一种透射电镜试样制备辅助工具制造技术
Transmission electron microscope sample preparation auxiliary tool
The utility model relates to a transmission electron microscope sample preparation auxiliary tool, which comprises a handle, an adjusting screw, a tool body and a rubber gasket. The adjusting screw and a tool body with thread by thread with the installation, adjusting screw out tool body length, rubber gasket side end surface of the adjusting screw on the specimen to paste polishing or pressure in the rubber gasket at the other end, the adjusting screw to adjust to an appropriate amount of sample out. Mechanical thinning, the utility model has the advantages of simple structure, convenient operation, easy processing.
【技术实现步骤摘要】
本技术属于电镜样品制备
，涉及一种透射电镜试样制备的辅助工具。
技术介绍
在材料科学中，透射电子显微方法是十分重要的研究手段。透射电子显微方法用到的重要设备便是透射电子显微镜，透射电镜的成像原理决定了试样的制备要求，制备样品的质量直接影响到试样的观察和分析。试样能够在透射电镜上进行观察的重要前提就是透射电镜的电子束能够穿透样品，并且试样的厚度对透射电镜观察到的图像质量有着非常强烈的影响，这便导致了试样的待观察部位必须够薄，因此透射电镜试样的制备具有较高的难度。当前，块状金属和合金进行透射电镜样品制备的通用方法就是减薄技术，首先将块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片，然后使用砂纸和抛光机进行机械预减薄，抛磨至50μm左右，然后进行之后的电解双喷减薄或者离子减薄出小孔。在进行预减薄抛磨时，由于试样过薄无法夹持，在进行抛磨时需要手指进行按压样品在砂纸上进行研磨，经常会出现磨伤手指的情况，所以人们通常会将薄片试样粘在暖瓶塞子或者橡皮上，手持暖瓶塞子或橡皮在砂纸上进行抛磨，由于粘合与受力不均所以导致试样薄区不均匀，且辅助品的磨损很快。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种设计简单、结构合理、操作方便、容易加工的透射电镜试样制备辅助工具，可以克服现有的技术缺陷，能够较好的满足透射电镜试样制备过程中机械减薄抛磨的要求。为了实现上述目的，本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种透射电镜试样制备辅助工具，包括工具本体，调节螺杆，手柄，橡胶垫片。所述的工具本体可选用不锈钢等材料，工具本体上加工有螺纹孔；所述的调节螺杆与工具本体上的螺纹孔相配合；所述的橡胶垫片尺寸应与调...
【技术保护点】
一种透射电镜试样制备辅助工具，包括工具本体，调节螺杆，手柄，橡胶垫片，所述的工具本体上加工有螺纹孔，调节螺杆与工具本体上的螺纹孔相配合，二者通过螺纹配合安装，所述的橡胶垫片尺寸应与调节螺杆下端表面相匹配，粘贴在调节螺杆下端，手柄通过螺纹联接安装在调节螺杆上，通过旋转手柄调整调节螺杆伸出夹具本体的伸出量。
【技术特征摘要】
1.一种透射电镜试样制备辅助工具，包括工具本体，调节螺杆，手柄，橡胶垫片，所述的工具本体上加工有螺纹孔，调节螺杆与工具本体上的螺纹孔相配合，二者通过螺纹配...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕知清，薛江平，张志锋，张慧芳，张泉，
申请(专利权)人：燕山大学，
类型：新型
国别省市：河北;13
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