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本发明涉及一种应用于IC测试的高低温测试装置，主要解决了现有技术中存在的不能够在不开启高低温箱时对单个异常的集成电路进行异常排查与修正，也不能够彻底的将不能修正或测试完成的集成电路的电源断开，进入静默状态的技术问题。本发明通过包括上位机，与...
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