中科芯集成电路股份有限公司专利技术

中科芯集成电路股份有限公司共有63项专利

  • 本发明公开一种抗干扰的电容式触摸按键控制器及实现方法,属于触摸感应技术领域。该控制器包括触摸按键、电极电容、采样电容、防静电电阻、电子元器件、计数器和寄存器。触摸按键的一端通过电极电容接地,另一端通过防静电电阻分别与第一复位开关、充电开...
  • 本发明提供了一种同轴MEMS微镜及其制备方法,属于激光雷达探测技术领域。所述同轴MEMS微镜包括边框和边框内的第一微镜、第二微镜、转轴和多个梳齿。其中,转轴将边框分隔为两部分,第一微镜和第二微镜分别位于两部分中,并且通过连接梁连接,连接...
  • 本发明公开一种永磁同步电机的MTPA控制方法,属于电机控制技术领域。首先建立电磁转矩模型,根据实验数据计算出PMSM永磁体磁链及d‑q轴电感差值;然后推导出d‑q轴电流与电磁转矩间的关系;再对电磁转矩及d‑q轴电流进行仿真。本发明提供的...
  • 本实用新型涉及一种微镜结构,尤其是一种MEMS微镜结构,属于MEMS封装结构的技术领域。按照本实用新型提供的技术方案,所述MEMS微镜结构,包括制备于微镜框架内的微镜镜面,所述微镜镜面通过微镜驱动结构与微镜框架适配连接;还包括用于驱动控...
  • 本发明公开一种测试电路通断的电子装置,属于电路测试技术领域。所述测试电路通断的电子装置包括MCU,用于控制恒流源控制模块和IO电源驱动模块。恒流源控制模块输出恒定电流给IO开关控制模块;IO电源驱动模块控制IO选通模块。可以采用两种方式...
  • 一种带有空腔的衬底的制备方法
    本发明提供了一种带有空腔的衬底的制备方法,属于半导体衬底技术领域。所述带有空腔的衬底的制备方法包括如下步骤:首先在支撑衬底的表面形成多个凹槽和多个导气槽,然后在真空环境下将所述支撑衬底和器件衬底键合粘贴在一起,研磨所述器件衬底至指定厚度...
  • 本发明提供了一种电路板切割装置,属于电路板制造技术领域。所述电路板切割装置包括底座、转盘组件、活动支架和刀具,所述转盘组件安装在所述底座上,用于转动电路板;所述活动支架横跨于所述转盘组件;所述刀具设置在所述活动支架上,用于切割电路板。所...
  • 本发明提供了一种电缆支架、电缆支架的制作方法及使用方法,属于电缆设备技术领域。该电缆支架包括本体和所述本体上两个圆柱型支脚。本发明还提供了电缆支架的制作方法和使用方法,在放置电缆支架的位置以及电缆支架的中间涂覆胶水;将电缆支架放置在电缆...
  • 本发明揭示了一种焊接工装夹具以及焊接微波芯片的方法,属于芯片技术领域。所述焊接工装夹具包括:夹具底座和夹具压板,其中:所述夹具底座上设置有多个安装槽,所述安装槽的侧壁处设置有第一高度的第一台阶,所述第一台阶的侧壁处设置有第二高度的第二台...
  • 本发明涉及一种微镜结构,尤其是一种MEMS微镜结构,属于MEMS封装结构的技术领域。按照本发明提供的技术方案,所述MEMS微镜结构,包括制备于微镜框架内的微镜镜面,所述微镜镜面通过微镜驱动结构与微镜框架适配连接;还包括用于驱动控制微镜镜...
  • 指环陀螺玩具、指环陀螺玩具的控制方法以及装置
    本发明公开了一种指环陀螺玩具、指环陀螺玩具的控制方法以及装置,属于陀螺玩具制造技术领域。该指环陀螺玩具包括:至少一个圆柱体陀螺、至少一个第一指环和一个第二指环,其中:圆柱体陀螺的侧面上设置有一圈限位凸起,第一指环的外壁上设置有一圈与限位...
  • 指纹识别芯片测试设备
    本实用新型涉及一种指纹识别芯片测试设备,属于集成电路测试领域。该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件。该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,至少包含两组探针用于连接指纹识别芯片和测试...
  • 指纹识别芯片测试设备
    本发明涉及一种指纹识别芯片测试设备,属于集成电路测试领域。该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件,该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,至少包含两组探针用于连接指纹识别芯片和测试机的...
  • 激光打标设备
    本实用新型涉及一种打标设备,尤其是一种激光打标设备,属于激光打标的技术领域。按照本实用新型提供的技术方案,所述激光打标设备,包括机架;在所述机架的面板上设置用于实现工件上料的送料机构以及用于夹持并传送工件的旋转机构,沿旋转机构的转动方向...
  • 激光打标设备
    本发明涉及一种打标设备,尤其是一种激光打标设备,属于激光打标的技术领域。按照本发明提供的技术方案,所述激光打标设备,包括机架;在所述机架的面板上设置用于实现工件上料的送料机构以及用于夹持并传送工件的旋转机构,沿旋转机构的转动方向上依次设...
  • 本实用新型涉及一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具。测试支座通过三维调整机构连接在测试底座上,压块限位块安装在测试支座的顶部,压块限位块中间开有槽口,测试压块置于压块限位块的槽口内并能上下移动;在测试支座和压块限位块之间安...
  • 本发明涉及一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具。测试支座通过三维调整机构连接在测试底座上,压块限位块安装在测试支座的顶部,压块限位块中间开有槽口,测试压块置于压块限位块的槽口内并能上下移动;在测试支座和压块限位块之间安装有...
  • 本实用新型公布了一种应用于直接发射机的锁相环环路滤波器电路,包括CMOS传输门S1、S2、S3,单位增益放大器A1,VFD节点电压产生电路P1,以及主滤波电路P2;S1的右端分别与S2的左端、S3的右端相连,S1的左端与锁相环中的模块电...
  • 本发明公布了一种应用于直接发射机的锁相环环路滤波器电路,包括CMOS传输门S1、S2、S3,单位增益放大器A1,VFD节点电压产生电路P1,以及主滤波电路P2;S1的右端分别与S2的左端、S3的右端相连,S1的左端与锁相环中的模块电荷泵...
  • 本发明公开了一种应用于低功耗系统的放大器电路,包括CMOS晶体管M1、M2、M3、M4,电阻R1、R2、R3、R4,电容C1、C2,以及电流源IDC;M1的源端分别与M2的源端、IDC的上端相连,M1的漏端与M3的源端之间连接有R1,M...