金属掩膜板缺陷的判断方法和制造设备技术

一种金属掩膜板(700)缺陷的判断方法以及一种用于判断金属掩膜板(700)缺陷的制造设备(100)，金属掩膜板(700)用于贴合像素基板(800)以辅助像素基板(800)形成多个基板像素点(820)。判断方法包括步骤：(S112)获取金属掩膜板(700)的图像，图像包括图像像素点；(S114)在同一参考坐标系下，建立图像像素点和基板像素点(820)的位置关系；(S116)测试基板像素点(820)以判断基板像素点(820)是否异常并获取异常的基板像素点(820)的坐标位置；和(S118)根据异常的基板像素点(820)的坐标位置和位置关系确定金属掩膜板(700)的缺陷位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请，说明书已公开。

【技术保护点】
PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张耀宇，王彤，康慧，
申请(专利权)人：深圳市柔宇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44