用于补偿液晶显示器的数据线阻抗的方法技术

本发明专利技术提出了一种用于补偿液晶显示器的数据线阻抗的方法，属于液晶显示技术领域。所述方法包括如下步骤：设置步骤：设置存储器和减法器；测量步骤：测量待补偿数据线的阻抗值，并将所述阻抗值输入到所述存储器中；计算步骤：通过所述减法器对在测量步骤中所测量的阻抗值进行计算，获取对应数据线所需的阻抗补偿值；补偿步骤：通过数据驱动单元读取在计算步骤中所获取的阻抗补偿值，并根据所述阻抗补偿值对相应的数据线进行阻抗补偿以得到与相应数据线相对应的负载总阻抗。根据本发明专利技术的方法保证了均匀、理想的显示效果，避免了垂直黑白带和色偏等显示不良现象。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提出了一种，属于液晶显示
。所述方法包括如下步骤：设置步骤：设置存储器和减法器；测量步骤：测量待补偿数据线的阻抗值，并将所述阻抗值输入到所述存储器中；计算步骤：通过所述减法器对在测量步骤中所测量的阻抗值进行计算，获取对应数据线所需的阻抗补偿值；补偿步骤：通过数据驱动单元读取在计算步骤中所获取的阻抗补偿值，并根据所述阻抗补偿值对相应的数据线进行阻抗补偿以得到与相应数据线相对应的负载总阻抗。根据本专利技术的方法保证了均匀、理想的显示效果，避免了垂直黑白带和色偏等显示不良现象。【专利说明】
本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种。
技术介绍
为了节省制造成本并降低面板价格，数据驱动单元(source IC)的设计已在大尺寸面板中得到广泛应用。图1示意性显示了薄膜晶体管液晶显示器的阵列基板的结构示意图。参照图1，设显示器的数据线共2n条，则在图中从一侧至另一侧按顺序将数据线排号。X1、X2……X(n-l)、X(n)……X(2n-1)、X(2n)分别表示液晶显示器的2n条数据线。图1显示了现有技术中数据驱动单元(source IC)的面板结构示意图。参照图1，对于大尺寸面板，靠近数据驱动单元(source IC)的面板的中间数据线和远离数据驱动单元(source IC)的面板的两端数据线二者的阻抗差异较大。图2示意性显示了理想状态下的数据线阻抗，其中横坐标表示数据线的排号，纵坐标表示不同排号的数据线的阻抗值。在图2中，RO示意性表示理想阻抗(即阻抗补偿的基准值)，黑色实线示意性表示理想状态下的不同排号的数据线的阻抗值，Rl示意性表示理想状态下最小的数据线阻抗值。可见理想状态下，数据线阻抗值对于数据线X(I)到X(n)而言为递减的等差数列，数据线阻抗值对于数据线X(n+1)到X(2n)而言为递增的等差数列。其中数据线X(n)和X(n+1)所对应的阻抗值最小，为最小数据线阻抗值R1。图3示意性显示了理想状态下的补偿`阻抗；其中横坐标表示数据线的排号，纵坐标表示阻抗补偿值。如图3所示，为了补偿数据线因位置不同而阻抗不等，在数据驱动单元(source IC)的内部根据不同数据线之间的阻抗差异，可以进行固定阻抗补偿。黑色实线示意性表示理想状态下的不同排号的数据线的阻抗补偿值。由图3可看出，在理想状态下，数据线阻抗补偿值对于数据线X(I)到X(n)而言为递增的等差数列，数据线阻抗补偿值对于数据线X(n+1)到X(2n)而言为递减的等差数列。其中数据线X(n)和X(n+1)所对应的阻抗补偿值最大，为图1中的R0-R1，即理想阻抗值与最小的数据线阻抗值的差。图4显示了理想状态下数据驱动单元的负载总阻抗。可以看出理想状态下负载总阻抗的函数图像是一条直线，即所有的数据线所对应的负载总阻抗值均相等，等于理想阻抗值RO。然而，图2、图3、图4所描述的为现有技术中的阻抗补偿技术方案在理想状态下的结果。下面将结合图5、图6、图7介绍实际情况中的数据线阻抗补偿情况。在现实情况中，由于受工艺条件限制，实际的液晶面板数据线阻抗分布并非如图2所示，而是如图5所示。图5中的横坐标表示不同的数据线排号，图5的实线显示了实际情况中不同数据线的阻抗。与图2对比，可见实际情况中数据线阻抗的分布在最小阻抗Rl和基准阻抗值RO之间并非等差数列，而是具有一定的无规则波动。