直接数字频率合成器电路动态参数测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种DDS电路动态参数测试系统及方法，该方法包括：测试系统向设置有待测试的DDS电路的DUT板输入与DDS电路功能对应的测试向量，并控制高相噪信号发生器、和低噪声的电源生成DUT板需要的时钟信号和电压；DUT板在时钟信号的控制下输出与测试向量对应的输出信号，频谱分析仪和相位噪声测试仪在接收该信号后产生相应数据并返回测试系统，测试系统利用采样数据和预先设置的数值范围进行比较，确定DDS电路是否合格。本发明专利技术成功地对DDS电路进行自动化测试，解决了传统手动测试DDS电路动态参数时的测试难题，大大提高了DDS电路动态参数的测试效率，节约了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
直接数字频率合成器电路动态参数测试系统及方法
本专利技术涉及直接数字频率合成器（中文：directdigitalsynthesizer，简称：DDS）电路动态参数测试领域，尤其涉及一种DDS电路动态参数测试方法及系统。
技术介绍
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的DDS的指标都提出了很高的要求。尤其在雷达、通信、电子对抗等电子系统需要实现高性能指标，DDS逐渐体现出其具有的相对带宽很宽、频率转换时间极短、频率分辨率很高、输出相位连续、可输出宽带正交信号、可编程及全数字化结构便于集成等优越性能。然而DDS电路动态参数的测试目前却成为一项难题，目前的测试系统（包括国外公司提供的评估板）都只能满足手动来测试，手动测试既耗费时间又耗费人力，并且靠人工测量判断很难保证电路一致性，效率低下，难以满足DDS电路批量测试的需求，因此非常迫切需要一种行之有效的自动化测试系统及方法来指导DDS电路动态参数的测试。
技术实现思路
针对相关技术中因通过手动对DDS电路动态参数进行测试时，难以保证电路一致性，进而难以满足DDS电路批量测试的需求的问题，本专利技术提供了一种DDS电路动态参数测试系统及方法。本专利技术通过以下技术方案来实现的：第一方面，本专利技术提供了一种DDS电路动态参数测试系统，DDS电路动态参数测试系统包括测试系统、DUT（全称：deviceundertest，中文：测试中设备）板、高相躁信号源、低噪声电源、频谱分析仪和相位噪声测试仪，其中：测试系统通过SMA线以及Pin68线与DUT板连接，测试系统还通过SMA线分别与频谱分析仪以及相位噪声测试仪连接；DUT板通过SMA线与高相躁信号源连接，DUT板还通过电源连接线与低噪声电源连接；测试系统通过GPIB(全称：General-PurposeInterfaceBus，中文：通用接口总线)分别与高相躁信号源、低噪声电源、频谱分析仪以及相位噪声测试仪连接；测试系统与DUT板内设置的待测试的DDS电路电性连接。可选的，DUT板还包括与测试系统连接的接口板、测试专用插座、第一变压器、第二变压器以及DUT板的配置电路，被测试的DDS电路被安置于测试专用插座上，并与接口板电性连接，DDS电路分别与第一变压器和第二变压器电性连接，第一变压器与接口板电性连接。可选的，测试系统包括数字板卡、高频模拟开关卡、主机以及显示屏，其中：数字板卡与DUT内的接口板电性连接，第二变压器与高频模拟开关卡电性连接。可选的，测试系统可以为NI（全称：nationalinstrument）系统。第二方面，本专利技术还提供了一种DDS电路动态参数测试方法，该方法应用于第一方面或第一方面可选的技术方案所提供DDS电路动态参数测试系统中，该方法包括：测试系统向DUT板输入测试向量，测试向量是对DUT板内待测试的DDS电路的测试功能仿真得到的信号；测试系统控制高相躁信号源产生DUT板需要的时钟信号，控制低噪声电源产生DUT板所需的电压；DUT板在电压以及时钟信号的作用下工作，向测试系统输出与测试向量对应的输出信号；测试系统通过高频模拟开关对输出信号进行切换，将切换后的信号分别输入至频谱分析仪以及相位噪声测试仪；频谱分析仪以及相位噪声测试仪接收切换后的信号后分别对各自产生的信号进行采样，将采样得到的数据回传给测试系统；测试系统根据采样得到的数据输出测试结果。可选的，频谱分析仪对切换后的信号进行采样，得到第一类采样数据，将第一类采样数据回传给测试系统，相位噪声测试仪对切换后的信号进行采样，得到第二类采样数据，将第二类采样数据回传给测试系统；测试系统判定接收到的第一类采样数据是否位于第一预定范围内，判定接收到的第二类采样数据是否位于第二预定范围内，并输出判定结果。可选的，测试系统在判定接收到的第一类采样数据是否位于第一预定范围内后，得到第一类判定结果，保存第一类判定结果；测试系统在判定接收到的第二类采样数据是否位于第二预定范围内后，得到第二类判定结果，保持第二类判定结果。可选的，测试系统将第一类判定结果和第二类判定结果保存为预定格式。可选的，该预定格式为文本格式、图表格式或语音格式等。可选的，测试系统在判定接收到的第一类采样数据未位于第一预定范围内，或者，在判定接收到的第二类采样数据未位于第二预定范围内时，则输出第一类判定结果，第一类判定结果用于指示DDS电路不合格；测试系统在判定接收到的第一类采样数据位于第一预定范围内，且判定接收到的第二类采样数据位于第二预定范围内时，则输出第二类判定结果，第二类判定结果用于指示DDS电路合格。