【技术实现步骤摘要】
一种智能卡芯片焊盘排布结构
本专利技术涉及智能卡芯片
,尤其涉及一种智能卡芯片焊盘排布结构方面。
技术介绍
针对智能卡芯片,常规的焊盘布局结构中,封装焊盘在芯片边缘,对称分布,如图1所示,为现有的智能卡芯片焊盘布局结构,该焊盘布局结构包括芯片101,测试焊盘102,封装焊盘103。这样的焊盘布局结构,虽然可以方便封装焊线,但是,也制约了测试能力。因为,由于这种焊盘双边分布结构,使得相邻芯片间探针间距离近,一方面,存在对针卡制作要求较高,生产周期长,维护保养困难;另一方面,由于连接探针的上层走线也必须并列放置,浪费了大量的布线空间,使得容纳探针受限,该排布方式下,比较理想的状态也仅仅做到64个左右芯片并行测试。
技术实现思路
针对上述现有技术中存在的不足,本专利技术的目的是提供一种智能卡芯片焊盘排布结构,其中,焊盘分为测试焊盘和封装焊盘,具有测试焊盘和封装焊盘呈一直线排布或者错开排布的特点,使得相邻芯片间距固定,排顺唯一,这样测试探卡能够容纳更多的测试探针,很容易做到128个及以上芯片并行测试,达到缩短测试时间,降低生产制造成本的目的。为了达到上述技术目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种智能卡芯片焊盘排布结构,包括芯片、封装焊盘和测试焊盘,其中,所述封装焊盘呈直线排布,直线距离芯片一边为50~120um;测试焊盘与封装焊盘呈错开排布且测试焊盘与封装焊盘之间的距离为100~200um,或者测试焊盘与封装焊盘呈一直线排布。优选地,所述芯片为接触式智能卡。本技术由于采用了上述测试焊盘和封装焊盘呈一直线排布或者错开排布结构,所获得的有益效果是,使得芯片测试时,相邻 ...
【技术保护点】
1.一种智能卡芯片焊盘排布结构,包括芯片、封装焊盘和测试焊盘,其特征在于,所述封装焊盘呈直线排布,直线距离芯片一边为50~120um;测试焊盘与封装焊盘呈错开排布且测试焊盘与封装焊盘之间的距离为100~200um,或者测试焊盘与封装焊盘呈一直线排布。
【技术特征摘要】
1.一种智能卡芯片焊盘排布结构,包括芯片、封装焊盘和测试焊盘,其特征在于,所述封装焊盘呈直线排布,直线距离芯片一边为50~120um;测试焊盘与封装焊盘呈错开排布且...
【专利技术属性】
技术研发人员:欧阳睿,肖金磊,许秋林,刘静,邹欢,李秀丽,
申请(专利权)人:紫光同芯微电子有限公司,
类型:新型
国别省市:北京,11
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