观察图形光谱的天文滤光片制造技术

一种观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、171nm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、481nm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术所设计的一种信噪比高、稳定性好、有效提高物体温度测量分辨能力和检测精度使用要求的观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，该观察图形光谱的天文滤光片，通过上述的设计，实现了稳定性好，且能适用于物体的温度感应和测量，该滤光片3200～4500nm、Tavg≥90％，2000～2800nm、Ravg≤90%，大大提高了信噪比，在用于物体温度的测量和感应时，能有效的提高分辨能力和检测精度，更好的满足实际中的使用要求。【专利说明】观察图形光谱的天文滤光片
本技术涉及滤光片领域，尤其是一种观察图形光谱的天文滤光片。
技术介绍
红外滤光片过滤、截止可见光同时允许通过红外线。红外线的波长很容易地穿透任何的物体，也就是红外线在经过物体时不会发生折射。利用红外线的这个特性，只让长波长的红外线通过，滤除短波长的紫外线和可见光。应用于很多领域，目前对于物体温度的感应和测量过程中，选择合适的波长范围至关重要。而现有长波通红外滤光片在使用过程中存在着测温不稳定、精确度不高等特点，特别是透过率和截止区的信噪比不高，不能满足高精度的测量要求。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种信噪比高、稳定性好、有效提高物体温度测量分辨能力和检测精度使用要求的观察图形光谱的天文滤光片。为了达到上述目的，本技术所设计的观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、17Inm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、48Inm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。上述各材料对应的厚度，其允许在公差范围内变化，其变化的范围属于本专利保护的范围，为等同关系。通常厚度的公差在1Onm左右。本技术所得到的观察图形光谱的天文滤光片，通过上述的设计，实现了稳定性好，且能适用于物体的温度感应和测量，该滤光片3200~4500nm、Tavg≥90%, 2000~2800nm、Ravg ≤ 90%，大大提高了信噪比，在用于物体温度的测量和感应时，能有效的提高分辨能力和检测精度，更好的满足实际中的使用要求。【专利附图】【附图说明】图1是实施例整体结构示意图；图2是实施例提供的红外光谱透过率实测曲线图。【具体实施方式】下面通过实施例结合附图对本技术作进一步的描述。实施例1:如图1、图2所示，本实施例描述的观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板2，以Ge、SiO为第一镀膜层I和以Ge、SiO为第二镀膜层3，且所述基板2位于第一镀膜层I和第二镀膜层3之间，所述第一镀膜层I由内向外依次排列包含有:102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、17Inm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层3由内向外依次排列包含有:90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、481nm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。【权利要求】1.一种观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、171nm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、48Inm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。【文档编号】G02B5/20GK203551821SQ201320777825【公开日】2014年4月16日 申请日期:2013年11月29日 优先权日:2013年11月29日 【专利技术者】吕晶, 王继平, 胡伟琴 申请人:杭州麦乐克电子科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、171nm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、481nm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕晶，王继平，胡伟琴，
申请(专利权)人：杭州麦乐克电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：