本专利技术与现有技术相比，具有的有益效果至少包括：采用测试系统控制高相噪信号发生器、频谱分析仪、相位噪声测试仪、低噪声的电源，实现DDS电路动态参数的测试自动化，成功地解决了传统手动测试的难题；该测试方案有效缩短了电路测试时间、节省了人工成本，成功实现了DDS电路批量生产。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。图1为本专利技术一个实施例中提供的DDS电路动态参数测试系统的结构示意图；图2为本专利技术一个实施例中提供的信号流向的示意图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。目前仅能通过手动对DDS电路的动态参数进行测试，难以满足DDS电路批量测试的需求，针对于此，本专利技术提供了一种DDS电路动态参数测试方法，其可以实现对DDS电路动态参数的测试自动化，进而为实现DDS电路的批量生产提供了可能。图1是本专利技术一个实施例中提供的DDS电路动态参数测试系统的结构示意图，该DDS电路动态参数测试系统包括测试系统110、DUT板120、高相躁信号源130、低噪声电源140、频谱分析仪150以及相位噪声测试仪160。此外，为了保证测试系统110与DUT板120、频谱分析仪150以及相位噪声测试仪160连接，DDS电路动态参数测试系统还可以包括若干条GPIB、测试专用的Pin68线以及若干条专用SMA线。比如可以包括四根GPIB、一根测试专用Pin68线、三根SMA线若干。DDS电路动态参数测试系统中各器件的连接关系包括：测试系统110通过SMA线以及Pin68线与DUT板120连接，测试系统110还通过SMA线分别与频谱分析仪150以及相位噪声测试仪160连接；DUT板120通过SMA线与高相躁信号源130连接，DUT板120还通过电源连接线与低噪声电源140连接；测试系统110通过GPIB分别与高相躁信号源130、低噪声电源140、频谱分析仪150以及相位噪声测试仪160连接，测试系统110与DUT板120内设置的待测试的DDS电路电性连接。在一种可能的实现方式中，DUT板120除了包含有待测试的DDS电路，还可以包括与测试系统110连接的接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种直接数字频率合成器DDS电路动态参数测试系统，其特征在于，所述DDS电路动态参数测试系统包括测试系统、DUT板、高相躁信号源、低噪声电源、频谱分析仪和相位噪声测试仪，其中：所述测试系统通过SMA线以及Pin68线与所述DUT板连接，所述测试系统还通过SMA线分别与所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪连接；所述DUT板通过SMA线与所述高相躁信号源连接，所述DUT板还通过电源连接线与所述低噪声电源连接；所述测试系统通过通用接口总线GPIB分别与所述高相躁信号源、所述低噪声电源、所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪连接；所述测试系统与所述DUT板内设置的待测试的DDS电路电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种直接数字频率合成器DDS电路动态参数测试系统，其特征在于，所述DDS电路动态参数测试系统包括测试系统、DUT板、高相躁信号源、低噪声电源、频谱分析仪和相位噪声测试仪，其中：所述测试系统通过SMA线以及Pin68线与所述DUT板连接，所述测试系统还通过SMA线分别与所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪连接；所述DUT板通过SMA线与所述高相躁信号源连接，所述DUT板还通过电源连接线与所述低噪声电源连接；所述测试系统通过通用接口总线GPIB分别与所述高相躁信号源、所述低噪声电源、所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪连接；所述测试系统与所述DUT板内设置的待测试的DDS电路电性连接。2.根据权利要求1所述的DDS电路动态参数测试系统，其特征在于，所述DUT板还包括与所述测试系统连接的接口板、测试专用插座、第一变压器、第二变压器以及所述DUT板的配置电路，所述被测试的DDS电路被安置于所述测试专用插座上，并与所述接口板电性连接，所述DDS电路分别与所述第一变压器和所述第二变压器电性连接，所述第一变压器与所述接口板电性连接。3.根据权利要求2所述的DDS电路动态参数测试系统，其特征在于，所述测试系统包括数字板卡、高频模拟开关卡、主机以及显示屏，其中：所述数字板卡与所述DUT内的接口板电性连接，所述第二变压器与所述高频模拟开关卡电性连接。4.一种直接数字频率合成器DDS电路动态参数测试方法，其特征在于，应用于如权利要求3所述的DDS电路动态参数测试系统中，所述DDS电路动态参数测试方法包括如下：所述测试系统向所述DUT板输入测试向量，所述测试向量是对所述DUT板内待测试的DDS电路的测试功能仿真得到的信号；所述测试系统控制所述高相躁信号源产生所述DUT板需要的时钟信号，控制所述低噪声电源产生所述DUT板所需的...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋国栋，隽扬，陈钟鹏，刘士全，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：江苏,32