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致茂电子苏州有限公司专利技术
致茂电子苏州有限公司共有407项专利
检测装置及其探针模块制造方法及图纸
本发明公开了一种检测装置及其探针模块,通过探针模块提供电池检测架与待测电池间的电性连接路径,探针模块包含:座体、第一极性片体、第二极性片体、第一上连接组、第二上连接组、第一下连接件、第二下连接件。通过第一极性片体,第一上连接组对应耦接电...
设定方法及测试机技术
一种设定方法及测试机,设定方法包含后续步骤。控制测试机以将测试机的脚位设定为第一状态,以读取功能模块的第一状态数据。控制测试机以将测试机的脚位设定为第二状态,以读取功能模块的第二状态数据。若第一状态数据等于第二状态数据,根据第一状态数据...
双向交流功率转换装置制造方法及图纸
本申请提供一种双向交流功率转换装置,用于输入或输出第一交流电能,所述双向交流功率转换装置包含数字控制模块以及功率转换模块。数字控制模块用以产生控制信号。功率转换模块依据控制信号设定输入或输出的第一交流电能。其中当数字控制模块判断第一交流...
试管压盖装置制造方法及图纸
本发明涉及一种试管压盖装置,主要包括上盖载盘、试管载盘以及升降台;当升降台上升,带动试管载盘及其上的试管上升,并使试管与装载于上盖载盘的上盖进行接合;当接合完成后,升降台带动试管载盘及试管下降,而已经与试管压合的上盖将顺势脱离上盖载盘并...
变压装置制造方法及图纸
一种变压装置,其包含交流电源电路、交流升降压电路及控制电路。交流电源电路用以输出交流电。交流升降压电路包含变压器,且变压器包含第一线圈以及第二线圈。第一线圈选择性地串联于第二线圈。控制电路用以控制交流电源电路直接输出交流电以作为输出电压...
测试装置及其适配器支架制造方法及图纸
一种测试装置及其适配器支架,适配器支架包含一座体与一固接件。座体包含一第一条状体及一第二条状体。第一条状体包含多个第一破口。第一破口线性排列于第一条状体的一面上。第二条状体包含多个第二破口。第二破口线性排列于第二条状体的一面上。固接件可...
具有波形检测功能的测试端机台及波形检测方法技术
一种具有波形检测功能的测试端机台包含:第一存储器与第二存储器;处理器,接收一个指示一个期望波形输出的每一周期的一个波形时间数据及对应的一个波形动作数据的波形输出指令,及一个指示一个波形撷取时间范围的特定波形输出指令,将所述波形时间数据及...
电子元件检测设备的温度控制系统及其方法技术方案
本发明涉及一种电子元件检测设备的温度控制系统及其方法,主要包括测试座
液冷系统技术方案
本发明涉及一种液冷系统
近眼显示设备的光学自动化测量系统技术方案
本实用新型涉及一种近眼显示设备的光学自动化测量系统,具体手段为,控制器先控制近眼显示设备显示特定图案;且控制位移产生模块以驱使影像感测模块朝成像模块趋近或远离,并控制影像感测模块分别拍摄特定图案以获取多个对焦影像;而控制器便根据多个对焦...
热接口材料的老化测试系统技术方案
本发明涉及一种热接口材料的老化测试系统
可变深度芯片置放座及具备该置放座的芯片测试系统技术方案
本实用新型提供一种可变深度芯片置放座及具备该置放座的芯片测试系统,而可变深度芯片置放座包括基座、浮动板及多个弹性复位件;基座包括凹槽及芯片置放部,浮动板容设于基座的凹槽内,且浮动板包括贯穿孔,而芯片置放部自浮动板的贯穿孔露出。多个弹性复...
晶圆检测系统技术方案
本实用新型公开了一种晶圆检测系统,其包含承载装置、探针卡、第一金属套件及环绕式阻隔单元。其中,探针卡包括探测部及围绕于探测部周边且配置在探针卡底面的导电层;第一金属套件配置于探针卡的底部且与导电层耦接,第一金属套件包括第一窗口及自第一窗...
堆栈式半导体封装构件的测试方法及测试设备技术
本发明涉及一种堆栈式半导体封装构件的测试设备,主要包括取放装置、取放装置、上层芯片座及主控制器;其中,当要测试第一封装组件时,主控制器控制取放装置于测试座上加载第一封装组件后,主控制器控制取放装置移载上层芯片座而电性接触测试座上的第一封...
晶圆载盘与晶圆检测方法技术
本申请提供一种晶圆载盘与晶圆检测方法,所述晶圆载盘用以承载放置于薄膜上的晶圆并且包含本体。所述本体具有内侧面、底面以及相对于底面的开口,内侧面、底面以开口之间定义有内部空间,底面用以承载放置于薄膜上的晶圆。其中内侧面设有多个抽气孔,所述...
电池探针模块制造技术
本申请提供一种电池探针模块,用以检测电池,电池定义有接触面,接触面区分有不同极性的第一电极区域与第二电极区域。电池探针模块包含框架与多个探针单元。框架具有相对的顶板与底板。每一个探针单元包含座体、第一探针以及多个第二探针。所述座体定义有...
电子产品测试装置制造方法及图纸
一种电子产品测试装置包含一测试台与一对位机构。测试台包含一支撑架与一连接器。连接器位于支撑架的顶部。对位机构包含一框架、一探针卡及一持板治具。框架安装于支撑架的顶部。持板治具活动地位于框架上用以将探针卡夹合其中,且外露探针卡的探针。升降...
用于马达测试系统的全开式与全角度的堵转装置制造方法及图纸
本实用新型公开了一种用于马达测试系统的全开式与全角度的堵转装置,以对待测马达提供堵转功能。堵转装置包含基座、驱动源衔接模块及制动模块。驱动源衔接模块包括联轴器及可分离地接合在一起的第一碟盘与第二碟盘,第一碟盘与第二碟盘固定于联轴器上,联...
用于检测图像模块的继电器板组件及其检测系统技术方案
本发明公开了一种用于检测图像模块的继电器板组件及其检测系统,继电器板组件包括图像采集卡及图像测试信号产生卡,图像采集卡上包括图像信号接收器及第一切换模块,图像测试信号产生卡上包括第二及第三切换模块以及搭载有标准图像信号处理器,通过受控于...
双回道检测装置及其检测方法制造方法及图纸
本申请提供一种双回道检测装置及其检测方法,所述的装置是至少包含一测试平台、一承载盘与一检测单元,该测试平台于一侧设置有一第一位移机构与一第三位移机构,另一侧设置有一第二位移机构与一第四位移机构;其中,该第一位移机构与该第二位移机构带动其...
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