硅片少子寿命测试仪用定位装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，包括底托盘，所述底托盘的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部及定位部，所述定位部设置于安装部的上端，且定位部上设置有缓冲垫。所述硅片少子寿命测试仪用定位装置通过采用定位挡板实现硅片的定位，可保证硅片摆放不会出现倾斜，避免测试失败，且在定位部上设置缓冲垫，可有效避免硅片和定位部直接碰撞造成破碎，结构简单、易于实现。

Positioning device for silicon chip minority life tester

The invention discloses a wafer lifetime tester with positioning device, which comprises a bottom tray, a positioning baffle is arranged on one side of the bottom of the tray, the positioning baffle comprises a mounting part and a positioning part, an upper end of the positioning part is arranged on the installation part, and the positioning part is provided with a cushion. The wafer lifetime tester with positioning device with positioning the wafer through the positioning baffle, can ensure the wafer placed not inclined to avoid test failure, set the cushion and the positioning part, which can effectively prevent the silicon wafer and the positioning part directly impact crushing, simple structure and easy realization.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种定位装置，尤其涉及一种硅片少子寿命测试仪用定位装置。
技术介绍
硅片少子寿命测试仪是一种用于测量硅片少子寿命的仪器，现有市场上采用的硅片少子寿命测试仪，其在测试过程中，一旦硅片摆放存在倾斜度，易造成边缘处测量失败，由此，急需解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对上述问题，提供一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，以解决现有硅片少子寿命测试仪在测试过程中，硅片摆放倾斜会出现测试失败的问题。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现：一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，包括底托盘，所述底托盘的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部及定位部，所述定位部设置于安装部的上端，且定位部上设置有缓冲垫。作为本专利技术的一种优选方案，所述定位部为L形结构，其由水平布置的横段及竖直布置的竖段构成，所述竖段设置于横段的上端，所述横段与安装部的上端相连，且横段与底托盘之间设置有间隙。作为本专利技术的一种优选方案，所述缓冲垫由橡胶或塑料材料制成。作为本专利技术的一种优选方案，所述安装部上开有安装孔，并通过螺栓紧固于底托盘上。作为本专利技术的一种优选方案，所述安装部、定位部为一体结构。本专利技术的有益效果为，所述硅片少子寿命测试仪用定位装置通过采用定位挡板实现硅片的定位，可保证硅片摆放不会出现倾斜，避免测试失败，且在定位部上设置缓冲垫，可有效避免硅片和定位部直接碰撞造成破碎，结构简单、易于实现。附图说明图1为本专利技术硅片少子寿命测试仪用定位装置的主视图；图2为本专利技术硅片少子寿命测试仪用定位装置的侧视图。图中:1、底托盘；2、安装部；3、定位部；31、横段；32、竖段；4、缓冲垫。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。可以理解的是，此处所描述的实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。请参照图1及图2所示，图1为本专利技术硅片少子寿命测试仪用定位装置的主视图；图2为本专利技术硅片少子寿命测试仪用定位装置的侧视图。于本实施例中，一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，包括底托盘1，所述底托盘1的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部2及定位部3，所述安装部2、定位部3为一体结构，且安装部2上开有安装孔，并通过螺栓紧固于底托盘1上，所述定位部3为L形结构，其由水平布置的横段31及竖直布置的竖段32构成，所述竖段32设置于横段31的上端，所述横段31与安装部2的上端相连，且横段31与底托盘1之间设置有间隙，所述竖段32上安装有缓冲垫4，所述缓冲垫4由橡胶材料制成。值得一提的是，虽然本实施例中，缓冲垫4由橡胶制成，但是本专利技术不限于此，缓冲垫4亦可采用塑料材料制成，只要能起到防止硅片损坏的作用即可。上述硅片少子寿命测试仪用定位装置通过采用定位挡板实现硅片的定位，可保证硅片摆放不会出现倾斜，避免测试失败，且在定位部3上设置缓冲垫4，可有效避免硅片和定位部3直接碰撞造成破碎，此外，横段31与底托盘1之间设置的间隙便于清理硅渣和灰尘，结构简单、易于实现。以上实施例只是阐述了本专利技术的基本原理和特性，本专利技术不受上述实施例限制，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还有各种变化和改变，这些变化和改变都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术要求保护范围由所附的权利要求书界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，其特征在于：包括底托盘，所述底托盘的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部及定位部，所述定位部设置于安装部的上端，且定位部上设置有缓冲垫。

【技术特征摘要】
1.一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，其特征在于：包括底托盘，所述底托盘的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部及定位部，所述定位部设置于安装部的上端，且定位部上设置有缓冲垫。2.根据权利要求1所述的硅片少子寿命测试仪用定位装置，其特征在于：所述定位部为L形结构，其由水平布置的横段及竖直布置的竖段构成，所述竖段设置于横段的上端，所述横段与安装部...

【专利技术属性】
技术研发人员：王栋，姜树华，华万峰，
申请(专利权)人：高佳太阳能股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32