一种测定皮革材料中铅含量的方法及其专用切割压片装置制造方法及图纸

技术编号:9989948 阅读:139 留言:0更新日期:2014-05-02 01:05
本发明专利技术公开了一种测定皮革材料中铅含量的方法及其专用切割压片装置。该方法包括以下步骤:首先,将待测定的皮革切割成等宽的条状材料;其次,将上述的条状材料放入切割装置中,通过折叠层数的不同,经过切割、压片制作成多组不同厚度的待测样品;然后,将待测样品放入X射线荧光光谱仪中,该X射线荧光光谱仪将对待测的样品进行测定,测量出每组待测样品中的铅含量,取趋于稳定的若干组铅含量数值的平均数;接着,将上述待测样品翻转,按照上述方式测量其反面的铅含量数值,同样取趋于稳定的若干组铅含量数值的平均数;最后,取两组平均数的品均值,即为该皮革材料的铅含量数值。上述技术方案相对于传统的微波消解-ICP方法,其利用X射线荧光光谱仪的特性,提出用一种新型X射线荧光光谱法直接测定皮革材料中的铅,是一种快速、有效、样品性质非破坏性的测试方法。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种测定皮革材料中铅含量的方法及其专用切割压片装置。该方法包括以下步骤:首先,将待测定的皮革切割成等宽的条状材料;其次,将上述的条状材料放入切割装置中,通过折叠层数的不同,经过切割、压片制作成多组不同厚度的待测样品;然后,将待测样品放入X射线荧光光谱仪中,该X射线荧光光谱仪将对待测的样品进行测定,测量出每组待测样品中的铅含量,取趋于稳定的若干组铅含量数值的平均数;接着,将上述待测样品翻转,按照上述方式测量其反面的铅含量数值,同样取趋于稳定的若干组铅含量数值的平均数;最后,取两组平均数的品均值,即为该皮革材料的铅含量数值。上述技术方案相对于传统的微波消解-ICP方法,其利用X射线荧光光谱仪的特性,提出用一种新型X射线荧光光谱法直接测定皮革材料中的铅,是一种快速、有效、样品性质非破坏性的测试方法。【专利说明】一种测定皮革材料中铅含量的方法及其专用切割压片装置
:本专利技术涉及皮革测量方法
,特指一种测定皮革材料中铅含量的方法及其专用切割压片装置。
技术介绍
:根据ConsumerProduct Safety Commission(CPSC消费者产品安全协会)的CPSIAH.R.4040 法案和 Restriction of the use of certain Hazardous Substances (RoHS 使用有害物质限制指令)的要求,对皮革及其制品中的铅含量进行限制。即对所有皮革产品中的铅含量必须设限,这样以来就必须对皮革产品中的铅含量进行检测。目前检测皮革产品中的铅含量普遍采用的方法为微波消解-1CP方法。这种方法的原理就是:将待测定的皮革样品绞碎,然后将绞碎后的样品放入消解罐中,在消解罐中加入适量的酸溶液,通常采用的是hno3、hc1、HF、H202等,然后将消解罐密封,放入微波炉中。当微波通过样品时,极性分子随微波频率快速变换取向,分子来回转动,与周围分子相互碰撞摩擦,分子的总能量增加,使试样温度急剧上升。同时,试液中的带电粒子(离子、水合离子等)在交变的电磁场中,受电场力的作用而来回迁移运动,也会与临近分子撞击,使得试样温度升高,这样样品在高温、增压条件下被快速溶解。接着对消解罐中的溶液采用ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱仪)、ICP-MS (电感耦合等离子体质谱)或是AAS (原子吸收分光光度计)进行检测,以检测溶液中的铅元素的含量,从而测定皮革材料中的铅含量是否超标。由以上描述可以看出,目前的微波消解-1CP检测程序不仅繁琐费时,而且必须对样品进行破坏性处理。这种方式在目前的检测过程中已经越来越制约了检测的效率,无法使用目前的需求,针对于此,本专利技术人曾提出采用EDXRF (X射线荧光分析仪)方法,这种方法不仅耗时短,而且相对检测成本较低。EDXRF分析方法通常用于土壤重金属测定、金属镀层测定等设计金属测定的情况,在皮革中应用存在一定的局限新,由于X射线的穿透性非常高,这样导致最后所记录的光谱中不仅包括了样品的光谱,也包含了大量样品背景元素的光谱,从而造成最后所测量的铅金属含量可能高于实际含量,最终导致产品的测量值出现较大误差。本专利技术人针对上述情况,经过不断的研究,并提出各种对测定制的校正方法,最终提出以下技术方案。
