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本发明提供了一种测量方法、装置及设备，其中，该方法采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果，解决了用户测量工...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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