一种测试夹具及测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及主板测试技术，公开了一种测试夹具及测试系统。本实用新型专利技术中的测试夹具，包括：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。本实用新型专利技术提供的测试夹具具备反接的功能，并且属于防呆设计，以保证测试夹具的电源连接端不会反接烧毁测试主板。

【技术实现步骤摘要】
一种测试夹具及测试系统
本技术涉及主板测试技术，特别涉及一种测试夹具及测试系统。
技术介绍
目前移动终端的生产过程中，终端主板贴片制作完成后需要对终端的主板进行一系列的测试，测试完成之后方可进行组装。该测试方式是使用测试夹具，通过将测试夹具的探针压合在测试点上进行主板供电、射频校准等相关功能的测试，其中，终端的主板上会预留有电源测试点、射频测试座等相关功能的测试点。另外，终端主板SMT(表面贴装技术，SurfaceMountTechnology)测试项目必须用到专业的测试夹具进行测试，且这些测试的供电方式一般是直流电源供电，该终端主板SMT测试包括：下载、写号、校准综测、信令测试、电流测试、相关功能测试等，每一项测试的站位都必须使用测试夹具。专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：目前在进行终端的主板SMT测试时，生产线使用的测试夹具的直流电源接口均是鳄鱼夹接线口，直流输出电源端的连接是插接方式，由于主板的电源管理芯片比较脆弱，因此如果测试人员将输入电源线反接会导致手机主板烧毁，造成了不必要的生产成本浪费。现有的大多数的测试夹具不具备防反接的功能，都要靠人工检验，还有一部分的测试夹具会在电源电路中接入一个二极管防止电路反接时损伤电子元件。在不具备反接功能的测试夹具中，人工检验浪费人力，且在更换了测试生产线之后，重新搭建测试环境，误接的概率会上升；在有二极管的反接电路中，该反接电路不具有防呆设计，且该电路在反接之后不能进行测试工作，需重新连线进行测试，降低了测试的工作效率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试夹具及测试系统，使得测试夹具具备反接的功能，并且属于防呆设计，以保证测试夹具的电源连接端不会反接烧毁测试主板。为解决上述技术问题，本技术的实施方式提供了一种测试夹具，包含：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；所述电源接入模块的第一连接端与所述第一测试探针连接；所述电源接入模块的第二连接端与所述第二测试探针连接；其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。本技术的实施方式还提供了一种测试系统，用于主板表面贴装技术SMT测试，包括本技术实施例所提供的测试夹具、直流电源和待测试的主板，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接；所述测试夹具的所述第一测试探针与所述待测试主板的正极连接，所述第二测试探针与所述待测试主板的负极连接。本技术实施方式相对于现有技术而言，电源接入模块用于连接测试夹具和直流电源，其中，电源接入模块有四个连接端口，第三连接端口与第四连接端口和直流电源连接，且第三连接端口和第四链接端口没有正负极性之分只要分别连接到直流电源的正负极就能够为测试夹具提供直流电源，该电源接入模块是一种具有防呆设计的电路模块，即操作人员不需要任何操作经验，只需将直流电源的正负极分别连接即可进行测试工作，该设计使电源接入模块能快速接入电路并避免了误接正负极损坏待测试主板的情况。另外，所述测试夹具中的电源接入模块包括：第一选通元件、第二选通元件、第三选通元件、第四选通元件；所述电源接入模块的第一连接端与，所述第一选通元件的负极和所述第二选通元件的负极相连接；所述电源接入模块的第二连接端与，所述第三选通元件的正极和所述第四选通元件的正极相连接；所述电源接入模块的第三连接端与，所述第一选通元件的正极和所述第四选通元件的负极相连接；所述电源接入模块的第四连接端与，所述第二选通元件的正极和所述第三选通元件的负极相连接；其中，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件均为单向导通的元件。该实施方式中，电源接入模块的第三连接端和第四连接端与选通元件的连接关系中，与第三连接端连接的是第一选通元件的正极，与第四连接端连接的是第二选通元件的正极，根据四个选通元件均为单相导通的元件，则在第三连接端或第四连接端接入直流电源的正极均能导通对应的选通元件，保证了电路中第三连接端和第四连接端与直流电源的正负极分别连接后即可接入直流电源。另外，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件为型号相同的肖特基二极管。该实施方式中选取型号相同的肖特基二极管能够保证每个选通元件在相同的条件下截止和导通，且肖特基二极管正向压降低，电压的损耗小，保证电路中的负载得到足够的电压。另外，所述第一测试探针用于与待测试的主板的正极连接，所述第二测试探针用于与所述待测试的主板的负极连接。另外，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的负极连接，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于导通状态，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于截止状态；或者，所述电源接入模块的第三连接端与所述直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端与所述直流电源的正极连接，所述第二选通元件和所述第四选通元件处于导通状态，所述第一选通元件和所述第三选通元件处于截止状态。该实施方式中，选通元件根据两极的电压值处于导通或截止状态，对应选通元件导通时能保证电路形成回路，整个电路处于测试工作的状态。另外，所述测试夹具还包括：至少一个射频信号测试探针；所述射频信号测试探针用于对待测试的主板的射频信号传导性能进行测试。该实施方式中，测试夹具上包含多个测试探针，对不同的功能进行测试，完整测试主板的功能。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1是本技术中第一实施方式中测试夹具的结构示意图；图2是本技术中第二实施方式中测试夹具的结构示意图；图3是本技术中第三实施方式中测试系统的结构示意图；图4是本技术中第四实施方式中测试系统的结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本技术各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。本技术的第一实施方式涉及一种测试夹具10。如图1所示。该测试夹具包括：电源接入模块101、第一测试探针102、第二测试探针103；需要说明的是，测试夹具10与直流电源连接，其中直流电源为测试夹具10提供所需测试电压，所以图1中包含直流电源104，但直流电源104并非测试夹具10的一部分。电源接入模块101的第一连接端与第一测试探针102连接；电源接入模块10本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试夹具，其特征在于，包括：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；所述电源接入模块的第一连接端与所述第一测试探针连接；所述电源接入模块的第二连接端与所述第二测试探针连接；其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具，其特征在于，包括：电源接入模块、第一测试探针、第二测试探针；所述电源接入模块的第一连接端与所述第一测试探针连接；所述电源接入模块的第二连接端与所述第二测试探针连接；其中，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的正极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的负极连接，或者，所述电源接入模块的第三连接端用于与直流电源的负极连接，所述电源接入模块的第四连接端用于与直流电源的正极连接；所述第一测试探针为所述测试夹具的直流电源正极输出端，所述第二测试探针为所述测试夹具的直流电源负极输出端。2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述电源接入模块包括：第一选通元件、第二选通元件、第三选通元件、第四选通元件；所述电源接入模块的第一连接端与，所述第一选通元件的负极和所述第二选通元件的负极相连接；所述电源接入模块的第二连接端与，所述第三选通元件的正极和所述第四选通元件的正极相连接；所述电源接入模块的第三连接端与，所述第一选通元件的正极和所述第四选通元件的负极相连接；所述电源接入模块的第四连接端与，所述第二选通元件的正极和所述第三选通元件的负极相连接；其中，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件均为单向导通的元件。3.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述第一选通元件、所述第二选通元件、所述第三选通元件、所述第四选通元件为型号相同的肖特基二极管。4.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述第一测试探针用于与待测试的主板的正极连接，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：李庆，周燚俊，徐之峰，
申请(专利权)人：南昌与德通讯技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江西,36