指纹识别芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种指纹识别芯片测试设备，属于集成电路测试领域。该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件。该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，至少包含两组探针用于连接指纹识别芯片和测试机的探针模组，芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与承载台上的同数量的指纹识别芯片底部一一相对接触，探针模组的至少两组探针与承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。本实用新型专利技术生产过程中通过电机带动指纹识别芯片基板逐列进行测试，每次同时测试多颗，大大提高了指纹识别芯片测试效率。

Fingerprint identification chip test equipment

The utility model relates to a fingerprint identification chip testing device, which belongs to the field of integrated circuit testing. The fingerprint identification chip testing device includes a bearing platform, a probe module and a fingerprint simulation module for carrying a chip substrate. The fingerprint simulation assembly includes at least two is used to simulate the fingerprint information of the fingerprint simulation head, contains at least two sets of probe probe for fingerprint identification chip and module is connected to the testing machine, Pu chip substrate is provided with at least two fingerprint identification chip, fingerprint analog components at least two fingerprint simulation table head at the bottom of the same number of the fingerprint identification one relative chip and the bearing contact probe module at least two sets of probes and bearing upper fingerprint identification chip on the same number of the corresponding contact. In the production process of the utility model, the fingerprint identification chip base is driven by motor to test one by one, and the number of tests is tested at the same time, greatly improving the test efficiency of the fingerprint identification chip.