图6显示了现有技术中的补偿阻抗分布。图6的内容与图3内容一致，即在现有技术中，在实际操作中也是采取理想状态下的补偿方案。参照图6，黑色实线表示现有技术中不同排号的数据线的阻抗补偿值。即，在现有技术的数据线补偿方案中，数据线阻抗补偿值对于数据线X(I)到X(n)而言为递增的等差数列，数据线阻抗补偿值对于数据线X(n+1)到X(2n)而言为递减的等差数列。其中数据线X(n)和X(n+1)所对应的阻抗补偿值最大，为图1中的R0-R1，即理想阻抗值与最小的数据线阻抗值的差。然而，由于实际工艺造成了图5所示的实际数据线的阻抗分布相对于图2所示的理想状态的数据线阻抗分布而言具有不规则的波动偏差，因此根据现有技术中的补偿方案，实际补偿后的负载总阻抗如图7所示。图7中的黑色实线示意性显示了现有技术中数据驱动单元的负载总阻抗。参照图7可看出，在实际情况中，因工艺条件造成的波动并不能进行改善，图7中的图像无法与理想的图4的图像相重合。而当工艺条件波动幅度达到一定程度，就会影响显示效果，如造成垂直黑白带和色偏等显示不良现象。
技术实现思路
针对上述现有技术中的问题，即现有技术中的用于补偿数据线阻抗值的方法不能够消除实际工艺所造成的数据线阻抗波动，导致补偿后的负载总阻抗相对于理想负载总阻抗而言存在偏差，本专利技术提出了一种改进的用于补偿数据线阻抗值的方法。本专利技术提出了一种。在实施方案I中，所述方法包括如下步骤:设置步骤:设置存储器和减法器；测量步骤:测量待补偿数据线的阻抗值，并将所述阻抗值输入到所述存储器中；计算步骤:通过所述减法器对在测量步骤中所测量的阻抗值进行计算，获取对应数据线所需的阻抗补偿值；补偿步骤:通过数据驱动单元读取在计算步骤中所获取的阻抗补偿值，并根据所述阻抗补偿值对相应的数据线进行阻抗补偿以得到与相应数据线相对应的负载总阻抗。根据本专利技术的方法的负载总阻抗的函数图像是一条直线，即所有的数据线所对应的负载总阻抗值均相等。这是由于根据本专利技术的方法有效对实际工艺所造成的数据线阻抗值波动进行了补偿。保证了均匀、理想的显示效果，避免了垂直黑白带和色偏等显示不良现象。在根据实施方案I所改进的实施方案2中，在所述设置步骤中，将所述存储器和所述减法器设置在所述液晶显示器的印刷电路板上。如此布置，可有利地节省面板空间、制造工序和制造成本。在根据实施方案I或2所改进的实施方案3中，在所述测量步骤中，通过接触式测量方法或非接触式测量方法来测量待补偿数据线的阻抗值。如此可精准、方便地获取待补偿数据线的实际阻抗值，为计算步骤和补偿步骤奠定基础。在根据实施方案I到3中任一个所改进的实施方案4中，在阵列基板测试工序中进行所述测量步骤。如此的操作方式可以有效节省工艺程序、降低生产成本。在根据实施方案I到4中任一个所改进的实施方案5中，在所述测量步骤中，测量位于液晶显示器的显示区域和非显示区域中的所有数据线的阻抗值。这样可以一次性对所有的数据线进行补偿，使得补偿效果最好，显示画面最佳，在任何区域避免垂直黑白带或色偏、色不均现象。在根据实施方案I到5中任一个所改进的实施方案6中，在所述计算步骤中，所述减法器通过获取在所述测量步骤中所测得的数据线的阻抗值与基准阻抗值之间的差值来获取所述阻抗补偿值。如此的获取方式最为快捷、方便、高效，能够精准地对数据线阻抗进行补偿，以得到均等的负载总阻抗输出和均一的显示画面。在根据实施方案6所改进的实施方案7中，所述基准阻抗值为在测量步骤中所测量的最大的数据线阻抗值。在根据实施方案I到7中任一个所改进的实施方案8中，在所述补偿步骤后，所有数据线所对应的负载总阻抗都相等。如此，数据线阻抗的差异得到了有效补偿，从而保证了显示器显示画面的均一性，避免了色不均现象和其它的显示不良现象。在根据实施方案8所改进的实施方案9中，所述负载总阻抗等于在所述测量步骤中所测得的最大的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐向阳，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：