光学检查系统技术方案

本申请涉及光学检查系统。所述光学检查系统包括：光源，被配置为将光发射到光路中；在光通过的光路中的第一透镜；在光通过第一透镜并从显示器层反射之后光通过的光路中的第二透镜；光通过的光路中的相机透镜；以及数字图像传感器，所述数字图像传感器使用已经穿过相机透镜的光来捕获图像。

Optical inspection system

The application relates to an optical inspection system. The optical inspection system includes: a light source configured to emit light into the optical path; a first lens in the optical path through which light passes; a second lens in the optical path through which light passes after passing through the first lens and reflecting from the display layer; a camera lens in the optical path through which light passes; and a digital image sensor, the digital image sensor. The image sensor uses the light that has passed through the lens of the camera to capture the image.

【技术实现步骤摘要】
光学检查系统
本技术一般而言涉及检查系统，并且更具体地涉及光学检查系统。
技术介绍
在电子设备制造过程中通常期望测试部件。如果部件包含故障，那么部件可能被修理或更换。这可以有助于提高制造良率和设备可靠性。如果没有注意，那么可能没有检测到故障。因此，部件组装操作可能不可靠、可能需要复杂且昂贵的装备、或者可能需要花费太多的时间来令人满意地完成。
技术实现思路
可以使用光学检查系统来生成电子设备中的显示器或其它部件的阴影图(shadowgraph)。图像处理操作可以用于分析阴影图以识别指示故障的黑暗区域。该系统包括诸如点光源的光源，其沿着光路发射光。第一透镜准直来自光源的光。被测试设备(诸如具有显示器或其它光学部件的电子设备)被插入在光路中并且反射已经穿过第一透镜的光。第二透镜帮助将光聚集到相机上。第二透镜可以被插入在第一透镜与电子设备之间或者电子设备与相机之间。相机具有相机透镜，相机透镜具有带开口的光圈结构。光穿过开口到相机中的图像传感器。控制电路系统处理用相机捕获的图像以检测暗点。当检测到暗点时，可以发出警报或者可以采取其它合适的动作。根据本申请的一个方面，提供了一种可操作以检查被测试电子设备的光学检查系统，其特征在于，所述光学检查系统包括：光源，所述光源被配置为发光；第一透镜，所述第一透镜被配置为准直光并使准直的光从电子设备反射；相机，所述相机具有相机透镜和图像传感器，其中所述相机透镜具有带开口的光圈结构；以及第二透镜，所述第二透镜将由图像传感器捕获的通过所述开口之后的反射的准直的光聚集在相机透镜中。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括控制电路系统，所述控制电路系统被配置为检测来自图像传感器的图像中的暗点。根据一种实施方式，所述控制电路系统还被配置为响应于确定图像包含多于预定阈值量的暗点而发出警报。根据一种实施方式，所述第一透镜和所述第二透镜包括相应的第一平凸透镜和第二平凸透镜。根据一种实施方式，所述光源包括点光源。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括至少一个使光偏振的偏振器。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括：插入在所述光源和所述第一透镜之间的第一偏振器；以及插入在所述第二透镜和所述相机之间的第二偏振器。根据本公开的另一个方面，提供了一种可操作以光学检查电子设备中的显示器层的光学检查系统，其特征在于，所述光学检查系统包括：光源，所述光源被配置为发射从显示器层反射的光；相机，所述相机具有带光圈结构的相机透镜，所述光圈结构具有光通过的开口；以及控制电路系统，所述控制电路系统被配置为检测来自相机的图像中的暗点来检测显示器层中的缺陷。根据一种实施方式，所述控制电路系统还被配置为使用阴影图技术来检测来自相机的图像中的暗点以检测显示器层中的缺陷。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括插入在所述光源和所述电子设备之间的至少一个透镜。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括插入在所述光源与所述透镜之间的偏振器。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括：第一透镜；以及第二透镜，其中所述控制电路系统被配置为当光沿着光路穿过所述第一透镜和所述第二透镜时从相机收集图像。根据一种实施方式，所述电子设备位于所述第一透镜和所述第二透镜之间的光路中。根据一种实施方式，所述第一透镜和所述第二透镜位于所述光源和所述电子设备之间的光路中。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括：在所述光源和所述第一透镜之间的第一偏振器；以及在所述第二透镜和所述相机之间的第二偏振器。根据一种实施方式，所述第一透镜和所述第二透镜分别包括第一平凸透镜和第二平凸透镜。根据本公开的再一个方面，还提供了一种可操作以创建电子设备中的显示器层的阴影图的光学检查系统，其特征在于，所述光学检查系统包括：光源，被配置为将光发射到光路中；在光通过的光路中的第一透镜；在光通过第一透镜并从显示器层反射之后光通过的光路中的第二透镜；光通过的光路中的相机透镜；以及数字图像传感器，所述数字图像传感器使用已经穿过相机透镜的光来捕获图像。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括耦合到数字图像传感器的控制电路系统，所述控制电路系统被配置为检测图像中的暗点。根据一种实施方式，所述控制电路系统被配置为响应于用所述控制电路系统确定图像中存在多于预定量的暗点而发出警报。根据一种实施方式，所述光学检查系统还包括在光路中的偏振器。根据一种实施方式，所述相机透镜包括具有光通过的开口的光圈结构。附图说明图1是根据实施例的说明性电子设备的透视图。图2是根据实施例的具有显示器的说明性电子设备的侧视图。图3是根据实施例的说明性光学检查系统的图。图4是根据实施例的在操作图3的光学检查系统时涉及的说明性操作的流程图。具体实施方式电子设备可以被提供有诸如显示器的光学部件。在制造操作的过程中，可以对显示器和其它设备部件进行光学检查。如果检测到故障，那么可以修理或更换显示器或其它部件。在图1中示出了可以使用光学检查技术进行测试的类型的电子设备。电子设备10可以是计算设备，诸如膝上型计算机、包含嵌入式计算机的计算机监视器、平板计算机、蜂窝电话、媒体播放器或其它手持式或便携式电子设备、较小的设备，诸如腕表设备(例如具有腕带的手表)、吊坠设备、头戴式耳机或耳塞设备、嵌入在佩戴在用户头上的眼镜或其它装备中的设备、或其它可穿戴或微型设备、电视机、不包含嵌入式计算机的计算机显示器、游戏设备、导航设备、诸如其中具有显示器的电子装备被安装在售货亭或汽车中的系统的嵌入式系统、实现这些设备中的两个或更多个的功能的装备、或其它电子装备。在图1的说明性配置中，设备10是便携式设备，诸如蜂窝电话、媒体播放器、平板计算机、手腕设备或其它便携式计算设备。如果期望，设备10可以使用其它配置。图1的示例仅仅是说明性的。在图1的示例中，设备10包括显示器，诸如安装在外壳12中的显示器14。有时可以被称为壳体或壳的外壳12可以由塑料、玻璃、陶瓷、纤维复合材料、金属(例如，不锈钢、铝、钛、金等)、其它合适的材料、或这些材料中的任何两种或更多种的组合形成。外壳12可以使用其中外壳12的一些或全部被加工或模制为单个结构的单体构造形成，或者可以使用多个结构(例如，内部框架结构、形成外部外壳表面的一个或多个结构等)形成。显示器14可以是包含一层导电电容式触摸传感器电极或其它触摸传感器部件(例如，电阻式触摸传感器部件、声学触摸传感器部件、基于力的触摸传感器部件、基于光的触摸传感器部件等)的触摸屏显示器或者可以是不是触摸敏感的显示器。电容式触摸屏电极可以由氧化铟锡焊盘或其它透明导电结构的阵列形成。显示器14可以包括由液晶显示器(LCD)部件形成的像素的阵列、电泳像素的阵列、等离子体像素的阵列、有机发光二极管像素或其它发光二极管的阵列、电润湿像素或基于其它显示技术的像素的阵列。显示器14可以包括一层或多层透明保护材料(例如，玻璃、透明聚合物等)。例如，有时可以被称为显示器覆盖层的显示器14的最外层可以由诸如玻璃的硬透明材料形成，以帮助保护显示器14免受损害。设备10的其它部分(诸如外壳12的部分和/或其它结构)也可以由玻璃或透明聚合物形成。例如，外壳12中诸如后外壳壁的壁可以由玻璃形成。光学检查技术可以用于检查显示器层和由显示器覆盖层和/或透本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可操作以检查被测试电子设备的光学检查系统，其特征在于，所述光学检查系统包括：光源，所述光源被配置为发光；第一透镜，所述第一透镜被配置为准直光并使准直的光从电子设备反射；相机，所述相机具有相机透镜和图像传感器，其中所述相机透镜具有带开口的光圈结构；以及第二透镜，所述第二透镜将由图像传感器捕获的通过所述开口之后的反射的准直的光聚集在相机透镜中。

