测量方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种测量方法、装置及设备，其中，该方法采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信领域，具体而言，涉及一种测量方法、装置及设备。
技术介绍
目前，基建工程人员对于常用工程材料的面积计算与核定仍然使用传统的方式，而移动智能装置非常普遍，尤其是带有触控功能的移动智能装置给全世界范围内的广大用户的工作、生活带来了日新月异的巨大变化，移动智能装置已经融入了我们生活，成为了随身携带重要工具。在工程人员群体中，目前的日常工作却并未步入移动智能时代，对于日常的工程材料的面积计算、核定等仍采用尺子丈量，手动计算的方式。大量的工程人员出门必须携带各种类型的尺子，有时忘记了，就必须返回驻地，造成了大量的时间浪费。针对相关技术中用户测量工作效率不高的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术提供了一种测量方法、装置及设备，以至少解决相关技术中用户测量工作效率不高的问题。根据本专利技术的一个方面，提供了一种测量方法，包括：采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。进一步地，所述采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息包括：采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；采集所述各解析点中电容变化的解析点。进一步地，所述测量要求包括：长度测量，面积测量，体积测量。进一步地，所述根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。进一步地，根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。进一步地，该方法包括：在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状，计算所述实物的体积。根据本专利技术的另一个方面，还提供了一种测量装置，包括：采集模块，用于采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；投影模块，用于根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；计算模块，用于根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。进一步地，所述投影模块包括：测量单元，用于采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；采集单元，用于采集各解析点中电容变化的解析点。进一步地，所述测量要求包括：长度测量，面积测量，体积测量。进一步地，所述计算模块包括：长度计算单元，用于在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应
的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。进一步地，所述装置还包括：平整度模块，用于在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；面积计算模块，用于在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；所述面积计算模块还用于所述在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。进一步地，所述装置还包括：体积计算模块，用于在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状，计算所述实物的体积。根据本专利技术的另一个方面，还提供了一种测量设备，包括：触摸屏上设置压力-电场转换敷板，其中，所述触摸屏由解析点组成；压力-电场转换敷板采集所述触摸屏与实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；筛选出所述各解析点中电容变化的解析点投影，生成接触屏解析图；根据用户终端的测量模式和测量要求分析所述接触屏解析图，得到对应的测量结果。通过本专利技术，采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的一种测量方法的流程图；图2是根据本专利技术实施例的一种测量装置的结构框图；图3是根据本专利技术优选实施例的实物面积测量系统的框架图；图4是根据本专利技术优选实施例的新型触摸屏层状图；图5是根据本专利技术优选实施例的新型触摸屏解析图；图6是根据本专利技术优选实施例的实物面积测量流程图；图7是根据本专利技术优选实施例的实物截面长度尺寸测量流程图；图8是根据本专利技术优选实施例的实物体积测量流程图。具体实施方式下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。在本实施例中提供了一种测量方法，图1是根据本专利技术实施例的一种测量方法的流程图，如图1所示，该流程包括如下步骤：步骤S12，采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；步骤S14，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成；步骤S16，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果。通过上述步骤，通过采集触摸屏上与实物的待测截面的解析点，并生成接触屏解析图，根据用户终端的测量要求分析该接触屏解析图，得到对应的测量结果，上述方法采用了用户随身携带的触摸屏智能终端或者在智能终端上连接相应的触摸屏，不再需要通过传统的尺子等测量，为用户节约了大量的时间，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。在本实施例中，该采集触摸屏与实物待测截面的接触信息，通过该接触信息生成对应的解析点有很多种方式，可以通过电压触摸屏，也可以通过电容触摸屏，或者通过其他的传感器，在本优选实施中，可以采集该触摸屏上压力-电场转换敷板与该实物待测截面的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量方法，其特征在于，包括：采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种测量方法，其特征在于，包括：采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息包括：采集所述触摸屏上压力-电场转换敷板与所述实物待测截面的压力，并转换为压力-电场转换敷板上各解析点的电场，所述电场的水平范围与所述实物待测截面相符，其中，所述电场的变化对应电容的变化；采集所述各解析点中电容变化的解析点。3.根据权利要求1或者权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量要求包括：长度测量，面积测量，体积测量。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：在所述长度测量的模式下，根据接收的划线操作信息生成对应的划线位置信息，其中，所述划线操作信息与所述测量要求对应的，将所述划线位置信息在所述接触屏解析图的方向标准线上投影，计算所述测量要求对应的所述待测截面的长度。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果包括：在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，该方法包括：在所述体积测量的模式下，采集所述实物的所有截面的接触信息并投影生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图三维模拟所述实物的形状，计算所述实物的体积。7.一种测量装置，其特征在于，包括：采集模块，用于采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；投影模块，用于根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；计算模块，用于根据预设...

【专利技术属性】
技术研发人员：程攀刚，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44