一种应用于IC测试的高低温测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种应用于IC测试的高低温测试装置，主要解决了现有技术中存在的不能够在不开启高低温箱时对单个异常的集成电路进行异常排查与修正，也不能够彻底的将不能修正或测试完成的集成电路的电源断开，进入静默状态的技术问题。本发明专利技术通过包括上位机，与上位机相连的硬件电路，与所述硬件电路连接的多个IC；所述硬件电路包括处理器，与所述处理器并连连接的电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块的测试装置，较好的解决了该问题，可用于IC的工业生产中。

High and low temperature testing device applied to IC test

High and low temperature test device of the invention relates to an IC test, mainly solves problems in the prior art can not be integrated circuit in low temperature box is not opened for a single abnormal anomaly investigation and correction, also can not completely make power integrated circuit cannot modify or test complete disconnect technology in the silence. According to the present invention comprises a host computer, the hardware circuit is connected with the host computer, a IC is connected with the hardware circuit; the hardware circuit includes a processor, the processor and the connection and the current monitoring module, power module, voltage monitoring module and switch module testing device, a better solution to the the problem, can be used for the industrial production of IC.

【技术实现步骤摘要】
一种应用于IC测试的高低温测试装置
本专利技术涉及集成电路测试领域，特别涉及到一种应用于IC测试的高低温测试装置的工作方法。
技术介绍
集成电路，简称IC，在进入市场之前，必须进行不同温度下的电性能测试，以模拟集成电路在不同工作条件下的温度应力，高温一般在120℃，低温-40℃。高低温测试问题是集成电路检测工作中的老问题。现有的高低温测试方法是讲单个集成电路连线后在高低温箱外部进行信号处理与测试。现有的高低温测试装置及方法不能够在不开启高低温箱时对单个异常的集成电路进行异常排查与修正，也不能够彻底的将不能修正或测试完成的集成电路的电源断开，进入静默状态。因此提供一种能够在不开启高低温测试箱就可以单独对某一个IC进行异常排查与修正的装置就很有必要。
技术实现思路
本专利技术是解决现有技术中存在的对单独对某一异常IC进行异常排查与修正时必须开启高低温箱中断高低温测试流程的技术问题。提供一种新的应用于IC测试的高低温测试装置，改高低温测试装置具有能够不开启高低温测试箱就可以对单个IC进行异常排查与修正，并能够控制IC进入彻底断电状态的特点。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下：所述高低温测试装置包括上位机，与上位机相连的硬件电路，与所述硬件电路连接的多个IC；所述硬件电路包括处理器，与所述处理器并连连接的电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述上位机用于控制处理器；所述处理器用于控制所述电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述电源模块还与所述电压监控模块及电流检测模块相连；所述电流检测模块用于检测IC的工作电流；所述电压监控模块用于检测IC的工作电压；所述温度传感器用于检测IC的工作温度；所述开关电路用于控制IC。上述技术方案中，为优化，进一步地，所述电源模块，电流监控模块，电压监控模块，温度传感器及开关电路的数量分别与IC的数量相同。进一步地，所述开关电路包括并联连接在处理器及所述IC之间的数据通道开关，时钟开关及复位开关。本专利技术还提供一种应用于IC测试的高低温测试装置的工作方法，所述方法包括以下步骤：(1)将多个IC放入高低温箱，连接测试装置与IC；(2)启动上位机，输出自动测试指令；(3)初始化所述测试装置中的开关，开关均为断开状态；(4)检测高低温温度，温度稳定后开启电源模块；(5)上位机分别下载程序到多个IC，处理器接收每个IC打印的测试信息，同时所述电压监控模块工作，检测IC的输出电压，正常则跳至步骤(8)，前两次异常返回步骤(3)，第三次异常进入步骤(6)；(6)进行异常修复，循环检测打印信息，正常则跳至步骤(5)，异常跳至断掉该路的电源及所有开关进入步骤(7)；(7)选择手动操作，手动操作包括通过上位机给所述处理器发送相应指令进行单项调试及测试，处理器停止处理其余IC打印的测试信息；(8)高低温测试结束，通过上位机进行测试数据分析与统计。上述技术方案中，为优化，进一步地，所述步骤(6)中异常修复包括IC的输出电流修正。