本发明专利技术公开了一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置及测试方法，包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器、AD采集板、阵列探针卡和控制器。阵列探针卡的探针分别与对应待测支架的正负金属电极稳定接触，测试出正负金属电极间的电阻值经由阵列探针卡的端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡传入IPC总控制部分；IPC总控制部分将测试值与设定指标范围进行对比，处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻值是否位于设定的指标范围内，并且标识出不合格单元的具体位置以便LED光源封装时有效剔除不合格单元。本发明专利技术操作简单、便于数据收集、监测及追溯，阵列测试可有效提高检测效率，并提高LED光源封装过程的生产效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于厚膜陶瓷支架测试
，更具体地，涉及一种LED厚膜陶瓷支架的测试方法及装置。
技术介绍
研究发现，用LED陶瓷支架做衬底的LED光源，具有节能、环保、寿命长三大优势，理论上可实现只消耗白炽灯10%的能耗，比荧光灯节能50%;它采用固体封装，寿命是荧光灯的10倍、白炽灯的100倍；同时，LED光源无紫外光、红外光等辐射，且能避免荧光灯管破裂溢出汞的二次污染。由于陶瓷基板具有高散热、低热阻、寿命长、耐电压等优点，随着生产技术、设备的改良，产品价格加速合理化，进而扩大LED产业的应用领域，如家电产品的指示灯、汽车车灯、路灯及户外大型看板等。陶瓷系列支架的开发成功，可使LED产业未来的市场应用领域更宽广。LED厚膜陶瓷支架制造完成后，为了确保其连通的可靠性，避免封装后光源使用过程中寿命降低，需要对其金属电极的导通及金属化盲孔的导通进行严格的检测以判定其是否合格。由于LED厚膜陶瓷支架一般采用阵列方式制作，因而，其测试方法不同于常规的厚膜产品测试，如何保证LED厚膜陶瓷支架制作过程中的电极导通可靠性，直接影响着最终LED封装光源产品的质量和使用寿命，因此，对于LED厚膜陶瓷支架测试的装置及方法有迫切的实际需求。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供了一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置及测试方法，操作简单、便于数据收集、监测及追溯，阵列测试可有效提高检测效率，并提高LED光源封装过程的生产效率。实现本专利技术目的的技术方案是:一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置，包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器、AD采集板、阵列探针卡和控制器；IPC总控制部分提供各部分同步信号，初始数据的设置及在测试过程中监视各部分的工作状态；机械控制面板负责载台的移动控制、报警信号及机械控制面板的键盘输入；电源系统为测试系统各部分提供一次电源；监视器监视载台的支架及显示测试结果； AD采集板实时采集测量信息，根据测试值控制测试进程；阵列探针卡通过探针与待测支架连接，传递检测电阻值，然后通过阵列探针卡的连线将测试值传输至阵列探针卡端口，再由阵列探针卡端口传输至测试装置的机械控制面板上；控制器控制监视器来显示测试结果。—种LED厚膜陶瓷支架的测试方法，其特征是将探针分别与对应待测支架的正负金属电极稳定接触，接通电源，测试出正负金属电极间的电阻值经由阵列探针卡端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡传入IPC总控制部分；IPC的总控制部分将测试值与设定指标范围进行对比，处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻值是否位于设定的指标范围内，并且标识出不合格单元的具体位置以便LED光源封装时有效剔除不合格单元。本专利技术提供的这种LED厚膜陶瓷支架测试装置和测试方法具有操作简单、便于数据收集、监测及追溯的特点，阵列测试可有效提高检测效率，并提高LED光源封装过程的生产效率。【附图说明】图1是LED阵列结构外形示意图。图2是阵列探针卡示意图图3是本专利技术测试装置与待测支架单元电极连接示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术的具体实施方法作进一步说明。如图3所示，一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置，其特征是该测试装置包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器部分、AD采集板、阵列探针卡和控制器；IPC总控制部分，提供各部分同步信号，初始数据的设置及在测试过程中监视各部分的工作状态；机械控制面板负责支架载台的移动控制、报警信号及面板的键盘输入；电源系统为测试系统各部分提供一次电源，各部分根据需要进行二次稳压、滤波，以减少纹波干扰，提高电源精度、检测精度及系统的稳定性；监视器主要用作监视载台的支架，用来观察测试单元的支架外观，及显示测试结果;AD采集板负责实时采集测量信息，根据测试值控制测试进程；阵列探针卡通过探针与对应待测支架的正负金属电极稳定连接，传递检测电阻值(检测电阻值包含标准电阻值，由于被测值为豪欧级，需串联标准电阻增加阻值的测试稳定性)，然后通过阵列探针卡的连线将测试值传输至探针卡端口，再由探针卡端口传输至测试装置的机械控制面板上；控制器控制监视器来显示测定电阻信息数据。