设推理引擎，根据固定量化参数和多个可变量...

本发明实施例公开了一种基于ID保序电路的重映射方法、设备及存储介质。ID保序电路包括主机及从机，主机通过上游ID向从机发送请求，使用从机下游ID进行响应，ID保序。该方法包括创建与各主机分别对应的重映射表，用于记录对应主机的ID重映射信...

本发明公开了一种间接访问寄存器的测试方法、装置、设备及介质。IP级测试方法包括：根据与目标间接访问寄存器匹配的前门访问路径和后门访问路径，建立前后门访问路径映射关系；根据前后门访问路径映射关系和前门读写方法，构建IP级测试激励对目标间接...

本发明实施例公开了一种结构识别模型训练、模型结构识别方法、设备及介质，包括：将目标结构模型转换为静态图结构数据；其中，所述静态图结构数据包括目标结构模型的算子节点，以及各所述算子节点之间的数据流向边；对所述静态图结构数据中的各算子节点和...

本发明实施例公开了一种模型训练、模型测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，模型训练方法包括：获取待训练模型；其中，所述待训练模型的模型精度超过预设阈值；按照模型参数修改策略修改所述待训练模型的模型随机参数，以使所述待训练模型的随机数...

本发明涉及集成电路技术领域，公开了一种存储访问方法

本发明公开了一种

本发明公开了一种嵌入表访问方法

本发明实施例公开了一种算子的并行调度方法、装置、电子设备及存储介质。该算子的并行调度方法，具体可以包括：确定目标AI模型，并确定所述目标AI模型对应的目标模型拓扑图；确定所述目标模型拓扑图中的拓扑图算子节点对应的算子节点开销，并根据所述...

本发明公开了一种大语言模型训练方法

本发明实施例公开了一种应用于片上系统的数据处理装置。该装置包括：数据处理器、控制器、配置接口、外部总线、以及本地存储；其中，控制器分别与外部总线、本地存储及配置接口通信连接；配置接口与数据处理器通信连接；数据处理器分别与控制器及本地存储...

本发明实施例公开了一种芯片老化测试方法和测试电路。芯片老化测试方法包括：接收控制指令；根据控制指令，生成检测指令集；将检测指令集传输至芯片的各存储测试电路，并接收各存储测试电路反馈的测试结果；根据各存储测试电路反馈的测试结果，确定芯片的...

本发明公开了一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；在寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映...

本申请实施例公开了一种自适应封装基板预缩方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：根据接收到的第一用户交互信息，确定原设计图中的待转移区域和待转移区域中包含所有焊盘的第一焊盘区域；按照信息抓取需求，从待转移区域和第一焊盘区域中抓取预缩...

本发明实施例公开了一种芯片老化测试电路。该芯片老化测试电路包括：老化输入控制模块，用于输出控制数据；选择模块，与老化输入控制模块电连接，用于选择输出的数据；伪随机数生成模块，与选择模块电连接，用于生成伪随机数；移位器，与伪随机数生成模块...

本发明公开了一种神经网络的内存分配方法、装置、设备及介质，包括：在神经网络计算图对应的多个计算节点中依次获取一个节点作为当前节点；通过与当前节点匹配的计算核，在设备内存中申请计算内存，并在检测到计算核对当前节点完成计算后对计算内存进行释...

本发明实施例公开了一种多芯片封装的老化测试方法和老化测试电路。多芯片封装的老化测试方法包括：接收控制指令；根据控制指令，生成伪随机序列；将伪随机序列传输至多芯片封装中的各芯片内部，并接收各芯片反馈的测试结果；当测试结果无误时，控制伪随机...

本发明公开了一种模型混精推理方法、装置、设备及存储介质，包括：将输入样本输入至芯片内的深度学习模型中，通过芯片内的计算节点对输入样本进行计算，得到float32类型的目标结果；获取模型的分段列表，根据模型针对各分段在预设精度选择参数下的...

本发明公开了一种互联系统的自动化布局方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取互联系统中各路由节点之间的第一连接关系和各出入口节点与相邻路由节点之间的第二连接关系；根据第一连接关系，确定各路由节点在布局空间中的初始路由坐标；根据第...

本发明涉及电数字数据处理技术领域，尤其涉及一种集成电路验证方法、系统、装置、设备及介质。方法包括：生成与至少一个待测接口对应的事务转换组件和观测组件；若验证模式为主动模式，则通过对应的事务转换组件生成各待测接口对应的待传递事务并发送至验...