【技术实现步骤摘要】
一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]随着集成电路规模越来越庞大，功能越来越复杂，寄存器作为电路实现的关键环节，对其功能的正确性进行测试显得尤为重要。
[0003]现有的对寄存器进行测试的方法，通常需要验证人员随着芯片的更迭，适应编写寄存器对应的测试序列，并且手动添加寄存器相对应待测电路的位置信息。
[0004]但是，现有的测试方法导致测试序列复用性差，并且无法保证寄存器验证过程的完备性；在验证人员手动添加位置信息的同时，容易引入额外误差，并且增加了测试过程的复杂度。其次，在寄存器实际的验证过程中，需要在某些测试序列中排除一些寄存器，如复位寄存器，时钟门控寄存器，功能开关寄存器等，但是现有测试方法需要手动搜寻并逐个添加，很大程度上降低了验证效率。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供了一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种寄存器测试方法，所述方法包括：
[0007]获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；
[0008]在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集；>[0009]获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
[0010]根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
[0011]可选的，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，包括：
[0012]将底层目标寄存器，以及寄存器域分别相对于寄存器顶层的位置信息，添加至寄存器描述文件中，得到更新后的寄存器描述文件。
[0013]可选的，所述通用测试序列合集中包括复位值测试序列、读写测试序列、只读测试序列、域测试序列以及多访问端测试序列。
[0014]可选的，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，包括：
[0015]将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息；
[0016]将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息；
[0017]将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息；
[0018]将所述目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息。
[0019]可选的，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，包括：
[0020]根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的动态测试表格；
[0021]根据所述用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，对所述动态测试表格进行更新，得到与目标寄存器匹配的目标测试表格。
[0022]可选的，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试，包括：
[0023]根据与所述目标寄存器匹配的目标测试表格，对目标寄存器的功能进行正确性测试。
[0024]根据本专利技术的另一方面，提供了一种寄存器测试装置，所述装置包括：
[0025]模型生成模块，用于获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系；
[0026]序列获取模块，用于获取预先构建的通用测试序列合集；
[0027]表格生成模块，用于获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
[0028]测试模块，用于根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
[0029]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述设备包括：
[0030]至少一个处理器；以及
[0031]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0032]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的寄存器测试方法。
[0033]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的寄存器测试方法。
[0034]本专利技术实施例提供的技术方案，通过获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试的技术手段，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
[0035]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1是根据本专利技术实施例提供的一种寄存器测试方法的流程图；
[0038]图2是根据本专利技术实施例提供的另一种寄存器测试方法的流程图；
[0039]图3是根据本专利技术实施例提供的另一种寄存器测试方法的流程图；
[0040]图4是根据本专利技术实施例提供的一种寄存器测试装置的结构示意图；
[0041]图5是实现本专利技术实施例的寄存器测试方法的电子设备结构示意图。
具体实施方式
[0042]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[00本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种寄存器测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集；获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，包括：将底层目标寄存器，以及寄存器域分别相对于寄存器顶层的位置信息，添加至寄存器描述文件中，得到更新后的寄存器描述文件。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通用测试序列合集中包括复位值测试序列、读写测试序列、只读测试序列、域测试序列以及多访问端测试序列。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，包括：将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息；将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息；将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息；将所述目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，包括：根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜峰，张亚林，
申请(专利权)人：北京燧原智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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