进一步地，所述输出电流修正包括电流过大修正及电流过小修正。进一步地，所述电流过大修正至少两次，包括通过处理器关闭电源模块及开关模块，然后开启电源模块。进一步地，所述电流过小修正至少两次，包括开关复位修正，所述开关复位修正包括通过处理器开启复位开关。进一步地，所述电流过小修正上电复位修正，每次上电复位修正后打开时钟开关，所述上电复位修正包括通过处理器依次进行的电源模块的关断与开通操作。本专利技术通过对每个IC的打印信息进行分析，确定IC的工作状态，并对每个IC的工作电压及工作电流进行检测，从而排查问题，确认问题后通过相应的复位措施进行修正，从而确保不开启高低温箱能够对单个IC进行异常排查与修正。本专利技术的有益效果，效果一，能够切断IC所有管脚连接，使IC静默；效果二，能够不开启高低温箱对IC进行排查与修正；效果三，降低了IC高低温实验的成本；效果四，降低了IC断电不彻底引起的IC损坏。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1本专利技术所述高低温测试装置的框图。图2本专利技术所述高低温测试装置的工作方法流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。图1清楚的表示了本专利技术所述高低温测试装置的框图，从图1中可以看出高低温测试装置所包含的部件及连接关系。图2本专利技术高低温测试装置的工作方法，图2详细的表述了高低温测试装置的工作方法的步骤。实施例1本实施例提供一种应用于IC测试的高低温测试装置，所述高低温测试装置包括上位机，上位机为PC电脑，与上位机相连的硬件电路，与所述硬件电路连接的多个IC；所述硬件电路包括处理器，处理器为ARM处理器，与所述处理器并连连接的电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述上位机与ARM处理器连接并通信；所述处理器用于控制所述电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述电源模块还与所述电压监控模块及电流检测模块相连；所述电压监控模块用于检测IC的工作电压；所述电流检测模块用于检测IC的工作电流；所述温度传感器用于检测IC的工作温度；所述开关电路用于控制IC。所述电源模块，电流监控模块，电压监控模块，温度传感器及开关电路的数量分别与IC的数量相同。所述开关电路包括并联连接在处理器及所述IC之间的数据通道开关，时钟开关及复位开关。本实施例还提供一种应用于IC测试的高低温测试装置的工作方法，所述方法包括以下步骤：(1)将多个IC放入高低温箱，连接测试装置与IC；(2)启动上位机，输出自动测试指令；(3)初始化所述测试装置中的开关，开关均为断开状态；(4)检测高低温温度，温度稳定后开启电源模块；(5)上位机分别下载程序到多个IC，处理器接收每个IC打印的测试信息，同时所述电压监控模块工作，检测IC的输出Pin电压，正常则跳至步骤(8)，前2次异常返回步骤(3)，第3次异常进入步骤(6)；(6)进行异常修复，首先通过电流监控模块检测异常IC的工作电流大小，偏大则进行电流过大修正，包括关闭开关模块及电源模块，然后重新开启电源模块，电流过大修正进行2次，每次电流过大修正后进行循环检测打印信息，检查是否修正成功；电流偏小则进行电流过小修正，包括开启复位开关进行开关复位修正，修正后循环检测打印信息检查是否修正成功，开关复位修正2次，每次开关复位修正后进行循环检测打印信息，检查是否修正成功；未成功则通过电源模块的关断与开通操作进行2次上电复位修正，每次上电复位修正后打开时钟开关给IC时钟信号，IC接收到时钟信号后开始打印信息，对打印的信息进行检测，检查是否修正成功。上述修正均未成功，则处理器将异常IC的电源及开关模块断开，进入步骤(7)；(7)选择进行手动操作，手动操作包括通过上位机给所述处理器发送相应指令进行测试；手动测试可重新编写测试代码给IC，可以进行单步调试。此时，其他正常IC继续不停的打印消息给处理器，处理器对这些消息不做任何处理。(8)高低温测试结束，通过上位机进行测试数据分析。实施例2本实施例在实施例1的基础上进一步说明修正开关复位修正次数的优化，步骤(6)如下：进行异常修复，首先通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种应用于IC测试的高低温测试装置，其特征在于：所述高低温测试装置包括上位机，与上位机相连的硬件电路，与所述硬件电路连接的多个IC；所述硬件电路包括处理器，与所述处理器并联连接的电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述上位机与处理器连接并通信；所述处理器用于控制电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述电源模块还与所述电压监控模块及电流检测模块相连；所述电压监控模块用于检测IC的工作电压；所述电流检测模块用于检测IC的工作电流；所述温度传感器用于检测IC的工作温度；所述开关电路用于控制IC。

【技术特征摘要】
1.一种应用于IC测试的高低温测试装置，其特征在于：所述高低温测试装置包括上位机，与上位机相连的硬件电路，与所述硬件电路连接的多个IC；所述硬件电路包括处理器，与所述处理器并联连接的电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述上位机与处理器连接并通信；所述处理器用于控制电源模块，电流监控模块，电压监控模块及开关模块；所述电源模块还与所述电压监控模块及电流检测模块相连；所述电压监控模块用于检测IC的工作...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：张家港市欧微自动化研发有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32