一种Bayer域图像下采样的方法、装置及摄像设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种Bayer域图像下采样方法、装置及摄影设备，下采样方法包括以下步骤：采集一Bayer域图像；对所述Bayer域图像的每一像素点进行插值处理，插值出缺失的另外两通道像素值；对所述插值处理后的Bayer域图像进行下采样处理，得到下采样处理后的Bayer域图像；输出所述下采样处理后的Bayer域图像给后续图像处理单元进行图像处理。通过在图像采集单元与图像处理单元之间设置插值单元和下采样单元，首先利用插值技术，对图像传感器输入的Bayer图像的每一像素点插值出缺失的另外两通道像素值，提高图像采样率；然后对插值的Bayer图像进行下采样，获得目标尺寸的Bayer图像，节省后续图像处理单元的硬件实现成本，同时达到较高的图像质量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种Bayer域图像下采样方法，其特征在于所述方法包括以下步骤：采集一Bayer域图像；对所述Bayer域图像的每一像素点进行插值处理，插值出缺失的另外两通道像素值；对所述插值处理后的Bayer域图像进行下采样处理，得到下采样处理后的Bayer域图像；输出所述下采样处理后的Bayer域图像给后续图像处理单元进行图像处理。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：田景军，党韩兵，詹进，张磊，孙浩，汪中华，
申请(专利权)人：上海富瀚微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：