【技术实现步骤摘要】
通过层转移制备柔性结构的方法及中间结构和柔性结构
本专利技术涉及用于制造适合抓握,特别地适合使用至少一种微技术、微电子学或清洗步骤的柔性结构的方法。本专利技术还涉及中间结构和柔性结构。所述制造方法和柔性结构可以特别地应用于柔性
、微
、微电子领域、柔性电子领域如芯片卡、智能纺织品,并且特别地用于制造应变计。
技术介绍
柔性
要求在由单晶材料组成的,具有例如小于5微米厚度的弹性可变形薄膜上或其中形成电子器件。目前,单晶材料的柔性膜不是如此非常地合适,并且柔性膜(如果它们存在或不使用任何支持物制造的话),对于能够容易地操作(特别地通过微电子学的标准方法)而言实在太薄了。实际上这些膜易于缠绕在自身上、易于变形或折叠,这使它们难以用于制造电子器件。在现有柔性基底(如聚合物或金属薄板)上生长单晶材料的薄膜是不可能的,因为这些基底不具有适合生长所希望品质的单晶材料的表面种子。此外,难以实现使用脆化的有源基底通过SmartCutTM技术将非常薄的膜转移到柔性基底上。有时,仅部分膜被转移。这可以解释为由于柔性基底不能为沿着通过注入有源基底中形成的空穴的脆化平面或区域发展提供所需要的硬度。然后这些空穴在所有方向上并且特别地沿着垂直于所述脆化平面或区域的轴线发展,这可以导致薄膜起泡。另一方面,有可能通过在薄膜和柔性基底之间插入硬化膜将薄膜从单晶材料的有源基底转移到柔性基底(如聚合物)上。如果获得的结构实际上是柔性的,它可能难以用于随后的工艺过程中。由于在结构的制造期间应力存贮在不同薄膜中,在室温下所述结构通常具有强烈的(弯曲或扭转)变形。
技术实现思路
本专利技 ...
【技术保护点】
一种用于制造柔性结构(13)的方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:‑在第一有源基底(1)中注入离子物质以形成第一脆化区(3.5),从而限定第一薄膜(3),‑在第二有源基底(2)中注入离子物质以形成第二脆化区(4.6),从而限定第二薄膜(4),‑提供柔性基底(9),其硬度R小于或等于10
【技术特征摘要】
2011.12.20 FR 11/620861.一种用于制造柔性结构(13)的方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:-在第一有源基底(1)中注入离子物质以形成第一脆化区(3.5),从而限定第一薄膜(3),-在第二有源基底(2)中注入离子物质以形成第二脆化区(4.6),从而限定第二薄膜(4),-提供柔性基底(9),其硬度R小于或等于107GPa·μm3,-分别将所述第一和第二薄膜(3、4)固定到所述柔性基底(9)的第一面和第二面上从而形成包括由所述第一和第二脆化区(3.5、4.6)限定的柔性结构(13)的堆叠(12),所述柔性结构(13)具有适合允许转移所述第一和第二薄膜(3、4)的硬化作用,以及-利用断裂热平衡,从而将所述第一和第二薄膜(3、4)转移到所述柔性基底(9)上。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述第一薄膜(3)由单晶材料组成。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述第二薄膜(4)由单晶材料组成。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于在所述固定步骤之前,所述方法包括以下步骤:-在所述第一薄膜(3)上和/或在所述柔性基底(9)的第一面上形成至少一个初级硬化膜(7),以及-在所述第二薄膜(4)上和/或在所述柔性基底(9)的第二面上形成至少一个次级硬化膜(8),所述初级和次级硬化膜(7、8)的累积硬度小于或等于硬度R。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:-在所述第一薄膜(3)上形成所述初级硬化膜(7),-在所述第二薄膜(4)上形成所述次级硬化膜(8),并且其中所述固定步骤包括以下步骤:-在所述初级硬化膜(7)与所述柔性基底(9)的第一面之间形成粘合材料的第一层(11a),以及-在所述次级硬化膜(8)与所述柔性基底(9)的第二面之间形成粘合材料的第二层(11b),所述粘合材料选自DVS-bis-BCB、聚酰亚胺以及感光性聚合物。6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:-在所述柔性基底(9)的第一面上形成所述初级硬化膜(7),-在所述柔性基底(9)的第二面上形成所述次级硬化膜(8),并且其中所述固定步骤包括在所述初级硬化膜(7)与所述第一薄膜(3)之间直接粘合,以及在所述次级硬化膜(8)与所述第二薄膜(4)之间直接粘合。7.根据权利要求1至6之一所述的方法,其特征在于用于将离子物质注入到所述第一和第二有源基底(1、2)中的步骤包括用于将不同剂量的离子物质注入到所述第一和第二有源基底(1、2)中的步骤。8.根据权利要求1至6之一所述的方法,其特征在于用于利用断裂热平衡的步骤包括:-第一步骤,包括利用第一热平衡从而将所述第一或第二薄膜(3、4)之一转移到所述柔性基底(9)上;以及-第二步骤,包括利用第二热平衡从而将所述第一或第二薄膜(3、4)的另一个转移到所述柔性基底(9)上。9.根据权利要求1至6之一所述的方法,其特征在于所述方法包括在所述第一和/或第二转移的薄膜(3、4)的自由面内或其上使用的至少一种微技术或微电子学步骤的应用。10.根据权利要求2至6之一所述的方法,其特征在于所述方法包括由选择所述初级和次级硬化膜(7、8)的不同厚度组成的步骤。11.根据权利要求2至6之一所述的方法,其特征在于所述初级和次级硬化膜(7、8)具有包括在0.1微米至30微米之间的厚度,以及大于或等于10GPa的杨氏模量。12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于所述初级和次级硬化膜(7、8)具有包括在0.5微米至20微米之间的厚度,并且包括由SiOxNy或由AlxOy...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡贝特·莫里索,马克西姆·阿古德,弗兰克·富尔内尔,弗雷德里克·马泽恩,克里斯托弗·莫拉勒斯,
申请(专利权)人:法国原子能及替代能源委员会,
类型:发明
国别省市:法国,FR
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