技术实现思路
:本专利技术所要解决的技术问题就是克服现有技术的不足,提供一种测定皮革材料中铅含量的方法。为解决上述技术问题,本专利技术采用了如下的技术方案:该方法所使用的测量仪器为:X射线荧光光谱仪以及用于对皮革材料进行切割压片的切割装置;该方法包括以下步骤:首先,将待测定的皮革切割成等宽的条状材料;其次,将上述的条状材料放入切割装置中,通过折叠层数的不同,经过切割、压片制作成多组不同厚度的待测样品;然后,将待测样品放入X射线荧光光谱仪中,该X射线荧光光谱仪将对待测样品的进行测定,按照公式LLD = 3#-计算检出限,Nb是背景测量计数,测量出每组待测样品中的铅含量,统计所得到的待测样品中的铅含量数值,不同厚度待测样品的铅含量数值存在不同,但厚度达到一定数值后,该铅含量数值趋于稳定,取趋于稳定的若干组铅含量数值的平均数;接着,将上述待测样品翻转,按照上述方式测量其反面的铅含量数值,同样取趋于稳定的若干组铅含量数值的平均数;最后,取两组平均数的品均值,即为该皮革材料的铅含量数值。进一步而言,上述技术方案中,所述的测定方法中还采用了康谱顿校正方式,即所述的X射线荧光光谱仪采用三维偏振的光路设计,消除散射的X射线管靶材光谱。进一步而言,上述技术方案中,所述X射线荧光光谱仪采用的是荷兰帕纳科公司Epsilon5能量色散X射线荧光光谱仪。进一步而言,上述技术方案中,所述的待测样品的铅含量趋于稳定时,其厚度至少为 6mm。上述技术方案相对于传统的微波消解-1CP方法,其利用X射线荧光光谱仪的特性,提出用一种新型X射线荧光光谱法直接测定皮革材料中的铅,是一种快速、有效、样品性质非破坏性的测试方法。上述技术方案中,测定皮革材料中铅含量的方法中所使用的专用切割压片装置采用了如下的技术方案:该装置包括:底座和压座,其中底座上固定设置有第一导杆,于第一导杆上套设有第一弹簧,所述的第一导杆穿过压座,并且第一弹簧位于底座和压座之间,所述的压座上方与压力产生装置连动;所述的底座上方设置有下模座,压座下方对应下模座的位置设置有上刀座,上刀座上安装有切刀。进一步而言,上述技术方案中,所述的压座包括:上压板、下压板以及连接上、下压板的连接板,于上、下压板之间设置有第二导杆、于第二导杆上套设有第二弹簧,一连动板套设在第二导杆上,且连动板的下方固定有一延伸轴,该延伸轴穿过下压板及上刀座,于延伸轴的末端固定有一垫片。进一步而言,上述技术方案中,所述的切刀主体呈套筒状,沿其上边缘开设有卡槽;所述的上刀座上对应卡槽的位置形成形凸块,通过凸块与卡槽的配合将切刀固定连接在上刀座上。本专利技术为了便于检测而提出了一种专用的切割装置,使用时,先将皮革折叠放在有刀槽下模座上,然后通过压力产生装置(如气缸、油缸等)施加对压板的压力,使垫片压住皮革,继续施加压力使上刀座上的切刀切割皮革,切割完成后,压板继续施压,通过下压板带动刀座使垫片继续对皮革施加压力,以进行皮革的压片作业,数分钟后压片完成,释放压力,压板在第一弹簧带动下抬起,同时连动板在第二弹簧带动下通过延伸轴使垫片将压制好的皮革样品弹出,样品压片置于下模座上,供下一步检测使用。本切割装置可以一次性完成切割、压片作用,使用方便,并且效率大大提高。【专利附图】【附图说明】:图1-1是本专利技术专用切割装置的主视结构图;图1-2是本专利技术专用切割装置的坐视结构图;图2-6是本专利技术测定不同皮革材料的数据表;图7是使用本专利技术的方法和传统的微波消解-1CP法测量皮革铅含量的对照表。【具体实施方式】:一、本专利技术所使用的仪器和装置。本专利技术为一种测定皮革材料中的铅含量方法,建议使用以下检测仪器:荷兰帕纳科公司Epsilon5能量色散X射线荧光光谱仪,该光谱仪配有Sc/W复合靶材X光管,并有多达十五个采用二次靶可供选择激发,可使测量元素达到最佳激发;光路系统并使用为三维偏振光路,有效降低背景,达到非常低的检出限;高达IOOkV的激发电压,使测量重金属本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王斌黄雪琳黄伟刘淑君李菊张江锋温健昌付登洲杨丽
申请(专利权)人:东莞出入境检验检疫局检验检疫综合技术中心
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1