【技术特征摘要】
1.一种可操作以检查被测试电子设备的光学检查系统，其特征在于，所述光学检查系统包括：光源，所述光源被配置为发光；第一透镜，所述第一透镜被配置为准直光并使准直的光从电子设备反射；相机，所述相机具有相机透镜和图像传感器，其中所述相机透镜具有带开口的光圈结构；以及第二透镜，所述第二透镜将由图像传感器捕获的通过所述开口之后的反射的准直的光聚集在相机透镜中。2.如权利要求1所述的光学检查系统，还包括控制电路系统，所述控制电路系统被配置为检测来自图像传感器的图像中的暗点。3.如权利要求2所述的光学检查系统，其中所述控制电路系统还被配置为响应于确定图像包含多于预定阈值量的暗点而发出警报。4.如权利要求1-3中任意一个权利要求所述的光学检查系统，其中所述第一透镜和所述第二透镜包括相应的第一平凸透镜和第二平凸透镜。5.如权利要求1-3中任意一个权利要求所述的光学检查系统，其中所述光源包括点光源。6.如权利要求1-3中任意一个权利要求所述的光学检查系统，还包括：至少一个使光偏振的偏振器。7.如权利要求1-3中任意一个权利要求所述的光学检查系统，还包括：插入在所述光源和所述第一透镜之间的第一偏振器；以及插入在所述第二透镜和所述相机之间的第二偏振器。8.一种可操作以光学检查电子设备中的显示器层的光学检查系统，其特征在于，所述光学检查系统包括：光源，所述光源被配置为发射从显示器层反射的光；相机，所述相机具有带光圈结构的相机透镜，所述光圈结构具有光通过的开口；以及控制电路系统，所述控制电路系统被配置为检测来自相机的图像中的暗点来检测显示器层中的缺陷。9.如权利要求8所述的光学检查系统，其中，所述控制电路系统还被配置为使用阴影图技术来检测来自相机的图像中的暗点以检测显示器层中的缺陷。10.如权利要求8所...

【专利技术属性】
技术研发人员：乔轶，徐明，
申请(专利权)人：苹果公司，
类型：新型
国别省市：美国,US