【技术实现步骤摘要】
指纹识别芯片测试设备
本技术属于集成电路测试领域，尤其涉及一种指纹识别芯片测试设备。
技术介绍
指纹识别芯片被应用到各种领域，比如手机上、打卡机上等。为了保证指纹识别芯片的合格率，在指纹识别芯片出厂之前需要对指纹识别芯片进行测试。传统的指纹识别芯片测试设备仅能对单工位逐颗进行测试，这种测试设备测试效率低，生产中需要大量劳动力来保证产量，因此，设计一种多工位指纹设别芯片基板测试设备来提高指纹识别芯片测试效率成为该行业亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服目前单工位指纹识别芯片测试效率低的不足，提供一种多工位指纹设别芯片基板测试设备，其能够对指纹识别芯片基板进行多工位测试。本技术提供了一种指纹识别芯片测试设备，该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件，该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，该探针模组包含至少两组探针，至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机，该芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，该指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触，该探针模组的至少两组探针与承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。通过在测试时，将至少两个指纹模拟头与同数量的指纹识别芯片一一相对，至少两组探针与承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触，至少两个指纹模拟头同时模拟指纹信息，至少两组颗指纹识别芯片与测试机连通，与其对应的至少两个指纹识别芯片则同时对所接触的指纹模拟头模拟的指纹信息进行识别，从而实现了多工位指纹识别芯片的测试，提高了指纹识别芯片的测试效率。可选的，该指纹识别芯片测试设备还包括与指纹模拟组件连接的第一驱动装置，第一驱动装置带动指纹模拟组件在垂直于承载台所在面的方向上往复运动。通过设置带动指纹模拟组件在垂直于承载台所在面的方向上往复运动，使得在测试时，将指纹模拟头与承载台上承载的指纹识别芯片接触，从而保证指纹识别芯片对指纹模拟头所模拟的指纹进行采集和识别。进一步的，第一驱动装置可以包括一个电机、一个凸轮连杆机构和两根直线导轨，该电机通过凸轮连杆机构驱动模拟指纹头上下运动。可选的，该指纹识别芯片测试设备还包括打点头和第二驱动装置，第二驱动装置与打点头连接，第二驱动装置带动打点头在垂直于承载台所在面的方向上往复运动。通过设置打点头以及用于驱动打点头的第二驱动装置，可以使得在指纹识别芯片测试结果为不良品时，对该指纹识别芯片进行标记，避免了人工标记，节省了人工成本。进一步的，第二驱动装置可以包括一个电机和两个同步带轮。可选的，该指纹识别芯片测试设备还包括与打点头连接的第三驱动装置，第三驱动装置带动打点头在需要打点的位置以及打点材料提供位置之间运动。通过设置可以带动打点头在需要打点的位置以及打点材料提供装置之间运动的第三驱动装置，使得打点头可以及时蘸取打点材料，保证能够清楚打点。进一步的，第三驱动装置可以包括一个电机和一个单轴直线运动模组。可选的，该指纹模拟组件位于承载台的下方，打点头位于承载台的上方，探针模组位于承载台上方。可选的，该指纹识别芯片测试设备还包括第四驱动装置，第四驱动装置与承载台连接，第四驱动装置带动承载台进行升降运动进一步的，第四驱动装置可以包括一个电机、一根滚珠丝杆、至少两根支撑杆和至少两根导向轴，支撑杆用于支撑承载台，导向轴对承载台进行导向，该电机通过驱动滚珠丝杆以带动支撑杆对承载台进行升降运动。通过设置带动承载台进行升降运动的第四驱动装置，承载台上的指纹识别芯片基板与通过与探针接触实现与测试机之间的连通。可选的，该指纹识别芯片测试设备还包括第五驱动装置，第五驱动装置与承载台连接，第五驱动装置带动承载台在上料方向、下料方向，和/或，测试步进方向上运动。进一步的，第五驱动装置包括电机、滚珠丝杆、至少一根直线导轨和滑板。通过设置第五驱动装置，可以使得方便芯片基板的上料、下料以及测试步进。可选的，承载台上包括用于对所承载的芯片基板进行定位的定位装置以及用于压紧所承载的芯片基板的压紧装置。可选的，该指纹识别芯片测试设备还包括控制系统，控制系统与指纹模拟组件以及承载台上的指纹识别芯片电性连接，控制系统在承载台上待测试的指纹识别芯片测试结果为不良品时，存储不良品在芯片基板上的位置，指纹识别芯片的标识用于唯一标识指纹识别芯片。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。图1是本技术在一个实施例中提供的一种指纹识别芯片测试设备的结构示意图；图2是图1所提供的指纹识别芯片的测试设备的正面图；图3是图1所提供的指纹识别芯片的测试设备的另一种结构示意图；其中，1-工控机；2-显示器；3-底板；4-X轴电机；5-X轴滚珠丝杆；6-X轴直线导轨；7-X轴滑板；8-第三Z轴电机；9-第三Z轴滚珠丝杆；10-第三Z轴支撑杆；11-第三Z轴导向轴；12-横梁；13-承载台；14-打点头；15-第二Z轴电机；16-Y轴直线运动模组；17-Y轴电机；18-上面板；19-第一Z轴电机；20-第一Z轴直线导轨；21-凸轮连杆机构；22-探针模组。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。为了能够实现同时对至少两个指纹识别芯片进行测试，本申请中提供一种包含至少两个指纹模拟头的指纹模拟组件和至少包含两组探针的探针模组，在测试时，可以同时模拟至少两个指纹信息，以供至少两个指纹识别芯片进行识别，从而实现至少两个指纹识别芯片的并行测试，提供了指纹识别芯片的测试效率。下面结合图1至图3对本申请提供的指纹识别芯片测试设备进行举例说明。本申请提供的指纹识别芯片测试设备包括控制系统，比如图1中的工控机1，该控制系统可以由软件、硬件或软硬件结合的方式实现，常见的，可以为控制芯片，该控制芯片中存储有控制程序，控制程序中包含测试过程中需要的各种控制指令，比如控制电机进行驱动，控制指纹识别芯片对指纹信息进行识别等。另外，为了便于对测试进程和/或测试结果的显示，本申请提供的指纹识别芯片测试设备还包括显示器2，显示器2与工控机1进行电性连接。本申请提供的指纹识别芯片测试设备还包括用于承载芯片基板的承载台13，用于连接指纹识别芯片和测试机的探针模组22和指纹模拟组件，该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，探针模组22包含至少两组探针以用于连接指纹识别芯片和测试机，芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触，探针模组22的至少两组探针与承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。这里所讲的测试机用于根据指纹识别芯片采集到的指纹信息判定指纹识别芯片是否为不良品。进一步的，测试机还与控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件，所述指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，所述探针模组包含两组探针，所述至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对所述指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机，所述芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，所述指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触，所述探针模组的至少两组探针与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。

【技术特征摘要】
1.一种指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件，所述指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，所述探针模组包含两组探针，所述至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对所述指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机，所述芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，所述指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触，所述探针模组的至少两组探针与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。2.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括与所述指纹模拟组件连接的第一驱动装置，所述第一驱动装置带动所述指纹模拟组件在垂直于所述承载台所在面的方向上往复运动。3.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括打点头和第二驱动装置，所述第二驱动装置与所述打点头连接，所述第二驱动装置带动所述打点头在垂直于所述承载台所在面的方向上往复运动。4.根据权利要求3所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括与所述打点头连接的第三驱动装置，所述第三驱动装置带动所述打点头在需要打点的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘三利，王露露，张佳佳，潘杰，李文斌，
申请(专利权)人：中科芯集成电路股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32