测试方法为:探针分别与对应待测支架的正负金属电极稳定接触，测试出正负金属电极间的电阻信息数据经由阵列探针卡的端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡传入IPC总控制部分；IPC总控制部分将测试结果与设定指标范围进行对比、处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻信息数据是否位于设定的指标范围内，并且标识出不合格单元的具体位置以便LED光源封装时有效剔除不合格单元。图1是HL-3535H型LED阵列结构外形示意图，由11行26列的单元组成，按照图3所提供的测试装置技术方案，将图2所示结构的特制阵列探针卡的23根探针按序号分别与每一列的支架单元的正负金属电极进行可靠接触，接通电源，测试出正负金属电极间的电阻信息数据经由阵列探针卡的端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡经RS485总线和PLC总线传入IPC总控制部分。IPC的总控制部分将测试结果与设定指标范围(〈I Ω )进行对比、处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻信息数据是否位于设定的指标范围内，并且标识出阻值^ I Ω单元的为不合格品，以便LED光源封装时有效剔除不合格单元。【主权项】1.一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置，其特征是该测试装置包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器、AD采集板、阵列探针卡和控制器； IPC总控制部分提供各部分同步信号，初始数据的设置及在测试过程中监视各部分的工作状态； 机械控制面板负责载台的移动控制、报警信号及机械控制面板的键盘输入； 电源系统为测试系统各部分提供一次电源； 监视器监视载台的支架及显示测试结果； AD采集板实时采集测量信息，根据测试值控制测试进程； 阵列探针卡通过探针与待测支架连接，传递检测电阻值，然后通过阵列探针卡的连线将测试值传输至阵列探针卡端口，再由阵列探针卡端口传输至测试装置的机械控制面板上； 控制器控制监视器来显示测试结果。2.如权利要求1所述的LED厚膜陶瓷支架的测试装置，其特征是测试方法如下:将探针分别与对应待测支架的正负金属电极稳定接触，接通电源，测试出正负金属电极间的电阻值经由阵列探针卡端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡传入IPC总控制部分；IPC的总控制部分将测试值与设定指标范围进行对比，处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻值是否位于设定的指标范围内，并且标识出不合格单元的具体位置以便LED光源封装时有效剔除不合格单元。【专利摘要】本专利技术公开了一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置及测试方法，包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器、AD采集板、阵列探针卡和控制器。阵列探针卡的探针分别与对应待测支架的正负金属电极稳定接触，测试出正负金属电极间的电阻值经由阵列探针卡的端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡传入IPC总控制部分；IPC总控制部分将测试值与设定指标范围进行对比，处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻值是否位于设定的指标范围内本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置，其特征是该测试装置包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器、AD采集板、阵列探针卡和控制器；IPC总控制部分提供各部分同步信号，初始数据的设置及在测试过程中监视各部分的工作状态；机械控制面板负责载台的移动控制、报警信号及机械控制面板的键盘输入；电源系统为测试系统各部分提供一次电源；监视器监视载台的支架及显示测试结果；AD采集板实时采集测量信息，根据测试值控制测试进程；阵列探针卡通过探针与待测支架连接，传递检测电阻值，然后通过阵列探针卡的连线将测试值传输至阵列探针卡端口，再由阵列探针卡端口传输至测试装置的机械控制面板上；控制器控制监视器来显示测试结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：寇玉娟，张红娟，段晓燕，韩晴，岳晴瑞，王永生，高思静，
申请(专利权)人：陕西华经微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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